Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ANALOGUE ELECTRONIC CIRCUITS
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000081583
Tytuł oryginału: An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
Źródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 485-489
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź [et al.]
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; testowanie funkcjonalne ; czas odpowiedzi
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronic circuits ; functional testing ; response time
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie