Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PODŁOŻE KRZEMOWE
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000073913
Tytuł oryginału: Parametry optyczne cienkich warstw krzemionkowych na podłożach krzemowych
Autorzy: E. Skoczek, J. Cisowski, Paweł Karasiński, J. Jaglarz, B. Jarz±bek.
¬ródło: -Mater. Ceram. 2012 R. 64 nr 2, s. 282-285, bibliogr. 11 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 1644-3470
Słowa kluczowe polskie: cienka warstwa krzemowa ; podłoże krzemowe ; porowata krzemionka ; zol-żel ; elipsometria spektroskopowa
Słowa kluczowe angielskie: thin silica film ; silicon substrate ; porous silica ; sol-gel ; spectroscopic ellipsometry
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1906
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000063356
Tytuł oryginału: Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.
Impact Factor: 1.795
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000056438
Tytuł oryginału: Local surface morphology and chemistry of SnO2 thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application
Autorzy: L. Ottaviano, Monika Kwoka, F. Bisti, P. Parisse, V. Grossi, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 22, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 1.727
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; RGTO ; podłoże krzemowe ; stechiometria ; dyfrakcja rentgenowska ; wytrzymało¶ć na zginanie ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO) ; surface morphology ; stoichiometry ; X-ray diffraction ; scanning electron microscopy ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie