Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ANALOGOWY UKŁAD ELEKTRONICZNY
Liczba odnalezionych rekordów: 25



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/25
Nr opisu: 0000074609
Tytuł oryginału: Hybrydowe metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych. Wybrane zagadnienia.
Tytuł w wersji angielskiej: Hybrid methods for testing and diagnosis of analog electronic circuits Selected problems
Autorzy: Damian Grzechca.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 2012
Opis fizyczny: , 166 s., bibliogr. 169 poz.
Seria: (Monografia ; [Politechnika ¦l±ska] nr 395)
Uwagi: Rozprawa habilitacyjna
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka ; metoda hybrydowa ; testowanie układu analogowego
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; diagnostics ; hybrid method ; analogue circuit testing
Typ publikacji: M
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.
Dostęp BCP¦:


2/25
Nr opisu: 0000082690
Tytuł oryginału: Zastosowanie transformaty Walsha-Hadamarda do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos.
¬ródło: W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 64
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; transformata Walsha-Hadamarda ; korelacja Pearsona ; regresja liniowa
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; analog circuit diagnosis ; Walsh-Hadamard transform ; Pearson correlation ; linear regression
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


3/25
Nr opisu: 0000071521
Tytuł oryginału: A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 110-113, bibliogr. 15 poz.
Impact Factor: 0.244
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analogue electronic circuit ; artificial neural network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


4/25
Nr opisu: 0000081583
Tytuł oryginału: An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 485-489
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; testowanie funkcjonalne ; czas odpowiedzi
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronic circuits ; functional testing ; response time
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


5/25
Nr opisu: 0000071513
Tytuł oryginału: Soft fault clustering in analog electronic circuits with the use of self organizing neural network
Autorzy: Damian Grzechca.
¬ródło: -Metrol. Meas. Syst. 2011 vol. 18 nr 4, s. 555-568, bibliogr. 46 poz.
Impact Factor: 0.764
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 0860-8229
Słowa kluczowe polskie: wykrywanie uszkodzeń ; uszkodzenia parametryczne ; analogowy układ elektroniczny ; samoorganizuj±ca się sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: fault detection ; parametric faults ; analogue electronic circuit ; self-organizing neural network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4407
Dostęp on-line:


6/25
Nr opisu: 0000082610
Tytuł oryginału: Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego.
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 231
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analog electronic circuit ; artificial neural network
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


7/25
Nr opisu: 0000082611
Tytuł oryginału: Zastosowanie pobudzenia pasmowego do testowania analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 232
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; testowanie układu analogowego ; obliczenia ewolucyjne ; gęsto¶ć widmowa ; szereg Fouriera
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; analogue circuit testing ; evolutionary computations ; spectral density ; Fourier series
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


8/25
Nr opisu: 0000062779
Tytuł oryginału: Generacja cykli fundamentalnych metod± dynamicznego budowania drzewa grafu
Autorzy: Andrzej Pułka, Ł. Golly.
¬ródło: -Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 75-77, bibliogr. 9 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: teoria grafów ; teoria obwodów ; analiza symboliczna ; analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie: graph theory ; circuit theory ; symbolic analysis ; analog electronic circuit
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


9/25
Nr opisu: 0000056515
Tytuł oryginału: Faults classification in analog electronic circuits with use of the SVM algorithm.
Autorzy: Damian Grzechca, S. Czeczótka.
¬ródło: W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 659-662, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; SVM ; Maszyna Wektorów No¶nych
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; SVM ; Support Vector Machine
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


10/25
Nr opisu: 0000052106
Tytuł oryginału: Wykorzystanie algorytmu PSO w diagnostyce analogowych układów elektronicznych
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
¬ródło: -Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 57-59, bibliogr. 5 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: optymalizacja rojem cz±stek ; PSO ; analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie: particle swarm optimization ; PSO ; analog electronic circuit
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


11/25
Nr opisu: 0000038044
Tytuł oryginału: Heuristic methods to test frequencies optimization for analogue circuits diagnosis
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2008 vol. 56 no. 1, s. 29-38, bibliogr. 20 poz.
p-ISSN: 0239-7528
e-ISSN: 0239-7528
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; analogowy układ scalony ; logika rozmyta ; ekspresja genów ; algorytm genetyczny ; wyżarzanie
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; analog integrated circuit ; fuzzy logic ; gene expression ; genetic algorithm ; annealing
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1277
Dostęp on-line:


12/25
Nr opisu: 0000032119
Tytuł oryginału: Ewolucyjny dobór częstotliwo¶ci sygnałów testuj±cych z rozmyt± inicjalizacj± systemu.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 72-75, bibliogr. 12 poz.
Seria: (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; optymalna częstotliwo¶ć
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; optimal frequency
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


13/25
Nr opisu: 0000032118
Tytuł oryginału: Ewolucyjny projektant filtrów.
Autorzy: Tomasz Golonek, S. Fedrizzi, Damian Grzechca.
¬ródło: W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 58-61, bibliogr. 10 poz.
Seria: (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; ewolucyjny system optymalizacji
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; evolutionary optimization system
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


14/25
Nr opisu: 0000031567
Tytuł oryginału: Finding of optimal excitation signal for testing of analog electric circuits
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2007 vol. 55 no. 3, s. 273-280, bibliogr. 5 poz.
p-ISSN: 0239-7528
e-ISSN: 0239-7528
Słowa kluczowe polskie: wykrywanie uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ elektroniczny ; transformata falkowa ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: fault detection ; fault location ; fault diagnosis ; analog electronic circuit ; wavelet transform ; genetic algorithm
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1277
Dostęp on-line:


15/25
Nr opisu: 0000031908
Tytuł oryginału: Optimal excitation in fault diagnosis of analog electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [ŁódĽ] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 523-528, bibliogr. 4 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; słownik uszkodzeń ; transformata falkowa
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; fault diagnosis ; fault dictionary ; wavelet transform
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


16/25
Nr opisu: 0000031052
Tytuł oryginału: Optymalizacja uzysku analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 125-130, bibliogr. 8 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: optymalizacja uzysku ; analogowy układ elektroniczny ; koszt produkcji ; algorytm genetyczny ; strategia ewolucyjna
Słowa kluczowe angielskie: yield optimization ; analog electronic circuit ; production cost ; genetic algorithm ; evolutionary strategy
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 119357


17/25
Nr opisu: 0000032124
Tytuł oryginału: Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testuj±cego analogowe układy elektroniczne.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 121-124, bibliogr. 5 poz.
Seria: (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie: wyżarzanie symulowane ; analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie: simulated annealing ; analog electronic circuit
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


18/25
Nr opisu: 0000032117
Tytuł oryginału: Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 37-39, bibliogr. 13 poz.
Seria: (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; klasyfikator neuronowy ; sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; neural classifier ; neural network
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


19/25
Nr opisu: 0000031023
Tytuł oryginału: Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 71-76, bibliogr. 13 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; klasyfikator neuronowy ; RBF ; sieć neuronowa ; słownik uszkodzeń ; metoda BKS ; modularna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronic circuit ; analog circuit diagnosis ; neural classifier ; RBF ; neural network ; dictionary of damages ; BKS method ; analog electronic circuit ; modular neural network ; dictionary of faults
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 119357


20/25
Nr opisu: 0000031053
Tytuł oryginału: Zastosowanie programowania wyrażeń genetycznych do wyboru optymalnego zbioru częstotliwo¶ci w diagnostyce analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca.
¬ródło: W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 143-148, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ elektroniczny ; słownik uszkodzeń ; programowanie wyrażeń genetycznych ; algorytm ewolucyjny ; GEP
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; analogue electronic circuit ; dictionary of damages ; gene expression programming ; evolutionary algorithm ; GEP ; analog electronic circuit ; dictionary of faults
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 119357


21/25
Nr opisu: 0000013962
Tytuł oryginału: Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 13-22, bibliogr.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: testowanie ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie: testing ; fault diagnosis ; analog electronic circuit
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


22/25
Nr opisu: 0000013975
Tytuł oryginału: Straty mocy w układach wzmacniaczy klasy G i klasy H - analiza teoretyczna i wnioski.
Autorzy: Adam Kristof.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 235-240, bibliogr. 12 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: wzmacniacz mocy ; straty mocy ; sprawno¶ć energetyczna ; analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie: power amplifier ; power losses ; energetic efficiency ; analog electronic circuit
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


23/25
Nr opisu: 0000013969
Tytuł oryginału: Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do centrowania układów elektronicznych.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Ł. Zieliński.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 145-150, bibliogr. 11 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: centrowanie ; strategia ewolucyjna ; analogowy układ elektroniczny ; optymalizacja
Słowa kluczowe angielskie: centering ; evolutionary strategy ; analog electronic circuit ; optimisation
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


24/25
Nr opisu: 0000018460
Tytuł oryginału: Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
Adres wydawniczy: Warszawa : Wydaw. Komunikacji i Ł±czno¶ci, 2003
Opis fizyczny: , 176 s., bibliogr.
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit
Typ publikacji: M
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


25/25
Nr opisu: 0000013070
Tytuł oryginału: Wykorzystanie sieci neuronowych i technik rozmytych do testowania analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Damian Grzechca.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2003
Opis fizyczny: , 99 s., bibliogr. 44 poz.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; sieć neuronowa ; teoria zbiorów rozmytych ; testowanie analogowych układów elektronicznych
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; fault diagnosis ; neural network ; fuzzy set theory ; analog circuit fault diagnosis
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-3705
Dostęp BCP¦:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie