Wynik wyszukiwania
Zapytanie: DOMIESZKOWANIE AG
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000096259
Tytuł oryginału: XPS, TDS, and AFM studies of surface chemistry and morphology of Ag-covered L-CVD SnO2 nanolayers
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Piotr* Kościelniak, Jacek Szuber.
Źródło: -Nanoscale Res. Lett. 2014 vol. 9 iss. 1, s. 1-6, bibliogr. 13 poz.
Impact Factor: 2.779
Punktacja MNiSW: 35.000
p-ISSN: 1931-7573
e-ISSN: 1556-276X
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; SnO2 ; powłoki cienkie L-CVD ; domieszkowanie Ag ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; TDS ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; SnO2 ; L-CVD thin films ; Ag-doping ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; TDS ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: CC-BY
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000047687
Tytuł oryginału: XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO2 thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
Źródło: -Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz.
Impact Factor: 1.576
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; domieszkowanie Ag ; XPS ; chemia powierzchni ; profilowanie głębokościowe
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; Ag-doping ; XPS ; surface chemistry ; depth profiling
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie