Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ANALOGUE INTEGRATED CIRCUIT
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000082465
Tytuł oryginału: Evolutionary algorithms for global parametric fault diagnosis in analogue integrated circuits
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
Źródło: -Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2012 vol. 60 no. 1, s. 133-142, bibliogr. 38 poz.
Impact Factor: 0.980
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0239-7528
e-ISSN: 0239-7528
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; diagnozowanie usterek ; lokalizacja ; identyfikacja ; algorytm ewolucyjny
Słowa kluczowe angielskie: analogue integrated circuit ; fault diagnosis ; localization ; identification ; evolutionary algorithm
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.1277
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie