Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SINGLE FAULT
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000072427
Tytuł oryginału: Fault diagnosis of analog electronic circuits with tolerances in mind. Design for testability with analysis of influence of components tolerance.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk.
Źródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 496-501, bibliogr. 18 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź [et al.]
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; układ analogowy ; wykrywanie uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; uszkodzenie pojedyncze ; uszkodzenie katastroficzne ; redukcja czasu testowania ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; analog circuit ; fault detection ; fault location ; single fault ; catastrophic fault ; test time reduction ; components tolerance ; genetic algorithm
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000072423
Tytuł oryginału: Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk.
Źródło: W: 2011 20th European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), Linkoping, Sweden, 29-31 August 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 881-884, bibliogr. 15 poz.
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; układ analogowy ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; uszkodzenie pojedyncze ; uszkodzenie katastroficzne ; redukcja czasu testowania ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; analogue circuit ; fault detection ; fault location ; single fault ; catastrophic fault ; test time reduction ; components tolerance ; genetic algorithm
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie