Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PRECISION MEASUREMENT
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000103416
Tytuł oryginału: Comparison of two buffers for impendance metrology
Autorzy: Marian Kampik, Janusz Tokarski, Krzysztof Musioł, Wojciech* Barwinek, R. Rybski, J. Kaczmarek, M. Kozioł, J. Nissila.
¬ródło: -Meas. Autom. Monit. 2015 vol. 61 nr 5, s. 127-131, bibliogr. 11 poz.
Punktacja MNiSW: 11.000
p-ISSN: 2450-2855
Słowa kluczowe polskie: układ mostkowy ; impedancja ; wzorzec miary ; metrologia ; pomiar precyzyjny
Słowa kluczowe angielskie: bridge circuit ; impedance ; measurement standard ; metrology ; precision measurement
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: CC-BY
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000100126
Tytuł oryginału: Experiences with a two-terminal-pair digital impedance bridge
Autorzy: L. Callegaro, V. D'Elia, Marian Kampik, D. B. Kim, M. Ortolano, F. Pourdanesh.
¬ródło: -IEEE Trans. Instrum. Meas. 2015 vol. 64 no. 6, s. 1460-1465, bibliogr. 16 poz.
Impact Factor: 1.808
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0018-9456
e-ISSN: 1557-9662
DOI:
Słowa kluczowe polskie: admitancja ; układ mostkowy ; impedancja ; wzorzec miary ; metrologia ; pomiar precyzyjny
Słowa kluczowe angielskie: admittance ; bridge circuit ; impedance ; measurement standard ; metrology ; precision measurement
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


3/3
Nr opisu: 0000097820
Tytuł oryginału: Experiences with a two terminal-pair digital impedance bridge.
Autorzy: L. Callegaro, V. D'Elia, Marian Kampik, D. B. Kim, M. Ortolano, F. Pourdanesh, N. T. M. Tran.
¬ródło: W: 2014 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brazil, 24-29 August 2014. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 222-223, bibliogr. 5 poz.
ISBN: 978-1-4799-2480-6
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,25
Bazy indeksuj±ce publikację: Scopus; INSPEC; IEEE Xplore
DOI:
Słowa kluczowe polskie: metrologia ; impedancja ; admitancja ; pomiar precyzyjny ; układ mostkowy ; wzorzec miary
Słowa kluczowe angielskie: metrology ; impedance ; admittance ; precision measurement ; bridge circuit ; measurement standard
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie