Wynik wyszukiwania
Zapytanie: RGVO
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000115278
Tytuł oryginału: Impact of air exposure and annealing on the chemical and electronic properties of the surface of SnO2 nanolayers deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation
Autorzy: Monika Kwoka, Maciej Krzywiecki.
¬ródło: -Beilstein J. Nanotechnol. 2017 vol. 8, s. 514-521, bibliogr. 41 poz.
Impact Factor: 2.968
Punktacja MNiSW: 35.000
p-ISSN: 2190-4286
DOI:
Słowa kluczowe polskie: RGVO ; tlenek cyny ; XPS
Słowa kluczowe angielskie: RGVO ; tin oxide ; XPS
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: CC-BY open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL


2/6
Nr opisu: 0000100782
Tytuł oryginału: Rheotaxial growth and vacuum oxidation - novel technique of tin oxide deposition In situ monitoring of oxidation process
Autorzy: Monika Kwoka, Maciej Krzywiecki.
¬ródło: -Mater. Lett. 2015 vol. 154, s. 1-4, bibliogr. 16 poz.
Impact Factor: 2.437
Punktacja MNiSW: 35.000
p-ISSN: 0167-577X
e-ISSN: 1873-4979
DOI:
Słowa kluczowe polskie: SnO2 ; RGVO ; nanowarstwa ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: SnO2 ; RGVO ; nanolayer ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/6
Nr opisu: 0000103131
Tytuł oryginału: XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation after air exposure
Autorzy: Piotr* Ko¶cielniak, A. Grzeszczak, Jacek Szuber.
¬ródło: -Cryst. Res. Technol. 2015 vol. 50 iss. 11, s. 884-890, bibliogr. 30 poz.
Impact Factor: 0.908
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 0232-1300
e-ISSN: 1521-4079
DOI:
Słowa kluczowe polskie: tlenek indu ; In2O3 ; powłoka cienka ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: indium oxide ; In2O3 ; ultrathin film ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/6
Nr opisu: 0000080672
Tytuł oryginału: The effect of Si substrate preparation on surface morphology and surface composition of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation
Autorzy: Piotr* Ko¶cielniak, Michał* Sitarz, Erwin Maciak, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2012 vol. 258 iss. 21, s. 8419-8424, bibliogr. 34 poz.
Impact Factor: 2.112
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: powłoka cienka ; RGVO ; XPS ; AFM ; tlenek indu
Słowa kluczowe angielskie: ultrathin film ; RGVO ; XPS ; AFM ; indium oxide
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


5/6
Nr opisu: 0000071524
Tytuł oryginału: XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation
Autorzy: Piotr* Ko¶cielniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, Ł. Pawela, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.
Impact Factor: 1.890
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: In2O3 ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: In2O3 ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


6/6
Nr opisu: 0000071753
Tytuł oryginału: XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation
Autorzy: Piotr* Ko¶cielniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, L. Pawela, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2010 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.
Impact Factor: 1.935
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: In2O3 ; RGVO ; XPS ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: In2O3 ; RGVO ; XPS ; surface chemistry ; surface morphology ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie