Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TWO-PATTERN TESTING
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000057268
Tytuł oryginału: An algorithm of the test pairs minimization by means of the incompatibility graph
Tytuł w wersji polskiej: Algorytm minimalizacji par testowych z użyciem grafu niezgodności
Autorzy: Robert Czerwiński, Tomasz Rudnicki.
Źródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2010 vol. 56 nr 6, s. 573-575, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: MISR ; uszkodzenie opóźnieniowe ; testowanie ; pary testowe
Słowa kluczowe angielskie: MISR ; delay fault ; two-pattern testing
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000023173
Tytuł oryginału: Generatory par testowych dla układów cyfrowych. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Tomasz Rudnicki.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2006
Uczelnia i wydział: Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: dr hab. inż. Andrzej** Hławiczka
Słowa kluczowe polskie: generator tekstu ; uszkodzenie opóźnieniowe ; układ scalony ; liniowy rejestr liczący ; układ cyfrowy ; pary testowe
Słowa kluczowe angielskie: text generator ; delay fault ; integrated circuit ; line numbering register ; digital circuit ; two-pattern testing
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. Cz.Ab. R-4155
Dostęp BCPŚ:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie