Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SPECIFICATION DRIVEN TESTING
Liczba odnalezionych rekordów: 5



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/5
Nr opisu: 0000124318
Tytuł oryginału: Analog circuit specification testing by means of Walsh-Hadamard transform and multiple regression supported by evolutionary computations
Autorzy: Tomasz Golonek, Jan Machniewski.
¬ródło: -Circuits Systems Signal Process. 2018 vol. 37 iss. 7, s. 2736-2771, bibliogr. 35 poz.
Impact Factor: 1.998
Punktacja MNiSW: 25.000
p-ISSN: 0278-081X
e-ISSN: 1531-5878
DOI:
Słowa kluczowe polskie: obwód analogowy ; testowanie sterowane specyfikacj± ; programowanie genetyczne ; regresja wielokrotna
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; specification driven testing ; genetic programming ; multiple regression
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: CC-BY open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


2/5
Nr opisu: 0000124370
Tytuł oryginału: Application of neural network for testing selected specification parameters of voltage-controlled oscillator
Autorzy: Damian Grzechca, Sebastian Temich.
¬ródło: -Int. J. Electron. Telecommun. 2018 vol. 64 nr 2, s. 203-207, bibliogr. 12 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 2081-8491
e-ISSN: 2300-1933
DOI:
Słowa kluczowe polskie: testowanie sterowane specyfikacj± ; oscylator sterowany napięciem ; oscylator pier¶cieniowy ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: specification driven testing ; voltage-controlled oscillator ; ring oscillator ; artificial neural network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: OTHER open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


3/5
Nr opisu: 0000071521
Tytuł oryginału: A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 110-113, bibliogr. 15 poz.
Impact Factor: 0.244
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analogue electronic circuit ; artificial neural network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


4/5
Nr opisu: 0000069623
Tytuł oryginału: An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features
Tytuł w wersji polskiej: Sterowane specyfikacj± testowanie układów analogowych z wykorzystaniem aproksymacji w dziedzinie cech odpowiedzi
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 65-68, bibliogr. 11 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: elektronika analogowa ; układ analogowy ; triangulacja Delaunaya ; testowanie sterowane specyfikacj±
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronics ; analogue circuit ; Delaunay's triangulation ; specification driven testing
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


5/5
Nr opisu: 0000082610
Tytuł oryginału: Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego.
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 231
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analog electronic circuit ; artificial neural network
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie