Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PARAMETRY STATYSTYCZNE
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000094229
Tytuł oryginału: Statistical approach to fault diagnosis of electrical circuits.
Tytuł w wersji polskiej: Statystyczne podejście do diagnostyki układów elektrycznych
Autorzy: Jan Machniewski, Lucjan** Karwan.
Źródło: W: XXXVI Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów. IC-SPETO 2013, Gliwice - Ustroń, 22-25.05.2013 = 36th International Conference on Fundamentals of Electrotechnics and Circuit Theory. Instytut Elektrotechniki i Informatyki Politechniki Śląskiej, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów Informatyczno-Pomiarowych Politechniki Warszawskiej, Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej PTETiS. Oddział Gliwice-Opole. Gliwice : [Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Przemysłowej. Politechnika Śląska], 2013, s. 95-96, bibliogr. 5 poz.
ISBN: 978-83-85940-35-7
Uwagi: Toż na CD-ROM
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,1
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka błędów ; parametry statystyczne ; wrażliwość
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; statistical parameters ; sensitivity
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie