Wynik wyszukiwania
Zapytanie: EVOLUTIONARY COMPUTATIONS
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000071090
Tytuł oryginału: Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Metrol. Meas. Syst. 2012 vol. 19 nr 1, s. 73-84, bibliogr. 20 poz.
Impact Factor: 0.982
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 0860-8229
Słowa kluczowe polskie: obliczenia ewolucyjne ; testowanie układu analogowego ; nieszczelno¶ć izolacji
Słowa kluczowe angielskie: evolutionary computations ; analogue circuit testing ; fault isolation
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4407
Dostęp on-line:


2/6
Nr opisu: 0000069621
Tytuł oryginału: The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing
Tytuł w wersji polskiej: Wykorzystanie pary specjalizowanych pobudzeń wielopasmowych do testowania analogowych układów elektronicznych
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Damian Grzechca.
¬ródło: -Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 47-49, bibliogr. 7 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: elektronika analogowa ; wykrywanie uszkodzeń ; obliczenia ewolucyjne ; gęsto¶ć widmowa amplitudy ; pobudzenie testuj±ce
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronics ; fault detection ; evolutionary computations ; amplitude density ; testing stimuli
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


3/6
Nr opisu: 0000081591
Tytuł oryginału: The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing.
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Damian Grzechca.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 516-519, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]
Słowa kluczowe polskie: wykrywanie uszkodzeń ; gęsto¶ć widmowa amplitudy ; obliczenia ewolucyjne ; pobudzenie testuj±ce
Słowa kluczowe angielskie: fault detection ; amplitude density ; evolutionary computations ; testing stimuli
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/6
Nr opisu: 0000082611
Tytuł oryginału: Zastosowanie pobudzenia pasmowego do testowania analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 232
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; testowanie układu analogowego ; obliczenia ewolucyjne ; gęsto¶ć widmowa ; szereg Fouriera
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; analogue circuit testing ; evolutionary computations ; spectral density ; Fourier series
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


5/6
Nr opisu: 0000031632
Tytuł oryginału: Evolutionary system for analog test frequencies selection with fuzzy initialization.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Kraków, Poland, April 11-13, 2007. Eds: P. Girard [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 353-356, bibliogr. 10 poz.
Słowa kluczowe polskie: testowanie analogowe ; niejednoznaczno¶ć zbioru ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; system wbudowany
Słowa kluczowe angielskie: analog testing ; ambiguity set ; evolutionary computations ; fuzzy set ; embedded system
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 118456
Dostęp on-line:


6/6
Nr opisu: 0000031051
Tytuł oryginału: Ewolucyjny dobór częstotliwo¶ci sygnałów testuj±cych z rozmyt± inicjalizacj± systemu.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 101-106, bibliogr. 12 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka układów analogowych ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; testowanie układu analogowego ; optymalizacja ewolucyjna
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit diagnosis ; evolutionary computation ; fuzzy set ; analogue circuit testing ; evolutionary optimization ; evolutionary computations
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 119357


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie