Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PARY TESTOWE
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000057268
Tytuł oryginału: An algorithm of the test pairs minimization by means of the incompatibility graph
Tytuł w wersji polskiej: Algorytm minimalizacji par testowych z użyciem grafu niezgodności
Autorzy: Robert Czerwiński, Tomasz Rudnicki.
Źródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2010 vol. 56 nr 6, s. 573-575, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: MISR ; uszkodzenie opóźnieniowe ; testowanie ; pary testowe
Słowa kluczowe angielskie: MISR ; delay fault ; two-pattern testing
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/6
Nr opisu: 0000059081
Tytuł oryginału: Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych.
Autorzy: Tomasz Rudnicki.
Źródło: W: Informatyka - sztuka czy rzemiosło. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009, s. 48-50, bibliogr. 10 poz.
Organizator: Uniwersytet Zielonogórski. Instytut Informatyki i Elektroniki, Polskie Towarzystwo Informatyczne. Oddział Wielkopolski
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; uszkodzenie opóźnieniowe ; MISR ; pary testowe
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; delay fault ; MISR ; test pairs
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/6
Nr opisu: 0000049584
Tytuł oryginału: Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych
Autorzy: Tomasz Rudnicki.
Źródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 7, s. 435-437, bibliogr. 10 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: uszkodzenie opóźnieniowe ; rejestr MISR ; pary testowe ; generator obrazu kontrolnego
Słowa kluczowe angielskie: delay fault ; MISR ; test pairs ; test pattern generator ; TPG
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


4/6
Nr opisu: 0000029358
Tytuł oryginału: Generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych
Autorzy: Tomasz Rudnicki.
Źródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2007 nr 7, s. 95-97, bibliogr. 3 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: MISR ; pary testowe ; pokrycie uszkodzeń ; CUT ; ROM
Słowa kluczowe angielskie: MISR ; test pairs ; cover of delay faults ; CUT ; ROM
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


5/6
Nr opisu: 0000028977
Tytuł oryginału: Test pattern generator for delay faults
Autorzy: Tomasz Rudnicki, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: -Theor. Appl. Informat. 2007 vol. 19 no. 1, s. 19-36, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 1896-5334
Słowa kluczowe polskie: uszkodzenie opóźnieniowe ; pary testowe ; MISR ; pamięć tylko do odczytu ; generator obrazu kontrolnego ; generator par testowych
Słowa kluczowe angielskie: delay fault ; test pairs ; MISR ; Read-Only Memory ; test pattern generator ; ROM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.4405
Dostęp on-line:


6/6
Nr opisu: 0000023173
Tytuł oryginału: Generatory par testowych dla układów cyfrowych. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Tomasz Rudnicki.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2006
Uczelnia i wydział: Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: dr hab. inż. Andrzej** Hławiczka
Słowa kluczowe polskie: generator tekstu ; uszkodzenie opóźnieniowe ; układ scalony ; liniowy rejestr liczący ; układ cyfrowy ; pary testowe
Słowa kluczowe angielskie: text generator ; delay fault ; integrated circuit ; line numbering register ; digital circuit ; two-pattern testing
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. Cz.Ab. R-4155
Dostęp BCPŚ:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie