Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY
Liczba odnalezionych rekordów: 9



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/9
Nr opisu: 0000128475
Tytuł oryginału: Badanie rozkładu grubo¶ci powierzchni cienkich warstw metod± elipsometrii spektroskopowej spektroskopowej
Autorzy: B. Hajduk, Paweł Jarka, P. Nitschke.
¬ródło: -LAB Laboratoria Apar. Bad. 2019 nr 1, s. 6-8, bibliogr. 3 poz.
p-ISSN: 1427-5619
Słowa kluczowe polskie: elipsometria spektroskopowa ; mapowanie powierzchni ; warstwa cienka
Słowa kluczowe angielskie: spectroscopic ellipsometry ; surface mapping ; thin layer
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


2/9
Nr opisu: 0000122509
Tytuł oryginału: Effect of temperature changes on parameters of the sol-gel derived silica-titania films
Autorzy: J. Nizioł, E. Gondek, Paweł Karasiński.
¬ródło: -Mater. Lett. 2018 vol. 223, s. 102-104, bibliogr. 12 poz.
Impact Factor: 2.687
Punktacja MNiSW: 35.000
p-ISSN: 0167-577X
e-ISSN: 1873-4979
DOI:
Słowa kluczowe polskie: metoda zol-żel ; powłoka krzemionkowo-tytanowa ; elipsometria spektroskopowa ; współczynnik załamania ¶wiatła ; cienka powłoka ; falowód płaski
Słowa kluczowe angielskie: sol-gel method ; silica-titania film ; spectroscopic ellipsometry ; refractive index ; thin film ; slab waveguide
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/9
Nr opisu: 0000126574
Tytuł oryginału: Synthesis, ellipsometry and non-linear optical features of substituted 1,3,5-triphenylpyrazolines
Autorzy: E. Gondek, J. Nizioł, A. Danel, M. Kucharek, J. Jędryka, Paweł Karasiński, N. Nosidlak, A. A. Fedorchuk.
¬ródło: -Dyes and Pigments 2018 vol. 164, s. 741-745, bibliogr. 31 poz.
Impact Factor: 3.767
Punktacja MNiSW: 40.000
p-ISSN: 0143-7208
e-ISSN: 1873-3743
DOI:
Słowa kluczowe polskie: optyka nieliniowa ; metoda DFT ; elipsometria spektroskopowa ; pirazolina
Słowa kluczowe angielskie: nonlinear optics ; DFT method ; spectroscopic ellipsometry ; pyrazoline
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/9
Nr opisu: 0000108285
Tytuł oryginału: Manufacturing and investigation of physical properties of polyacrylonitrile nanofibre composites with SiO2, TiO2 and Bi2O3 nanoparticles
Autorzy: Tomasz Tański, Wiktor Matysiak, Barbara* Hajduk.
¬ródło: -Beilstein J. Nanotechnol. 2016 vol. 7, s. 1141-1155, bibliogr. 43 poz.
Impact Factor: 3.127
Punktacja MNiSW: 35.000
p-ISSN: 2190-4286
DOI:
Słowa kluczowe polskie: nanocz±stki ceramiczne ; metoda elektroprzędzenia ; poliakrylonitryl ; nanowłóknisty polimer kompozytowy ; elipsometria spektroskopowa
Słowa kluczowe angielskie: ceramic nanoparticles ; electrospinning method ; polyacrylonitrile ; polymer composite nanofibre ; spectroscopic ellipsometry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: CC-BY
Dostęp on-line:


5/9
Nr opisu: 0000103515
Tytuł oryginału: Surface morphology and optical properties of Al2O3 thin films deposited by ALD method
Autorzy: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Magdalena Szindler.
¬ródło: -Arch. Mater. Sci. Eng. 2015 vol. 73 nr 1, s. 18-24, bibliogr. 26 poz.
Punktacja MNiSW: 13.000
p-ISSN: 1897-2764
Słowa kluczowe polskie: powłoka cienka ; tlenek glinu ; mikroskop sił atomowych ; elipsometria spektroskopowa
Słowa kluczowe angielskie: thin film ; aluminium oxide ; atomic force microscope ; spectroscopic ellipsometry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


6/9
Nr opisu: 0000096774
Tytuł oryginału: Sol-gel Al2O3 antireflection coatings for silicon solar cells
Autorzy: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Magdalena Szindler, B. Hajduk.
¬ródło: -Arch. Mater. Sci. Eng. 2014 vol. 67 nr 1, s. 24-31, bibliogr. 25 poz.
Punktacja MNiSW: 13.000
p-ISSN: 1897-2764
Słowa kluczowe polskie: powłoka cienka ; tlenek glinu ; mikroskop sił atomowych ; elipsometria spektroskopowa ; spektroskopia UV-Vis
Słowa kluczowe angielskie: thin film ; aluminium oxide ; atomic force microscope ; spectroscopic ellipsometry ; UV-Vis spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


7/9
Nr opisu: 0000092466
Tytuł oryginału: Thermo-optical properties of 1H[3,4-b] quinoline films used in electroluminescent devices
Autorzy: J. Jaglarz, Mirosława Kępińska, J. Sanetra.
¬ródło: -Opt. Mater. 2014 vol. 36 iss. 8, s. 1275-1280, bibliogr. 26 poz.
Impact Factor: 1.981
Punktacja MNiSW: 35.000
p-ISSN: 0925-3467
e-ISSN: 1873-1252
DOI:
Słowa kluczowe polskie: elipsometria spektroskopowa ; wła¶ciwo¶ci termooptyczne ; warstwa chinoliny
Słowa kluczowe angielskie: spectroscopic ellipsometry ; thermo-optical coefficient ; quinoline film
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


8/9
Nr opisu: 0000073913
Tytuł oryginału: Parametry optyczne cienkich warstw krzemionkowych na podłożach krzemowych
Autorzy: E. Skoczek, J. Cisowski, Paweł Karasiński, J. Jaglarz, B. Jarz±bek.
¬ródło: -Mater. Ceram. 2012 R. 64 nr 2, s. 282-285, bibliogr. 11 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 1644-3470
Słowa kluczowe polskie: cienka warstwa krzemowa ; podłoże krzemowe ; porowata krzemionka ; zol-żel ; elipsometria spektroskopowa
Słowa kluczowe angielskie: thin silica film ; silicon substrate ; porous silica ; sol-gel ; spectroscopic ellipsometry
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1906
Dostęp on-line:


9/9
Nr opisu: 0000063444
Tytuł oryginału: Optical investigations of AlSiSiC composites subjected to laser CO2 annealing
Autorzy: J. Jaglarz, Andrzej Grabowski.
¬ródło: -Opt. Laser Eng. 2010 vol. 48 nr 10, s. 1038-1044, bibliogr. 17 poz.
Impact Factor: 1.576
p-ISSN: 0143-8166
e-ISSN: 1873-0302
Słowa kluczowe polskie: materiały kompozytowe ; odbicie optyczne ; rozproszenie optyczne ; elipsometria spektroskopowa
Słowa kluczowe angielskie: composite materials ; optical reflection ; optical scattering ; spectroscopic ellipsometry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie