Wynik wyszukiwania
Zapytanie: DEPTH PROFILING
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000071525
Tytuł oryginału: X-ray photoelectron spectroscopy and thermal desorption spectroscopy comparative studies of L-CVD SnO2 ultra thin films
Autorzy: Monika Kwoka, Natalia Waczyńska, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Jacek Szuber.
Źródło: -Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 913-917, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 1.890
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; L-CVD ; powłoka cienka ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; profilowanie głębokościowe ; spektroskopia termodesorpcyjna ; chemia powierzchni
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD ; ultrathin film ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; depth profiling ; thermal desorption spectroscopy ; surface chemistry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000047687
Tytuł oryginału: XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO2 thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
Źródło: -Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz.
Impact Factor: 1.576
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; domieszkowanie Ag ; XPS ; chemia powierzchni ; profilowanie głębokościowe
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; Ag-doping ; XPS ; surface chemistry ; depth profiling
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000025442
Tytuł oryginału: XPS depth profiling studies of L-CVD SnO2 thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek Szuber.
Źródło: -Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7730-7733, bibliogr. 14 poz.
Uwagi: Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005
Impact Factor: 1.436
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; profilowanie głębokościowe ; XPS
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; thin film ; depth profiling ; XPS
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie