Wynik wyszukiwania
Zapytanie: MIKROSKOPOWA SIŁA ATOMOWA
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000090820
Tytuł oryginału: Influence of solvent on the surface morphology and optoelectronic properties of a spin coated polymer thin films
Autorzy: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, Magdalena* Szczęsna, Marek Szindler.
¬ródło: -J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2013 vol. 61 iss. 2, s. 302-307, bibliogr. 18 poz.
Punktacja MNiSW: 12.000
p-ISSN: 1734-8412
Słowa kluczowe polskie: MEH-PPV ; spin-powłoka ; spektrometr UV/VIS ; mikroskopowa siła atomowa
Słowa kluczowe angielskie: MEH-PPV ; spin-coating ; spectrometer UV/VIS ; atomic force microscope
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4671
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/4
Nr opisu: 0000082869
Tytuł oryginału: Sol gel TiO2 antireflection coatings for silicon solar cells
Autorzy: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler.
¬ródło: -J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2012 vol. 52 iss. 1, s. 7-14, bibliogr. 18 poz.
Punktacja MNiSW: 8.000
p-ISSN: 1734-8412
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek tytanu ; warstwa antyrefleksyjna ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskop elektronowy skaningowy ; spektroskopia UV-Vis
Słowa kluczowe angielskie: titanium dioxide ; antireflective coating ; atomic force microscope ; scanning electron microscope ; UV-Vis spectroscopy ; silicon solar cell
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4671
Dostęp on-line:


3/4
Nr opisu: 0000067005
Tytuł oryginału: Reconstruction of thin films polyazomethine based on microscopic images
Autorzy: Jan** Weszka, Marek Szindler, Agata ¦liwa, Barbara* Hajduk, J. Jurusik.
¬ródło: -Arch. Mater. Sci. Eng. 2011 vol. 48 nr 1, s. 40-48, bibliogr. 20 poz.
Punktacja MNiSW: 9.000
p-ISSN: 1897-2764
Słowa kluczowe polskie: chemiczne osadzanie z fazy gazowej ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskop elektronowy skaningowy ; oprogramowanie WSxM
Słowa kluczowe angielskie: chemical vapour deposition ; atomic force microscope ; scanning electron microscope ; WSxM software
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4182
Dostęp on-line:


4/4
Nr opisu: 0000057448
Tytuł oryginału: Badania struktury, morfologii powierzchni oraz wła¶ciwo¶ci sensorowych cienkich warstw SnO2
Autorzy: Weronika Izydorczyk, M. Pisarek, Jerzy** Żak.
¬ródło: -Elektronika 2010 R. 51 nr 6, s. 50-53, bibliogr. 13 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: morfologia powierzchni ; dyfraktometria rentgenowska ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskopia AFM ; spektroskopia elektronów Augera ; adsorpcja tlenu
Słowa kluczowe angielskie: surface morphology ; X-ray diffraction ; atomic force microscope ; AFM microscopy ; Auger electron spectroscopy ; oxygen adsorption
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie