Wynik wyszukiwania
Zapytanie: CATASTROPHIC FAULT
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000068427
Tytuł oryginału: Czwórnikowa metoda testowania 4-tBT analogowych układów elektronicznych
Tytuł w wersji angielskiej: Four terminal method 4-tBT of analog electronic circuit
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 76-79, bibliogr. 7 poz.
Impact Factor: 0.244
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: czwórnikowa metoda testowania ; 4-tBT ; uszkodzenie katastroficzne
Słowa kluczowe angielskie: 4-terminal based test ; 4-tBT ; catastrophic fault
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


2/6
Nr opisu: 0000082608
Tytuł oryginału: Czwórnikowa metoda testowania N-tBT analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 229
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: czwórnikowa metoda testowania ; N-tBT ; uszkodzenie katastroficzne
Słowa kluczowe angielskie: 4-terminal based test ; N-tBT ; catastrophic fault
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


3/6
Nr opisu: 0000072427
Tytuł oryginału: Fault diagnosis of analog electronic circuits with tolerances in mind. Design for testability with analysis of influence of components tolerance.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 496-501, bibliogr. 18 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; układ analogowy ; wykrywanie uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; uszkodzenie pojedyncze ; uszkodzenie katastroficzne ; redukcja czasu testowania ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; analog circuit ; fault detection ; fault location ; single fault ; catastrophic fault ; test time reduction ; components tolerance ; genetic algorithm
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/6
Nr opisu: 0000082617
Tytuł oryginału: Maksymalizacja tolerancji w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 236
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; elektronika analogowa ; algorytm genetyczny ; tolerancja elementów ; uszkodzenie katastroficzne ; lokalizacja uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; analogue electronics ; genetic algorithm ; components tolerance ; catastrophic fault ; fault location
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


5/6
Nr opisu: 0000072423
Tytuł oryginału: Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk.
¬ródło: W: 2011 20th European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), Linkoping, Sweden, 29-31 August 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 881-884, bibliogr. 15 poz.
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; układ analogowy ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; uszkodzenie pojedyncze ; uszkodzenie katastroficzne ; redukcja czasu testowania ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; analogue circuit ; fault detection ; fault location ; single fault ; catastrophic fault ; test time reduction ; components tolerance ; genetic algorithm
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


6/6
Nr opisu: 0000056512
Tytuł oryginału: Multidimensional search space for catastrophic faults diagnosis in analog electronic circuits.
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 555-558, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Słowa kluczowe polskie: bł±d katastrofalny ; algorytm roju cz±stek ; przestrzeń wielowymiarowa ; tester
Słowa kluczowe angielskie: catastrophic fault ; particle swarm algorithm ; multidimensional space ; tester
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie