Wynik wyszukiwania
Zapytanie: OBWÓD ANALOGOWY
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000124318
Tytuł oryginału: Analog circuit specification testing by means of Walsh-Hadamard transform and multiple regression supported by evolutionary computations
Autorzy: Tomasz Golonek, Jan Machniewski.
Źródło: -Circuits Systems Signal Process. 2018 vol. 37 iss. 7, s. 2736-2771, bibliogr. 35 poz.
Impact Factor: 1.922
Punktacja MNiSW: 25.000
p-ISSN: 0278-081X
e-ISSN: 1531-5878
DOI:
Słowa kluczowe polskie: obwód analogowy ; testowanie sterowane specyfikacją ; programowanie genetyczne ; regresja wielokrotna
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; specification driven testing ; genetic programming ; multiple regression
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: CC-BY open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000111647
Tytuł oryginału: Analog circuits specifications testing by means of fast fourier transformation.
Autorzy: Tomasz Golonek.
Źródło: W: 2016 International Conference on Signals and Electronic Systems (ICSES), Kraków, Poland, 5-7 September 2016. Eds.: Witold Machowski and Jacek Stępień. Piscataway : IEEE, 2016, s. 13-18, bibliogr. 12 poz.
ISBN: 978-1-5090-2667-8
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,3
Bazy indeksujące publikację: Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: testowanie ; model matematyczny ; korelacja ; obwód analogowy ; organizacja ; modelowanie komputerowe ; usterka obwodu
Słowa kluczowe angielskie: testing ; mathematical model ; correlation ; analog circuit ; organization ; computational modelling ; circuit fault
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000116526
Tytuł oryginału: Models of modern active devices for effective and always cancelation-free symbolic analysis.
Autorzy: Sławomir Lasota.
Źródło: W: 14th IFAC Conference on Programmable Devices and Embedded Systems. PDES 2016 Brno, Czech Republic, 5-7 October 2016. Ed. by Zdenek Bradac. Amsterdam : Elsevier, 2016, s. 80-85
Seria: (IFAC-PapersOnLine ; vol. 49, iss. 25 2405-8963)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,5
Bazy indeksujące publikację: Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: automatyzacja projektowania ; obwód analogowy ; manipulacja symboliczna ; element patologiczny ; diagram decyzyjny ; dekompozycja hierarchiczna
Słowa kluczowe angielskie: design automation ; analog circuit ; symbolic manipulation ; pathological element ; decision diagram ; hierarchical decomposition ; structural regularity extraction
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie