Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ANALOGUE CIRCUIT
Liczba odnalezionych rekordów: 9



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/9
Nr opisu: 0000088165
Tytuł oryginału: Active linearization and stabilization of the power tubes in Audio Power Amplifier
Tytuł w wersji polskiej: Aktywna linearyzacja i stabilizacja lamp mocy we wzmacniaczu elektroakustycznym
Autorzy: Adam Kristof.
¬ródło: -Elektronika 2013 R. 54 nr 10, s. 55-57, bibliogr. 11 poz.
Punktacja MNiSW: 8.000
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: linearyzacja ; stabilizacja ; wzmacniacz elektroakustyczny ; układ analogowy ; wzmacniacz mocy ; wzmacniacz hybrydowy ; wzmacniacz przeciwsobny ; lampa elektronowa
Słowa kluczowe angielskie: linearization ; stabilization ; acoustoelectric amplifier ; analogue circuit ; power amplifier ; hybrid amplifier ; push-pull amplifier ; electronic lamp
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


2/9
Nr opisu: 0000069623
Tytuł oryginału: An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features
Tytuł w wersji polskiej: Sterowane specyfikacj± testowanie układów analogowych z wykorzystaniem aproksymacji w dziedzinie cech odpowiedzi
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 65-68, bibliogr. 11 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: elektronika analogowa ; układ analogowy ; triangulacja Delaunaya ; testowanie sterowane specyfikacj±
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronics ; analogue circuit ; Delaunay's triangulation ; specification driven testing
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


3/9
Nr opisu: 0000070646
Tytuł oryginału: Testowanie elektronicznych układów analogowych z wykorzystaniem wielowymiarowej przestrzeni poszukiwań i algorytmów zbiorowej inteligencji. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Piotr* Kyzioł.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2011
Opis fizyczny: , 157 k., bibliogr.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: prof. dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; algorytm zbiorowej inteligencji ; układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie: analogue circuit ; collective intelligence algorithm ; electronic system
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-4801 + CD
Dostęp BCP¦:


4/9
Nr opisu: 0000072423
Tytuł oryginału: Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk.
¬ródło: W: 2011 20th European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), Linkoping, Sweden, 29-31 August 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 881-884, bibliogr. 15 poz.
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; układ analogowy ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; uszkodzenie pojedyncze ; uszkodzenie katastroficzne ; redukcja czasu testowania ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; analogue circuit ; fault detection ; fault location ; single fault ; catastrophic fault ; test time reduction ; components tolerance ; genetic algorithm
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


5/9
Nr opisu: 0000040360
Tytuł oryginału: A heuristic fault dictionary reduction methodology.
Autorzy: Andrzej Pułka.
¬ródło: W: 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2007, Marrakech, Morocco, December 11-14, 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 1115-1118, bibliogr. 20 poz.
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; niezawodno¶ć obwodu ; diagnostyka uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: analogue circuit ; circuit reliability ; fault diagnosis
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


6/9
Nr opisu: 0000039872
Tytuł oryginału: The use of simulated annealing with fuzzy objective function to optimal frequency selection for analog circuit diagnosis.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2007, Marrakech, Morocco, December 11-14, 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 899-902, bibliogr. 9 poz.
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; niezawodno¶ć obwodu ; diagnostyka uszkodzeń ; teoria zbiorów rozmytych
Słowa kluczowe angielskie: analogue circuit ; circuit reliability ; fault diagnosis ; fuzzy set theory
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


7/9
Nr opisu: 0000013971
Tytuł oryginału: Optymalny dobór punktów testowych dla analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 157-162, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; testowanie analogowe ; optymalizacja ; kanał informacyjny
Słowa kluczowe angielskie: analogue circuit ; analog testing ; optimization ; information channel
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


8/9
Nr opisu: 0000013972
Tytuł oryginału: Optymalny dobór punktów testowych z wykorzystaniem algorytmu genetycznego i różnych pobudzeń.
Autorzy: Ł. Zieliński, B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 163-167, bibliogr. 9 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; testowanie ; optymalizacja ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: analogue circuit ; testing ; optimization ; genetic algorithm
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


9/9
Nr opisu: 0000013973
Tytuł oryginału: Zastosowanie teorii zbiorów rozmytych oraz rzadko¶ci macierzy wrażliwo¶ci do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w układach analogowych.
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 169-174, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: teoria zbiorów rozmytych ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; układ analogowy ; wrażliwo¶ć
Słowa kluczowe angielskie: fuzzy set theory ; fault detection ; fault localization ; analogue circuit ; sensitivity
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie