Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SCANNING PROBE MICROSCOPY
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000091265
Tytuł oryginału: Badanie z wykorzystaniem mikroskopu z sondą skanującą.
Autorzy: Paweł Jarka, Marcin Staszuk, Tomasz* Gaweł, Tomasz Tański.
Źródło: W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 88-91
ISBN: 978-83-63553-25-8
Seria: (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,20
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia ze skanującą sondą ; mikroskop sił atomowych ; badanie makroskopowe ; ćwiczenia laboratoryjne
Słowa kluczowe angielskie: scanning probe microscopy ; atomic force microscope ; microscopic examination ; laboratory exercises
Typ publikacji: U
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


2/2
Nr opisu: 0000079453
Tytuł oryginału: Skaningowa mikroskopia tunelowa - powierzchniowa metoda badawcza o atomowej rozdzielczości
Autorzy: Jerzy** Żak, P. Ślęczkowski.
Źródło: -Laboratorium 2013 nr 3/4, s. 16-19
Punktacja MNiSW: 2.000
p-ISSN: 1643-7381
Słowa kluczowe polskie: skaningowa mikroskopia tunelowa ; STM ; mikroskopia ze skanującą sondą ; SPM ; nanotechnologia
Słowa kluczowe angielskie: scanning tunneling microscopy ; STM ; scanning probe microscopy ; SPM ; nanotechnology
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie