Wynik wyszukiwania
Zapytanie: METODA TEST-PER-CLOCK
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000049583
Tytuł oryginału: Skuteczny generator testów dla przesłuchów w połączeniach
Autorzy: Tomasz Rudnicki, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 7, s. 432-434, bibliogr. 14 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: LFSR ; sieć połączeń ; system jednoukładowy ; przesłuchy ; metoda test-per-clock ; BIST
Słowa kluczowe angielskie: LFSR ; interconnection network ; System on Chip ; crosstalks ; test-per-clock method ; BIST
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000031907
Tytuł oryginału: Crosstalk-insensitive method for testing of delay faults in interconnects between cores in SoCs.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, M. Kopeć, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 496-500, bibliogr. 10 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie: test połączeń ; uszkodzenie opóźnieniowe ; przesłuch ; lokalizacja uszkodzeń ; identyfikacja uszkodzeń ; metoda test-per-clock
Słowa kluczowe angielskie: interconnect test ; delay fault ; crosstalk ; fault location ; fault identification ; test-per-clock method
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000012262
Tytuł oryginału: Test-per-clock logic BIST with semi-deterministic test patterns and zero-aliasing compactor
Autorzy: O. Novak, Z. Pliva, J. Nosek, Andrzej** Hławiczka, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa.
Źródło: -J. Electron. Test. 2004 vol. 20 no. 1, s. 109-122, bibliogr. 24 poz.
Impact Factor: 0.480
p-ISSN: 0923-8174
e-ISSN: 1573-0727
DOI:
Słowa kluczowe polskie: wbudowane samotestowanie ; metoda test-per-clock ; kompresja obrazu testowego
Słowa kluczowe angielskie: built-in self test ; test-per-clock method ; test pattern compression
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie