Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TEST PATTERN GENERATOR
Liczba odnalezionych rekordów: 12



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/12
Nr opisu: 0000099068
Tytuł oryginału: New structure of test pattern generator stimulating crosstalks in bus-type connections
Autorzy: Tomasz Garbolino.
¬ródło: -Int. J. Electron. Telecommun. 2015 vol. 61 no. 1, s. 67-75, bibliogr. 38 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0867-6747
DOI:
Słowa kluczowe polskie: zintegrowane poł±czenia obwodu ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; System on Chip
Słowa kluczowe angielskie: integrated circuit interconnections ; crosstalk ; test pattern generator ; built-in self test ; system-on-chip
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/12
Nr opisu: 0000091808
Tytuł oryginału: Designing of test pattern generators for stimulation of crosstalk faults in bus-type connections.
Autorzy: Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: Proceedings of the 2014 IEEE 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS, Warsaw, Poland, April 23-25, 2014. Eds.: Witold Pleskacz, Michel Renovell, Dominik Kasprowicz, Lukas Sekanina, Serge Bernard. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 270-273, bibliogr. 22 poz.
ISBN: 978-1-4799-4558-0
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,2
Bazy indeksuj±ce publikację: Web of Science; Scopus; IEEE Xplore; INSPEC
DOI:
Słowa kluczowe polskie: układ scalony ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; system jednoukładowy ; wbudowane samotestowanie
Słowa kluczowe angielskie: integrated circuit ; crosstalk ; test pattern generator ; System on Chip ; built-in self test
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/12
Nr opisu: 0000081926
Tytuł oryginału: Optimal on-line built-in self-test structure for system-reliability improvement.
Autorzy: G. Papa, Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: IEEE Congress on Evolutionary Computation, New Orleans, June 5-8, 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 222-229, bibliogr. 29 poz.
DOI:
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; algorytm genetyczny ; obwód ; sprzęt komputerowy
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; genetic algorithm ; circuit ; hardware
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/12
Nr opisu: 0000063532
Tytuł oryginału: Genetic algorithm for test pattern generator design Automatic evolution of circuits
Autorzy: Tomasz Garbolino, G. Papa.
¬ródło: -Appl. Intell. 2010 vol. 32 nr 2, s. 193-204, bibliogr. 42 poz.
Impact Factor: 0.893
p-ISSN: 0924-669X
e-ISSN: 1573-7497
Słowa kluczowe polskie: optymalizacja ; algorytm genetyczny ; projekt ; generator obrazu kontrolnego
Słowa kluczowe angielskie: optimization ; genetic algorithm ; design ; test pattern generator
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


5/12
Nr opisu: 0000061262
Tytuł oryginału: Testing of crosstalk-type dynamic faults in interconnection networks with use of ring LFSRs
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2010 R. 86 nr 11a, s. 133-137, bibliogr. 22 poz.
Impact Factor: 0.242
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: liniowy rejestr pier¶cieniowy ; generator obrazu kontrolnego ; system jednoukładowy ; przesłuchy ; sieć poł±czeń
Słowa kluczowe angielskie: linear ring register ; test pattern generator ; System on Chip ; crosstalks ; interconnection network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


6/12
Nr opisu: 0000050838
Tytuł oryginału: Testowanie dynamicznych uszkodzeń typu przesłuchy w sieciach poł±czeń przy użyciu rejestrów pier¶cieniowych R-LFSR
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino.
¬ródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 8, s. 572-574, bibliogr. 8 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; liniowy rejestr pier¶cieniowy ; przesłuchy ; sieć poł±czeń ; BIST ; LFSR ; R-LFSR
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; linear ring register ; crosstalks ; interconnection network ; BIST ; LFSR ; R-LFSR
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


7/12
Nr opisu: 0000059081
Tytuł oryginału: Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóĽnieniowych.
Autorzy: Tomasz Rudnicki.
¬ródło: W: Informatyka - sztuka czy rzemiosło. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009, s. 48-50, bibliogr. 10 poz.
Organizator: Uniwersytet Zielonogórski. Instytut Informatyki i Elektroniki, Polskie Towarzystwo Informatyczne. Oddział Wielkopolski
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; uszkodzenie opóĽnieniowe ; MISR ; pary testowe
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; delay fault ; MISR ; test pairs
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


8/12
Nr opisu: 0000049584
Tytuł oryginału: Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóĽnieniowych
Autorzy: Tomasz Rudnicki.
¬ródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 7, s. 435-437, bibliogr. 10 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: uszkodzenie opóĽnieniowe ; rejestr MISR ; pary testowe ; generator obrazu kontrolnego
Słowa kluczowe angielskie: delay fault ; MISR ; test pairs ; test pattern generator ; TPG
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


9/12
Nr opisu: 0000028977
Tytuł oryginału: Test pattern generator for delay faults
Autorzy: Tomasz Rudnicki, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: -Theor. Appl. Informat. 2007 vol. 19 no. 1, s. 19-36, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 1896-5334
Słowa kluczowe polskie: uszkodzenie opóĽnieniowe ; pary testowe ; MISR ; pamięć tylko do odczytu ; generator obrazu kontrolnego ; generator par testowych
Słowa kluczowe angielskie: delay fault ; test pairs ; MISR ; Read-Only Memory ; test pattern generator ; ROM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4405
Dostęp on-line:


10/12
Nr opisu: 0000014398
Tytuł oryginału: On detection of interconnect faults by a MISR compactor - unknown problems and new solutions
Tytuł w wersji polskiej: Wykrywanie uszkodzeń w poł±czeniach przez rejestr MISR - nieznane problemy i nowe rozwi±zania
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: -Arch. Informat. Teor. Stosow. 2005 t. 17 z. 2, s. 109-126, bibliogr. 19 poz.
p-ISSN: 0867-2121
Słowa kluczowe polskie: BIST ; generator obrazu kontrolnego ; MISR
Słowa kluczowe angielskie: BIST ; test pattern generator ; MISR
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4405


11/12
Nr opisu: 0000098366
Tytuł oryginału: Integration of a long pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems. PDS 2003, Ostrava, Czech Republik, February 11th-13th, 2003. Preprints. Ostrava : VSB - Technicka univerzita Ostrava, 2003, s. 441-446, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Department of Measurement and Control. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. VSB - Technical University of Ostrava. Czech Republic, Institute of Electronics. Silesian Technical University. Gliwice. Poland
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; ¶cieżka skanowania ; skanowanie w trybie quasi ; przerzutnik
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; built-in self test ; scan path ; quasi-scan mode ; flip-flop
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


12/12
Nr opisu: 0000006309
Tytuł oryginału: Integration of a long test pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Programmable devices and systems 2003. (PDS 2003). A proceedings volume from the 6th IFAC Workshop, Ostrava, Czech Republik, 11-13 February 2003. Ed. by: V. Srovnal, K. Vlcek. Oxford : Pergamon Press, 2003, s. 281-286, bibliogr. 7 poz.
ISBN: 008 044130 0
Organizator: Department of Measurement and Control. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. VSB Technical University of Ostrava. Czech Republik
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; ¶cieżka skanowania ; skanowanie w trybie quasi ; przerzutnik bistabilny typu T
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; built-in self test ; scan path ; quasi-scan mode ; T-type flip-flop
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. B. zak. Au3 9644


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie