Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SYSTEM-ON-CHIP
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000124788
Tytuł oryginału: A method to support diagnostics of dynamic faults in networks of interconnections
Autorzy: Tomasz Garbolino.
Źródło: -Int. J. Electron. Telecommun. 2018 vol. 64 nr 3, s. 407-420, bibliogr. 20 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 2081-8491
e-ISSN: 2300-1933
DOI:
Słowa kluczowe polskie: sieć połączeń ; system-on-chip ; diagnostyka ; MISR ; kompakcja ; sygnatura ; chińskie twierdzenie o resztach
Słowa kluczowe angielskie: network of interconnections ; system-on-chip ; diagnostics ; MISR ; compaction ; signature ; Chinese Remainder Theorem
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: OTHER open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000117924
Tytuł oryginału: Testowanie i diagnostyka połączeń między modułami cyfrowymi w systemach scalonych. Wybrane zagadnienia.
Tytuł w wersji angielskiej: Testing and diagnostics of interconnections between digital cores of systems-on-chip selected issues
Autorzy: Tomasz Garbolino.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2017
Opis fizyczny: , 262 s., bibliogr. 242 poz.
ISBN: 978-83-7880-463-5
Seria: (Monografia ; [Politechnika Śląska] nr 659)
Liczba arkuszy wydawniczych: 16,5
Słowa kluczowe polskie: System on Chip ; uszkodzenia połączeń ; testowanie połączeń ; diagnostyka uszkodzeń ; liniowy rejestr pierścieniowy
Słowa kluczowe angielskie: system-on-chip ; faults of interconnections ; interconnection testing ; fault diagnosis ; ring LFSR
Typ publikacji: M
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


3/3
Nr opisu: 0000099068
Tytuł oryginału: New structure of test pattern generator stimulating crosstalks in bus-type connections
Autorzy: Tomasz Garbolino.
Źródło: -Int. J. Electron. Telecommun. 2015 vol. 61 no. 1, s. 67-75, bibliogr. 38 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0867-6747
DOI:
Słowa kluczowe polskie: zintegrowane połączenia obwodu ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; System on Chip
Słowa kluczowe angielskie: integrated circuit interconnections ; crosstalk ; test pattern generator ; built-in self test ; system-on-chip
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie