Wynik wyszukiwania
Zapytanie: GLOBALNE USZKODZENIE PARAMETRYCZNE
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000043102
Tytuł oryginału: Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
Źródło: -Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 122-125, bibliogr. 11 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; testowanie ; globalne uszkodzenie parametryczne ; diagnostyka uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: analog integrated circuit ; testing ; global parametric fault ; fault diagnosis
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie