Wynik wyszukiwania
Zapytanie: BUILT-IN SELF TEST
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000099068
Tytuł oryginału: New structure of test pattern generator stimulating crosstalks in bus-type connections
Autorzy: Tomasz Garbolino.
¬ródło: -Int. J. Electron. Telecommun. 2015 vol. 61 no. 1, s. 67-75, bibliogr. 38 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0867-6747
DOI:
Słowa kluczowe polskie: zintegrowane poł±czenia obwodu ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; System on Chip
Słowa kluczowe angielskie: integrated circuit interconnections ; crosstalk ; test pattern generator ; built-in self test ; system-on-chip
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/6
Nr opisu: 0000091808
Tytuł oryginału: Designing of test pattern generators for stimulation of crosstalk faults in bus-type connections.
Autorzy: Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: Proceedings of the 2014 IEEE 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS, Warsaw, Poland, April 23-25, 2014. Eds.: Witold Pleskacz, Michel Renovell, Dominik Kasprowicz, Lukas Sekanina, Serge Bernard. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 270-273, bibliogr. 22 poz.
ISBN: 978-1-4799-4558-0
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,2
Bazy indeksuj±ce publikację: Web of Science; Scopus; IEEE Xplore; INSPEC
DOI:
Słowa kluczowe polskie: układ scalony ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; system jednoukładowy ; wbudowane samotestowanie
Słowa kluczowe angielskie: integrated circuit ; crosstalk ; test pattern generator ; System on Chip ; built-in self test
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/6
Nr opisu: 0000051249
Tytuł oryginału: Application of modified ring LFSRs for interconnect faults detection.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. ŁódĽ : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2008, s. 487-492, bibliogr. 16 poz.
ISBN: 83-922632-7-8
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie: test poł±czeń ; wbudowane samotestowanie ; BIST ; poł±czenie BIST ; IBIST
Słowa kluczowe angielskie: interconnect test ; built-in self test ; BIST ; interconnect BIST ; IBIST
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/6
Nr opisu: 0000012262
Tytuł oryginału: Test-per-clock logic BIST with semi-deterministic test patterns and zero-aliasing compactor
Autorzy: O. Novak, Z. Pliva, J. Nosek, Andrzej** Hławiczka, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa.
¬ródło: -J. Electron. Test. 2004 vol. 20 no. 1, s. 109-122, bibliogr. 24 poz.
Impact Factor: 0.480
p-ISSN: 0923-8174
e-ISSN: 1573-0727
DOI:
Słowa kluczowe polskie: wbudowane samotestowanie ; metoda test-per-clock ; kompresja obrazu testowego
Słowa kluczowe angielskie: built-in self test ; test-per-clock method ; test pattern compression
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


5/6
Nr opisu: 0000098366
Tytuł oryginału: Integration of a long pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems. PDS 2003, Ostrava, Czech Republik, February 11th-13th, 2003. Preprints. Ostrava : VSB - Technicka univerzita Ostrava, 2003, s. 441-446, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Department of Measurement and Control. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. VSB - Technical University of Ostrava. Czech Republic, Institute of Electronics. Silesian Technical University. Gliwice. Poland
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; ¶cieżka skanowania ; skanowanie w trybie quasi ; przerzutnik
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; built-in self test ; scan path ; quasi-scan mode ; flip-flop
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


6/6
Nr opisu: 0000006309
Tytuł oryginału: Integration of a long test pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Programmable devices and systems 2003. (PDS 2003). A proceedings volume from the 6th IFAC Workshop, Ostrava, Czech Republik, 11-13 February 2003. Ed. by: V. Srovnal, K. Vlcek. Oxford : Pergamon Press, 2003, s. 281-286, bibliogr. 7 poz.
ISBN: 008 044130 0
Organizator: Department of Measurement and Control. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. VSB Technical University of Ostrava. Czech Republik
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; ¶cieżka skanowania ; skanowanie w trybie quasi ; przerzutnik bistabilny typu T
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; built-in self test ; scan path ; quasi-scan mode ; T-type flip-flop
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. B. zak. Au3 9644


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie