Wynik wyszukiwania
Zapytanie: MIKROSKOPIA AFM
Liczba odnalezionych rekordów: 10



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/10
Nr opisu: 0000090831
Tytuł oryginału: Study of thin films for application in photovoltaic cells
Autorzy: Jan** Weszka, Paweł Jarka, J. Jurusik, M. Domański, Magdalena Szindler.
¬ródło: -Arch. Mater. Sci. Eng. 2013 vol. 64 nr 2, s. 182-191, bibliogr. 14 poz.
Punktacja MNiSW: 13.000
p-ISSN: 1897-2764
Słowa kluczowe polskie: MePc:PTCDA ; morfologia warstw cienkich ; mikroskopia AFM ; PVD ; absorbancja
Słowa kluczowe angielskie: MePc:PTCDA ; thin film morphology ; AFM microscopy ; PVD ; absorbance
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/10
Nr opisu: 0000072078
Tytuł oryginału: Badanie morfologii i własno¶ci fizycznych cienkich warstw poliazometin. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Barbara* Hajduk.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2012
Opis fizyczny: , 110 k., bibliogr. 117 poz. + zał.: 75 k. tabl.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Mechaniczny Technologiczny.
Promotor: dr hab. Jan** Weszka
Słowa kluczowe polskie: polimer skoniugowany ; spektroskopia UV-Vis ; FTIR ; mikroskopia AFM
Słowa kluczowe angielskie: conjugated polymer ; UV-Vis spectroscopy ; FTIR ; AFM microscopy
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-4835 + CD


3/10
Nr opisu: 0000082431
Tytuł oryginału: Investigations of morphology and optical properties of thin films of TiOPc/PTCDA donor acceptor couple
Autorzy: Jan** Weszka, Paweł Jarka, B. Hajduk, M. Chwastek-Ogierman.
¬ródło: -J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2012 vol. 55 iss. 2, s. 396-402, bibliogr. 13 poz.
Punktacja MNiSW: 8.000
p-ISSN: 1734-8412
Słowa kluczowe polskie: organiczna warstwa cienka ; parowanie ; system donorowo-akceptorowy ; ftalocyjanina ; PTCDA ; spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM
Słowa kluczowe angielskie: organic thin film ; evaporation ; donor-acceptor system ; phthalocyanine ; PTCDA ; UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4671
Dostęp on-line:


4/10
Nr opisu: 0000082859
Tytuł oryginału: Researches of topography and optical properties of the thin films NiPc/PTCDA donor acceptor couple
Autorzy: Jan** Weszka, Paweł Jarka, M. Chwastek-Ogierman, B. Hajduk.
¬ródło: -J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2012 vol. 53 iss. 2, s. 81-88, bibliogr. 20 poz.
Punktacja MNiSW: 8.000
p-ISSN: 1734-8412
Słowa kluczowe polskie: organiczna warstwa cienka ; parowanie ; system donorowo-akceptorowy ; ftalocyjanina ; PTCDA ; spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM
Słowa kluczowe angielskie: organic thin film ; evaporation ; donor-acceptor system ; phthalocyanine ; PTCDA ; UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4671
Dostęp on-line:


5/10
Nr opisu: 0000067008
Tytuł oryginału: Influence of technological conditions on optical properties and morphology of spin-coated PPI thin films
Autorzy: Małgorzata* Chwastek, Jan** Weszka, J. Jurusik, Barbara* Hajduk, Paweł Jarka.
¬ródło: -Arch. Mater. Sci. Eng. 2011 vol. 48 nr 2, s. 69-76, bibliogr. 23 poz.
Punktacja MNiSW: 9.000
p-ISSN: 1897-2764
Słowa kluczowe polskie: spin-powłoka ; spektroskopia UV-Vis ; spektroskopia IR ; mikroskopia AFM
Słowa kluczowe angielskie: spin-coating ; UV-Vis spectroscopy ; IR spectroscopy ; AFM microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4182
Dostęp on-line:


6/10
Nr opisu: 0000057448
Tytuł oryginału: Badania struktury, morfologii powierzchni oraz wła¶ciwo¶ci sensorowych cienkich warstw SnO2
Autorzy: Weronika Izydorczyk, M. Pisarek, Jerzy** Żak.
¬ródło: -Elektronika 2010 R. 51 nr 6, s. 50-53, bibliogr. 13 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: morfologia powierzchni ; dyfraktometria rentgenowska ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskopia AFM ; spektroskopia elektronów Augera ; adsorpcja tlenu
Słowa kluczowe angielskie: surface morphology ; X-ray diffraction ; atomic force microscope ; AFM microscopy ; Auger electron spectroscopy ; oxygen adsorption
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


7/10
Nr opisu: 0000057804
Tytuł oryginału: Comparing of optical properties and morphology of polyoxadiazoles with CF3 groups
Autorzy: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jurusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
¬ródło: -J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2010 vol. 40 iss. 1, s. 7-14, bibliogr. 19 poz.
p-ISSN: 1734-8412
Słowa kluczowe polskie: spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM ; spektroskopia IR ; metoda spin-coating ; polimer organiczny
Słowa kluczowe angielskie: UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; IR spectroscopy ; spin-coating method ; organic polymer
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.
Dostęp on-line:


8/10
Nr opisu: 0000050227
Tytuł oryginału: Influence of LCVD technological parameters on properties of polyazomethine thin films
Autorzy: Barbara* Hajduk, Jan** Weszka, J. Jurusik.
¬ródło: -J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 36 iss. 1, s. 41-48, bibliogr. 19 poz.
p-ISSN: 1734-8412
Słowa kluczowe polskie: spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM ; chemiczne osadzanie z fazy gazowej ; CVD ; LCVD ; polimer skoniugowany
Słowa kluczowe angielskie: UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; chemical vapour deposition ; CVD ; LCVD ; conjugated polymer
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.
Dostęp on-line:


9/10
Nr opisu: 0000056347
Tytuł oryginału: Predicting properties of PVD and CVD coatings based on fractal quantities describing their surface
Autorzy: Waldemar Kwa¶ny.
¬ródło: -J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 37 iss. 2, s. 125-192, bibliogr. 156 poz.
p-ISSN: 1734-8412
Słowa kluczowe polskie: powłoka cienka ; powłoka gruba ; powłoka PVD ; powłoka CVD ; analiza obrazu ; analiza fraktalna ; analiza rentgenowska ; mikroskopia AFM
Słowa kluczowe angielskie: thin coating ; thick coating ; PVD coating ; CVD coating ; image analysis ; fractal analysis ; X-ray analysis ; AFM microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


10/10
Nr opisu: 0000056361
Tytuł oryginału: Studying of spin-coated oxad-Si properties
Autorzy: Jan** Weszka, Leszek** Dobrzański, Paweł Jarka, J. Jurusik, Barbara* Hajduk, M. Bruma, Jarosław Konieczny, D. Mańkowski.
¬ródło: -J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 37 iss. 2, s. 505-511, bibliogr. 13 poz.
p-ISSN: 1734-8412
Słowa kluczowe polskie: warstwa cienka ; morfologia ; mikroskopia AFM ; metoda spin-coating ; absorbancja ; oxad-Si
Słowa kluczowe angielskie: thin film ; morphology ; AFM microscopy ; spin-coating method ; absorbance ; oxad-Si
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie