Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ATOMIC FORCE MICROSCOPE
Liczba odnalezionych rekordów: 16



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/16
Nr opisu: 0000127424
Tytuł oryginału: Zastosowanie mikroskopu sił atomowych w badaniach powierzchni materiałów stomatoloogicznych.
Autorzy: W. Bil, Anna WoĽniak, Bogusław Ziębowicz.
¬ródło: W: Konferencja Studenckich Kół Naukowych. TalentDetector'2018. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika ¦l±ska, 2018, s. 18
ISBN: 978-83-65138-22-4
Seria: (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych ; Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika ¦l±ska z. 5)
Słowa kluczowe polskie: mikroskop sił atomowych ; badanie powierzchni ; materiał stomatologiczny
Słowa kluczowe angielskie: atomic force microscope ; surface examination ; dental material
Typ publikacji: K
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: OTHER open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OTHER
Dostęp on-line:


2/16
Nr opisu: 0000106780
Tytuł oryginału: Analiza UV-VIS cienkich warstw kompozytowych PVP/SiO2.
Autorzy: Wiktor Matysiak, S. Zieliński, Tomasz Tański, M. Zaborowska, P. Witek, Ewa Rusek, Artur* Skorupa, M. Latusek.
¬ródło: W: Materiały i technologie XXI wieku. XVIII Międzynarodowa studencka sesja naukowa, Katowice, 19 maja 2016. [Dokument elektroniczny]. Red. Marcin Godzierz, Adam Gryc, Marta Biesaga, Aleksandra Miczek, Konrad Brzyski. Katowice : [b.w.], 2016, pamięć USB (PenDrive) s. 240-245, bibliogr. 17 poz.
Organizator: Wydział Inżynierii Materiałowej i Metalurgii, Studenckie Koło Naukowe MATER-TECH
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,2
Słowa kluczowe polskie: cienka warstwa kompozytowa ; morfologia kompozytów ; morfologia powierzchni ; mikroskop sił atomowych ; spektroskopia UV-Vis
Słowa kluczowe angielskie: thin composite layer ; morphology of composites ; surface morphology ; atomic force microscope ; UV-Vis spectroscopy
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


3/16
Nr opisu: 0000097326
Tytuł oryginału: Morfologia powierzchni cienkich warstw zol-żel.
Autorzy: Magdalena Szindler, Marek Szindler.
¬ródło: W: Sesja Okoliczno¶ciowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'15". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki ¦l±skiej, 2015, 63-68, bibliogr. 14 poz.
ISBN: 978-83-65138-01-9
Seria: (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika ¦l±ska nr 35)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,30
Słowa kluczowe polskie: metoda zol-żel ; tlenek tytanu ; mikroskop sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: sol-gel method ; titanium oxide ; atomic force microscope
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


4/16
Nr opisu: 0000103515
Tytuł oryginału: Surface morphology and optical properties of Al2O3 thin films deposited by ALD method
Autorzy: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Magdalena Szindler.
¬ródło: -Arch. Mater. Sci. Eng. 2015 vol. 73 nr 1, s. 18-24, bibliogr. 26 poz.
Punktacja MNiSW: 13.000
p-ISSN: 1897-2764
Słowa kluczowe polskie: powłoka cienka ; tlenek glinu ; mikroskop sił atomowych ; elipsometria spektroskopowa
Słowa kluczowe angielskie: thin film ; aluminium oxide ; atomic force microscope ; spectroscopic ellipsometry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


5/16
Nr opisu: 0000096774
Tytuł oryginału: Sol-gel Al2O3 antireflection coatings for silicon solar cells
Autorzy: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Magdalena Szindler, B. Hajduk.
¬ródło: -Arch. Mater. Sci. Eng. 2014 vol. 67 nr 1, s. 24-31, bibliogr. 25 poz.
Punktacja MNiSW: 13.000
p-ISSN: 1897-2764
Słowa kluczowe polskie: powłoka cienka ; tlenek glinu ; mikroskop sił atomowych ; elipsometria spektroskopowa ; spektroskopia UV-Vis
Słowa kluczowe angielskie: thin film ; aluminium oxide ; atomic force microscope ; spectroscopic ellipsometry ; UV-Vis spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


6/16
Nr opisu: 0000091265
Tytuł oryginału: Badanie z wykorzystaniem mikroskopu z sond± skanuj±c±.
Autorzy: Paweł Jarka, Marcin Staszuk, Tomasz* Gaweł, Tomasz Tański.
¬ródło: W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 88-91
ISBN: 978-83-63553-25-8
Seria: (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,20
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia ze skanuj±c± sond± ; mikroskop sił atomowych ; badanie makroskopowe ; ćwiczenia laboratoryjne
Słowa kluczowe angielskie: scanning probe microscopy ; atomic force microscope ; microscopic examination ; laboratory exercises
Typ publikacji: U
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


7/16
Nr opisu: 0000090820
Tytuł oryginału: Influence of solvent on the surface morphology and optoelectronic properties of a spin coated polymer thin films
Autorzy: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, Magdalena* Szczęsna, Marek Szindler.
¬ródło: -J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2013 vol. 61 iss. 2, s. 302-307, bibliogr. 18 poz.
Punktacja MNiSW: 12.000
p-ISSN: 1734-8412
Słowa kluczowe polskie: MEH-PPV ; spin-powłoka ; spektrometr UV/VIS ; mikroskopowa siła atomowa
Słowa kluczowe angielskie: MEH-PPV ; spin-coating ; spectrometer UV/VIS ; atomic force microscope
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4671
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


8/16
Nr opisu: 0000082869
Tytuł oryginału: Sol gel TiO2 antireflection coatings for silicon solar cells
Autorzy: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler.
¬ródło: -J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2012 vol. 52 iss. 1, s. 7-14, bibliogr. 18 poz.
Punktacja MNiSW: 8.000
p-ISSN: 1734-8412
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek tytanu ; warstwa antyrefleksyjna ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskop elektronowy skaningowy ; spektroskopia UV-Vis
Słowa kluczowe angielskie: titanium dioxide ; antireflective coating ; atomic force microscope ; scanning electron microscope ; UV-Vis spectroscopy ; silicon solar cell
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4671
Dostęp on-line:


9/16
Nr opisu: 0000083538
Tytuł oryginału: Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach cienkich warstw.
Autorzy: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Dariusz Łukowiec.
¬ródło: W: Proceedings of the Eighteenth International Scientific Conference on Contemporary Achievements in Mechanics, Manufacturing and Materials Science. CAM3S'2012, Gliwice - Ustroń, 27th - 29th February 2012. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2012, s. 43, bibliogr. 3 poz.
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sił atomowych ; warstwa cienka ; morfologia powierzchni
Słowa kluczowe angielskie: atomic force microscope ; thin film ; surface morphology
Typ publikacji: K
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


10/16
Nr opisu: 0000067005
Tytuł oryginału: Reconstruction of thin films polyazomethine based on microscopic images
Autorzy: Jan** Weszka, Marek Szindler, Agata ¦liwa, Barbara* Hajduk, J. Jurusik.
¬ródło: -Arch. Mater. Sci. Eng. 2011 vol. 48 nr 1, s. 40-48, bibliogr. 20 poz.
Punktacja MNiSW: 9.000
p-ISSN: 1897-2764
Słowa kluczowe polskie: chemiczne osadzanie z fazy gazowej ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskop elektronowy skaningowy ; oprogramowanie WSxM
Słowa kluczowe angielskie: chemical vapour deposition ; atomic force microscope ; scanning electron microscope ; WSxM software
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4182
Dostęp on-line:


11/16
Nr opisu: 0000057448
Tytuł oryginału: Badania struktury, morfologii powierzchni oraz wła¶ciwo¶ci sensorowych cienkich warstw SnO2
Autorzy: Weronika Izydorczyk, M. Pisarek, Jerzy** Żak.
¬ródło: -Elektronika 2010 R. 51 nr 6, s. 50-53, bibliogr. 13 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: morfologia powierzchni ; dyfraktometria rentgenowska ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskopia AFM ; spektroskopia elektronów Augera ; adsorpcja tlenu
Słowa kluczowe angielskie: surface morphology ; X-ray diffraction ; atomic force microscope ; AFM microscopy ; Auger electron spectroscopy ; oxygen adsorption
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


12/16
Nr opisu: 0000069147
Tytuł oryginału: Komputerowa analiza i przetwarzanie obrazów otrzymywanych mikroskopem sił atomowych.
Autorzy: Marek Szindler, Agata ¦liwa.
¬ródło: W: Sesja Okoliczno¶ciowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'10". Impreza towarzysz±ca międzynarodowej konferencji naukowej AMME 2010. Red. Bogusław Ziębowicz. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2010, s. 73-82, bibliogr. 6 poz.
Seria: (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika ¦l±ska nr 26)
Słowa kluczowe polskie: analiza obrazu ; mikroskop sił atomowych ; program WSxM
Słowa kluczowe angielskie: image analysis ; atomic force microscope ; WSxM program
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 133956
Dostęp on-line:


13/16
Nr opisu: 0000036430
Tytuł oryginału: Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach nad formowaniem powierzchni krzemowych ogniw słonecznych
Autorzy: Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski, P. Panek, K. Drabczyk, A. Olechowska.
¬ródło: -Elektronika 2008 R. 49 nr 1, s. 83-86, bibliogr. 8 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: krzemowe ogniwo słoneczne ; mikroskop sił atomowych ; krzem monokrystaliczny ; krzem multikrystaliczny ; warstwa porowata ; trawienie
Słowa kluczowe angielskie: silicon solar cell ; atomic force microscope ; monocrystalline silicon ; multicrystalline silicon ; porous layer ; etching
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


14/16
Nr opisu: 0000022972
Tytuł oryginału: Fractal and multifractal characteristics of CVD coatings deposited onto the nitride tool ceramics
Autorzy: Waldemar Kwa¶ny, Daniel Pakuła, Mariola WoĽniak, Leszek** Dobrzański.
¬ródło: -J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2007 vol. 20 iss. 1/2, s. 371-374, bibliogr. 15 poz.
p-ISSN: 1734-8412
Słowa kluczowe polskie: komputerowa nauka o materiałach ; powłoka CVD ; geometria multifraktalna ; mikroskop sił atomowych ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: computational materials science ; CVD coating ; multifractal geometry ; atomic force microscope ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.
Dostęp on-line:


15/16
Nr opisu: 0000123726
Tytuł oryginału: On the correlation between morphology and electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Jerzy** Żak, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2003 vol. 436 iss. 1, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.
Uwagi: Referat wygłoszony na: 3rd International Seminar on Semiconductor Gas Sensors. SGS'2002, Ustroń, Poland, 19-22 September 2002
Impact Factor: 1.598
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: ftalocyjanina miedzi ; cienka powłoka ; fotoemisja ; mikroskop sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: copper phthalocyanine ; thin film ; photoemission ; atomic force microscope
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


16/16
Nr opisu: 0000011696
Tytuł oryginału: On the correlation between the morphology and the electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Jerzy** Żak, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2003 vol. 436 iss. 1, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.
Impact Factor: 1.598
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; fotoemisja ; mikroskop sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: copper phthalocyanine ; thin film ; photoemission ; atomic force microscope
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie