Wynik wyszukiwania
Zapytanie: CIRCUIT TESTING
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000063340
Tytuł oryginału: Testing analog electronic circuits using N-terminal network.
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
¬ródło: W: Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 177-180, bibliogr. 7 poz.
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; testowanie układu ; diagnostyka uszkodzeń ; filtracja
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; circuit testing ; fault diagnosis ; filtering
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


2/6
Nr opisu: 0000049055
Tytuł oryginału: Optimization of PWL analog testing excitation by means of genetic algorithm.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'08, Kraków, Poland, September 14-17, 2008. Proceedings. [Kraków] : [Department of Electronics. AGH University of Science and Technology], 2008, s. 541-544, bibliogr. 15 poz.
Organizator: Department of Electronics. AGH University of Science and Technology [et al.]
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; testowanie układu ; PWL ; algorytm genetyczny ; fenotyp ; genotyp
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; circuit testing ; PWL ; genetic algorithm ; phenotype ; genotype
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/6
Nr opisu: 0000049105
Tytuł oryginału: Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analog electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2008, Malta, 31st August - 3rd September 2008. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 242-246, bibliogr. 9 poz.
ISBN: 978-1-4244-2181-7978-1-4244-2182-4
DOI:
Słowa kluczowe polskie: testowanie układu ; obwód elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; ekstrakcja cech ; pomiar czasu ; ocena efektywno¶ci
Słowa kluczowe angielskie: circuit testing ; electronic circuit ; fault diagnosis ; fault location ; feature extraction ; time measurement ; performance evaluation
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/6
Nr opisu: 0000039873
Tytuł oryginału: Simulated annealing with fuzzy fitness function for test frequencies selection.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2007 IEEE International Fuzzy Systems Conference. FUZZ-IEEE 2007, London, UK, July 23-26, 2007. [Dokument elektroniczny]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-6, bibliogr. 8 poz.
Słowa kluczowe polskie: testowanie układu ; diagnostyka uszkodzeń ; teoria zbiorów rozmytych ; symulowane wyżarzanie
Słowa kluczowe angielskie: circuit testing ; fault diagnosis ; fuzzy set theory ; simulated annealing
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


5/6
Nr opisu: 0000031165
Tytuł oryginału: Analog fault AC dictionary creation - the fuzzy set approach.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 5744-5747, bibliogr. 4 poz.
ISBN: 0-7803-9389-9
DOI:
Słowa kluczowe polskie: testowanie układu ; słownik ; sprzęt elektroniczny ; częstotliwo¶ć ; teoria zbiorów rozmytych ; wytwarzanie ; macierz rzadka
Słowa kluczowe angielskie: circuit testing ; dictionary ; electronic equipment ; frequency ; fuzzy set theory ; manufacturing
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


6/6
Nr opisu: 0000031531
Tytuł oryginału: LNA design for on-chip RF test.
Autorzy: R. Ramzan, L. Zou, Jerzy** D±browski.
¬ródło: W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 4236-4239, bibliogr. 8 poz.
ISBN: 0-7803-9389-9
DOI:
Słowa kluczowe polskie: bitowa stopa błędów ; testowanie układu ; przesłuch ; wykrywanie uszkodzeń ; transceiver
Słowa kluczowe angielskie: bit error rate ; circuit testing ; crosstalk ; fault detection ; transceiver
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie