Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ANALOGOWY UKŁAD SCALONY
Liczba odnalezionych rekordów: 10



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/10
Nr opisu: 0000082465
Tytuł oryginału: Evolutionary algorithms for global parametric fault diagnosis in analogue integrated circuits
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2012 vol. 60 no. 1, s. 133-142, bibliogr. 38 poz.
Impact Factor: 0.980
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0239-7528
e-ISSN: 0239-7528
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; diagnozowanie usterek ; lokalizacja ; identyfikacja ; algorytm ewolucyjny
Słowa kluczowe angielskie: analogue integrated circuit ; fault diagnosis ; localization ; identification ; evolutionary algorithm
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1277
Dostęp on-line:


2/10
Nr opisu: 0000059491
Tytuł oryginału: Diagnostyka analogowych układów scalonych metod± monitorowania pr±du zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 17-20, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: genotyp ; populacja ; reprodukcja ; krzyżowanie ; mutacja ; diagnostyka ; analogowy układ scalony
Słowa kluczowe angielskie: genotype ; population ; reproduction ; crossover ; mutation ; diagnosis ; analog integrated circuit
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


3/10
Nr opisu: 0000082627
Tytuł oryginału: Diagnostyka analogowych układów scalonych metod± monitorowania pr±du zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziewi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010, s. 48
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: genotyp ; populacja ; reprodukcja ; krzyżowanie ; mutacja ; diagnostyka ; analogowy układ scalony
Słowa kluczowe angielskie: genotype ; population ; reproduction ; crossover ; mutation ; diagnosis ; analog integrated circuit
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


4/10
Nr opisu: 0000070254
Tytuł oryginału: Diagnostyka globalnych uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach scalonych.
Autorzy: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziewi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010, s. 45
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; algorytm ewolucyjny ; diagnostyka
Słowa kluczowe angielskie: analog integrated circuit ; evolutionary algorithm ; diagnostics
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


5/10
Nr opisu: 0000056513
Tytuł oryginału: A global parametric faults diagnosis with the use of artificial neural networks.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 651-654, bibliogr. 11 poz.
Organizator: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Słowa kluczowe polskie: sztuczna sieć neuronowa ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ scalony
Słowa kluczowe angielskie: artificial neural network ; fault diagnosis ; analog integrated circuit
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


6/10
Nr opisu: 0000056441
Tytuł oryginału: Global parametric faults identification with the use of differential evolution.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 222-225, bibliogr. 10 poz.
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; diagnostyka uszkodzeń ; wzmacniacz operacyjny
Słowa kluczowe angielskie: analog integrated circuit ; fault diagnosis ; operational amplifier
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


7/10
Nr opisu: 0000043102
Tytuł oryginału: Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 122-125, bibliogr. 11 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; testowanie ; globalne uszkodzenie parametryczne ; diagnostyka uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: analog integrated circuit ; testing ; global parametric fault ; fault diagnosis
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


8/10
Nr opisu: 0000038044
Tytuł oryginału: Heuristic methods to test frequencies optimization for analogue circuits diagnosis
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2008 vol. 56 no. 1, s. 29-38, bibliogr. 20 poz.
p-ISSN: 0239-7528
e-ISSN: 0239-7528
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; analogowy układ scalony ; logika rozmyta ; ekspresja genów ; algorytm genetyczny ; wyżarzanie
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; analog integrated circuit ; fuzzy logic ; gene expression ; genetic algorithm ; annealing
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1277
Dostęp on-line:


9/10
Nr opisu: 0000048020
Tytuł oryginału: The influence of global parametric faults on analogue electronic circuits time domain response features.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 299-303, bibliogr. 8 poz.
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; analiza w dziedzinie czasu ; diagnostyka błędów
Słowa kluczowe angielskie: analog integrated circuit ; time domain analysis ; fault diagnosis
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


10/10
Nr opisu: 0000019838
Tytuł oryginału: A 2.4-GHz RF sampling receiver front-end in 0.18-μm CMOS
Autorzy: D. Jakonis, K. Folkesson, Jerzy** D±browski, P. Eriksson, C. Svensson.
¬ródło: -IEEE J. Solid-State Circuits 2005 vol. 40 iss. 6, s. 1265-1277, bibliogr. 27 poz.
Impact Factor: 1.969
p-ISSN: 0018-9200
e-ISSN: 1558-173X
Słowa kluczowe polskie: filtr ¶rodkowo-przepustowy ; układ scalony CMOS ; analogowy układ scalony ; mikser ; odbiornik radiowy ; układ próbkuj±cy-pamiętaj±cy ; kondensator przeł±czany
Słowa kluczowe angielskie: bandpass filter ; CMOS integrated circuit ; analog integrated circuit ; mixer ; radio receiver ; sample and hold circuit ; switched capacitor
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie