Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SCAN PATH
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000098366
Tytuł oryginału: Integration of a long pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: W: IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems. PDS 2003, Ostrava, Czech Republik, February 11th-13th, 2003. Preprints. Ostrava : VSB - Technicka univerzita Ostrava, 2003, s. 441-446, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Department of Measurement and Control. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. VSB - Technical University of Ostrava. Czech Republic, Institute of Electronics. Silesian Technical University. Gliwice. Poland
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; ścieżka skanowania ; skanowanie w trybie quasi ; przerzutnik
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; built-in self test ; scan path ; quasi-scan mode ; flip-flop
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


2/2
Nr opisu: 0000006309
Tytuł oryginału: Integration of a long test pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: W: Programmable devices and systems 2003. (PDS 2003). A proceedings volume from the 6th IFAC Workshop, Ostrava, Czech Republik, 11-13 February 2003. Ed. by: V. Srovnal, K. Vlcek. Oxford : Pergamon Press, 2003, s. 281-286, bibliogr. 7 poz.
ISBN: 008 044130 0
Organizator: Department of Measurement and Control. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. VSB Technical University of Ostrava. Czech Republik
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; ścieżka skanowania ; skanowanie w trybie quasi ; przerzutnik bistabilny typu T
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; built-in self test ; scan path ; quasi-scan mode ; T-type flip-flop
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. B. zak. Au3 9644


stosując format:
Nowe wyszukiwanie