Wynik wyszukiwania
Zapytanie: CIENKA POWŁOKA L-CVD
Liczba odnalezionych rekordów: 5



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/5
Nr opisu: 0000082832
Tytuł oryginału: Photoemission studies of the surface electronic properties of L-CVD SnO2 ultra thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2012 vol. 258 iss. 21, s. 8425-8429, bibliogr. 30 poz.
Impact Factor: 2.112
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: cienka powłoka L-CVD ; poziom Fermiego ; dwutlenek cyny
Słowa kluczowe angielskie: L-CVD thin film ; Fermi level ; tin dioxide
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


2/5
Nr opisu: 0000063356
Tytuł oryginału: Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.
Impact Factor: 1.795
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/5
Nr opisu: 0000047687
Tytuł oryginału: XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO2 thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz.
Impact Factor: 1.576
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; domieszkowanie Ag ; XPS ; chemia powierzchni ; profilowanie głęboko¶ciowe
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; Ag-doping ; XPS ; surface chemistry ; depth profiling
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/5
Nr opisu: 0000039992
Tytuł oryginału: AFM study of the surface morphology of L-CVD SnO2 thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2007 vol. 515 iss. 23, s. 8328-8331, bibliogr. 14 poz.
Impact Factor: 1.693
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; mikroskopia sił atomowych ; morfologia powierzchni
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; atomic force microscopy ; surface morphology
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


5/5
Nr opisu: 0000036413
Tytuł oryginału: Studies of surface properties of L-CVD SnO2 thin films. Rozprawa doktorska.
Tytuł w wersji polskiej: Badania własno¶ci powierzchni cienkich warstw L-CVD SnO2
Autorzy: Monika Kwoka.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2007
Opis fizyczny: , 128 k., bibliogr. 84 poz. + zał.: 46 k.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Matematyczno-Fizyczny.
Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek Szuber
Słowa kluczowe polskie: cienka warstwa SnO2 ; cienka powłoka L-CVD ; dwutlenek cyny ; spektroskopia fotoelektronowa ; mikroskopia sił atomowych ; chemia powierzchni ; własno¶ci elektronowe ; morfologia powierzchni ; osadzanie
Słowa kluczowe angielskie: SnO2 thin film ; L-CVD thin film ; tin dioxide ; photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy ; surface chemistry ; electronic properties ; surface morphology ; deposition
Typ publikacji: D
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-4361, R-4362
Dostęp BCP¦:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie