Wynik wyszukiwania
Zapytanie: FTALOCYJANINA MIEDZI
Liczba odnalezionych rekordów: 9



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/9
Nr opisu: 0000089658
Tytuł oryginału: Surface states and space charge layer electronic parameters specification for long term air-exposed copper phthalocyanine thin films
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Maciej Krzywiecki.
¬ródło: -Thin Solid Films 2014 vol. 550, s. 361-366, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 1.759
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; wła¶ciwo¶ci elektronowe powierzchni ; wydajno¶ć kwantowa fotoemisji ; dipol powierzchni ; efekt dipola
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface electronic properties ; photoemission yield spectroscopy ; surface dipole ; dipole effect
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


2/9
Nr opisu: 0000077214
Tytuł oryginału: Bi-layer nanostructures of CuPc and Pd for resistance-type and SAW-type hydrogen gas sensors
Autorzy: Wiesław Jakubik, Maciej Krzywiecki, Erwin Maciak, Marian** Urbańczyk.
¬ródło: -Sens. Actuators, B Chem. 2012 vol. 175, s. 255-262, bibliogr. 31 poz.
Impact Factor: 3.535
Punktacja MNiSW: 40.000
p-ISSN: 0925-4005
e-ISSN: 1873-3077
DOI:
Słowa kluczowe polskie: nanostruktura ; czujnik SAW ; czujnik rezystancyjny ; ftalocyjanina miedzi ; pallad ; wodór
Słowa kluczowe angielskie: nanostructure ; SAW sensor ; resistance sensor ; copper phthalocyanine ; palladium ; hydrogen
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/9
Nr opisu: 0000084384
Tytuł oryginału: The optoelectronic ammonia gas sensor system based on Pd/CuPc interferometric nanostructures.
Autorzy: Erwin Maciak, Tadeusz Pustelny, Zbigniew Opilski.
¬ródło: W: Eurosensors 2012. 26th European Conference on Solid-State Transducers, Kraków, Poland, September 9-12, 2012. Eds: R. Walczak, J. Dziuban. Amsterdam : Elsevier, 2012, s. 738-741, bibliogr. 5 poz.
Seria: (Procedia Engineering ; vol. 47 1877-7058)
DOI:
Słowa kluczowe polskie: ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; nanostruktura wielowarstwowa
Słowa kluczowe angielskie: copper phthalocyanine ; thin film ; multi-layered nanostructure
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/9
Nr opisu: 0000077215
Tytuł oryginału: Comparative study of surface morphology of copper phthalocyanine ultra thin films deposited on Si (111) native and RCA-cleaned substrates
Autorzy: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grz±dziel, Jerzy Bodzenta, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2012 vol. 520 iss. 11, s. 3965-3970, bibliogr. 35 poz.
Impact Factor: 1.890
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; obróbka RCA
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy ; RCA treatment ; silicon native substrate
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


5/9
Nr opisu: 0000063754
Tytuł oryginału: Influence of ambient air exposure on surface chemistry and electronic properties of thin copper phthalocyanine sensing layers
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Maciej Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2011 vol. 519 iss. 7, s. 2187-2192, bibliogr. 41 poz.
Impact Factor: 1.890
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; wła¶ciwo¶ci elektroniczne ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; spektroskopia fotoelektronów w nadfiolecie
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; electronic properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; ultraviolet photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


6/9
Nr opisu: 0000056850
Tytuł oryginału: Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates
Autorzy: Maciej Krzywiecki, L. Ottaviano, Lucyna Grz±dziel, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 5, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; wła¶ciwo¶ci powierzchniowe ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; mikroskopia sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


7/9
Nr opisu: 0000048128
Tytuł oryginału: XPS study of air exposed copper phthalocyanine ultra-thin films deposited on Si(111) native substrates
Autorzy: Maciej Krzywiecki, L. Grzadziel, L. Ottaviano, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Mater. Sci. Pol. 2008 vol. 26 no. 2, s. 287-294, bibliogr. 21 poz.
Impact Factor: 0.368
p-ISSN: 2083-1331
e-ISSN: 2083-134X
Słowa kluczowe polskie: ftalocyjanina miedzi ; CuPc ; warstwa cienka ; chemia powierzchni
Słowa kluczowe angielskie: copper phthalocyanine ; CuPc ; thin film ; surface chemistry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4054
Dostęp on-line:


8/9
Nr opisu: 0000123726
Tytuł oryginału: On the correlation between morphology and electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Jerzy** Żak, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2003 vol. 436 iss. 1, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.
Uwagi: Referat wygłoszony na: 3rd International Seminar on Semiconductor Gas Sensors. SGS'2002, Ustroń, Poland, 19-22 September 2002
Impact Factor: 1.598
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: ftalocyjanina miedzi ; cienka powłoka ; fotoemisja ; mikroskop sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: copper phthalocyanine ; thin film ; photoemission ; atomic force microscope
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


9/9
Nr opisu: 0000011696
Tytuł oryginału: On the correlation between the morphology and the electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Jerzy** Żak, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2003 vol. 436 iss. 1, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.
Impact Factor: 1.598
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; fotoemisja ; mikroskop sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: copper phthalocyanine ; thin film ; photoemission ; atomic force microscope
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie