Wynik wyszukiwania
Zapytanie: REFLECTANCE SPECTRA
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000131351
Tytuł oryginału: Homogeneity of sol-gel derived silica-titania waveguide films - spectroscopic and AFM studies
Autorzy: Paweł Karasiński, Alina Domanowska, E. Gondek, A. Sikora, Cuma Tyszkiewicz, M. Skolik.
Źródło: -Opt. Laser Technol. 2020 vol. 121, art. no.105840 s. 1-8, bibliogr. 42 poz.
Impact Factor: 3.319
Punktacja MNiSW: 100.000
p-ISSN: 0030-3992
e-ISSN: 1879-2545
DOI:
Słowa kluczowe polskie: zol-żel ; powłoka krzemionkowo-tytanowa ; światłowód planarny ; jednorodność optyczna ; widmo odbiciowe ; metoda macierzy przejścia
Słowa kluczowe angielskie: sol-gel ; silica-titania film ; planar waveguide ; optical homogeneity ; reflectance spectra ; transfer matrix method
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/4
Nr opisu: 0000127005
Tytuł oryginału: Jednorodność optyczna warstw falowodowych SiO2:TiO2 wytwarzanych metodą zol-żel.
Autorzy: Paweł Karasiński.
Źródło: W: Światłowody i ich zastosowanie. TAL 2018. XVIII Konferencja i V Szkoła "Technologia światłowodów", Nałęczów, 20-23.11.2018. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018, pamięć USB (PenDrive) s. 1, bibliogr. 3 poz.
Organizator: Pracownia Technologii Światłowodów Uniwersytetu Marii Curie-Skłodowskiej, Instytut Elektroniki i Technik Informacyjnych Politechniki Lubelskiej
Słowa kluczowe polskie: warstwa cienka ; współczynnik załamania ; jednorodność optyczna ; widmo odbiciowe
Słowa kluczowe angielskie: thin layer ; refractive index ; optical homogeneity ; reflectance spectra
Typ publikacji: K
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


3/4
Nr opisu: 0000124790
Tytuł oryginału: Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych
Tytuł w wersji angielskiej: Method of refractive indices determination on the films interfaces based on reflectances envelopes
Autorzy: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
Źródło: -Prz. Elektrot. 2018 R. 94 nr 8, s. 51-54, bibliogr. 12 poz.
Punktacja MNiSW: 14.000
p-ISSN: 0033-2097
e-ISSN: 2449-9544
DOI:
Słowa kluczowe polskie: spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe
Słowa kluczowe angielskie: spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.677
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: OTHER open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


4/4
Nr opisu: 0000125130
Tytuł oryginału: Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
Autorzy: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
Źródło: W: XVII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 03-07.06.2018. Program konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018, pamięć USB (PenDrive) s. 1-7
Organizator: Akademia Morska w Gdyni
Słowa kluczowe polskie: spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe
Słowa kluczowe angielskie: spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie