Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ULTRATHIN FILM
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000103131
Tytuł oryginału: XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation after air exposure
Autorzy: Piotr* Kościelniak, A. Grzeszczak, Jacek Szuber.
Źródło: -Cryst. Res. Technol. 2015 vol. 50 iss. 11, s. 884-890, bibliogr. 30 poz.
Impact Factor: 0.908
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 0232-1300
e-ISSN: 1521-4079
DOI:
Słowa kluczowe polskie: tlenek indu ; In2O3 ; powłoka cienka ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: indium oxide ; In2O3 ; ultrathin film ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000080672
Tytuł oryginału: The effect of Si substrate preparation on surface morphology and surface composition of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation
Autorzy: Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Erwin Maciak, Jacek Szuber.
Źródło: -Appl. Surf. Sci. 2012 vol. 258 iss. 21, s. 8419-8424, bibliogr. 34 poz.
Impact Factor: 2.112
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: powłoka cienka ; RGVO ; XPS ; AFM ; tlenek indu
Słowa kluczowe angielskie: ultrathin film ; RGVO ; XPS ; AFM ; indium oxide
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000071525
Tytuł oryginału: X-ray photoelectron spectroscopy and thermal desorption spectroscopy comparative studies of L-CVD SnO2 ultra thin films
Autorzy: Monika Kwoka, Natalia Waczyńska, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Jacek Szuber.
Źródło: -Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 913-917, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 1.890
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; L-CVD ; powłoka cienka ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; profilowanie głębokościowe ; spektroskopia termodesorpcyjna ; chemia powierzchni
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD ; ultrathin film ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; depth profiling ; thermal desorption spectroscopy ; surface chemistry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie