Wynik wyszukiwania
Zapytanie: STOICHIOMETRY
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000126677
Tytuł oryginału: Stechiometryczny równowagowy model zgazowania osadów ¶ciekowych z wykorzystaniem powietrza atmosferycznego
Tytuł w wersji angielskiej: Stoichometric equilibrium model of sewage sludge gasification with athmospheric air
Autorzy: Danuta Król, Grzegorz* Gałko.
¬ródło: -Przem. Chem. 2018 t. 97 nr 10, s. 1698-1702, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 0.428
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0033-2496
e-ISSN: 2449-9951
DOI:
Słowa kluczowe polskie: osad ¶ciekowy ; stechiometria ; zgazowanie
Słowa kluczowe angielskie: sewage sludge ; stoichiometry ; gasification
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.707
Dostęp on-line:


2/4
Nr opisu: 0000082099
Tytuł oryginału: Optymalizacja technologii RGTO osadzania bardzo cienkich warstw wybranych przezroczystych tlenków przewodz±cych.
Autorzy: Jacek Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Ko¶cielniak.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 131
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: tlenek przewodz±cy ; SnO2 ; In2O3 ; warstwa cienka ; nanowarstwa ; stechiometria ; morfologia powierzchni ; AFM ; XPS ; SEM
Słowa kluczowe angielskie: conductive oxide ; SnO2 ; In2O3 ; thin film ; nanolayer ; stoichiometry ; surface morphology ; AFM ; XPS ; SEM
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


3/4
Nr opisu: 0000056438
Tytuł oryginału: Local surface morphology and chemistry of SnO2 thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application
Autorzy: L. Ottaviano, Monika Kwoka, F. Bisti, P. Parisse, V. Grossi, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 22, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 1.727
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; RGTO ; podłoże krzemowe ; stechiometria ; dyfrakcja rentgenowska ; wytrzymało¶ć na zginanie ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO) ; surface morphology ; stoichiometry ; X-ray diffraction ; scanning electron microscopy ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/4
Nr opisu: 0000054489
Tytuł oryginału: Obliczeniowe zagadnienia inżynierii reaktorów chemicznych.
Autorzy: Michał** Palica, A. Burghardt.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 2009
Opis fizyczny: , 368 s.
Uwagi: Skrypt nr 2435
Słowa kluczowe polskie: reaktor chemiczny ; reaktor izotermiczny ; reakcja chemiczna ; stechiometria ; statyka chemiczna
Słowa kluczowe angielskie: chemical reactor ; isothermal reactor ; chemical reaction ; stoichiometry ; chemical statics
Typ publikacji: P
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie