Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ANTIREFLECTION LAYER
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000126016
Tytuł oryginału: Struktura i własności warstw Al2O3 osadzonych metodą ALD na krzemowych ogniwach fotowoltaicznych.
Autorzy: Marek Szindler, Magdalena Szindler.
Źródło: W: XVII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 03-07.06.2018. Program konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018, s. 1-6, bibliogr. 11 poz.
Organizator: Akademia Morska w Gdyni
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,5
Słowa kluczowe polskie: atomowe osadzanie warstw ; warstwa antyrefleksyjna ; krzemowe ogniwo fotowoltaiczne ; własności optyczne ; charakterystyka prądowo-napięciowa
Słowa kluczowe angielskie: atomic layer deposition ; antireflection layer ; silicon solar cell ; optical properties ; current-voltage characteristic
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


2/3
Nr opisu: 0000116920
Tytuł oryginału: Cienkie warstwy ALD stosowane w fotowoltaice i optoelektronice.
Autorzy: Paulina Boryło, Marek Szindler, Krzysztof Lukaszkowicz, Magdalena Szindler.
Źródło: W: Szesnasta Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłowo, 05-09.06.2017. Materiały konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2017, pamięć USB (PenDrive) s. 364-365, bibliogr. 16 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej - Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,3
Słowa kluczowe polskie: fotowoltaika ; optoelektronika ; warstwa antyrefleksyjna ; transparentna warstwa przewodząca ; osadzanie warstw atomowych
Słowa kluczowe angielskie: photovoltaics ; optoelectronics ; antireflection layer ; transparent conducting film ; atomic layer deposition
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


3/3
Nr opisu: 0000065604
Tytuł oryginału: Badanie właściwości cienkich warstw antyrefleksyjnych z dwutlenku tytanu w strukturze ogniwa fotowoltaicznego
Autorzy: Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski, K. Drabczyk.
Źródło: -Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 77-79, bibliogr. 4 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: warstwa antyrefleksyjna ; dwutlenek tytanu ; ogniwo fotowoltaiczne
Słowa kluczowe angielskie: antireflection layer ; titanium dioxide ; photovoltaic cell
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie