Wynik wyszukiwania
Zapytanie: X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
Liczba odnalezionych rekordów: 32



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/32
Nr opisu: 0000127077
Tytuł oryginału: Structural study of amorphous and nanocrystalline Mg-based metallic glass examined by neutron diffraction, X-ray photoelectron spectroscopy, Reverse Monte Carlo calculations and high-resolution electron microscopy
Autorzy: Rafał Babilas, A. Bajorek, L. Temleitner.
¬ródło: -J. Non-Cryst. Solids 2019 vol. 505, s. 421-430, bibliogr. 43 poz.
Impact Factor: 2.488
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0022-3093
e-ISSN: 1873-4812
DOI:
Słowa kluczowe polskie: szkło metaliczne ; dyfrakcja neutronowa ; odwrócona symulacja Monte Carlo ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; mikroskopia elektronowa
Słowa kluczowe angielskie: metallic glass ; neutron diffraction ; reverse Monte Carlo simulation ; X-ray photoelectron spectroscopy ; electron microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


2/32
Nr opisu: 0000125508
Tytuł oryginału: Atomic and electronic structure of graphene oxide/Cu interface
Autorzy: D. W. Boukhvalov, E. Z. Kurmaev, Ewelina Urbańczyk, G. Dercz, Agnieszka Stolarczyk, Wojciech Simka, A. I. Kukharenko, I. S. Zhidkov, A. I. Slesarev, A. F. Zatsepin, S. O. Cholakh.
¬ródło: -Thin Solid Films 2018 vol. 665, s. 91-108, bibliogr. 59 poz.
Impact Factor: 1.939
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: grafen ; tlenek grafenu ; zredukowany tlenek grafenu ; teoria funkcjonału gęsto¶ci ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; przewodno¶ć
Słowa kluczowe angielskie: graphene ; graphene oxide ; reduced graphene oxide ; Density Functional Theory ; X-ray photoelectron spectroscopy ; conductivity
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/32
Nr opisu: 0000122366
Tytuł oryginału: Corrosion resistance of resorbable Ca-Mg-Zn-Yb metallic glasses in Ringer's solution
Autorzy: Rafał Babilas, A. Bajorek, Piotr Sakiewicz, Aneta Kania, Dawid Szyba.
¬ródło: -J. Non-Cryst. Solids 2018 vol. 488, s. 69-78, bibliogr. 33 poz.
Impact Factor: 2.488
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0022-3093
e-ISSN: 1873-4812
DOI:
Słowa kluczowe polskie: stop na osnowie Ca ; masywne szkło metaliczne ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; badanie elektrochemiczne ; wydzielanie wodoru ; elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna
Słowa kluczowe angielskie: Ca-based alloy ; bulk metallic glass ; X-ray photoelectron spectroscopy ; electrochemical study ; hydrogen evolution ; electrochemical impedance spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/32
Nr opisu: 0000122723
Tytuł oryginału: Cyclodextrin inhibits zinc corrosion by destabilizing point defect formation in the oxide layer
Autorzy: A. Altin, Maciej Krzywiecki, A. Sarfraz, C. Toparli, C. Laska, P. Kerger, A. Zeradjanin, K. J. J. Mayrhofer, M. Rohwerder, A. Erbe.
¬ródło: -Beilstein J. Nanotechnol. 2017 vol. 9, s. 936-944, bibliogr. 49 poz.
Impact Factor: 2.968
Punktacja MNiSW: 35.000
p-ISSN: 2190-4286
DOI:
Słowa kluczowe polskie: schemat pasmowy ; chemia defektów ; organiczne inhibitory korozji ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; korozja cynku
Słowa kluczowe angielskie: band diagram ; defect chemistry ; organic corrosion inhibitors ; X-ray photoelectron spectroscopy ; zinc corrosion
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: CC-BY open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


5/32
Nr opisu: 0000107994
Tytuł oryginału: Characterisation of anodic oxide films on zirconium formed in sulphuric acid: XPS and corrosion resistance investigations
Autorzy: Maciej Sowa, D. Łastówka, A. I. Kukharenko, D. M. Korotin, E. Z. Kurmaev, S. O. Cholakh, Wojciech Simka.
¬ródło: -J. Solid State Electrochem. 2017 vol. 21 iss. 1, s. 203-210, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 2.509
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 1432-8488
e-ISSN: 1433-0768
DOI:
Słowa kluczowe polskie: cyrkon ; utlenianie anodowe ; odporno¶ć na korozję ; kwas siarkowy ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: zirconium ; anodic oxidation ; corrosion resistance ; sulphuric acid ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: CC-BY
Dostęp on-line:


6/32
Nr opisu: 0000119497
Tytuł oryginału: Corrosion study of resorbable Ca60Mg15Zn25 bulk metallic glasses in physiological fluids
Autorzy: Rafał Babilas, A. Bajorek, Adrian Radoń, Ryszard** Nowosielski.
¬ródło: -Prog. Nat. Sci. 2017 vol. 27 iss. 5, s. 627-634, bibliogr. 34 poz.
Impact Factor: 2.572
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 1002-0071
DOI:
Słowa kluczowe polskie: szkło metaliczne na osnowie Ca ; odporno¶ć korozyjna ; spektroskopia FTIR ; dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: Ca-based metallic glasses ; corrosion resistance ; FTIR spectroscopy ; X-ray diffraction ; X-ray photoelectron spectroscopy ; hydrogen evaluation
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: CC-BY-NC-ND open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


7/32
Nr opisu: 0000117817
Tytuł oryginału: Structural and electrochemical characterization of the Ca50Mg20Cu25Zn5 amorphous alloy
Autorzy: Rafał Babilas, A. Bajorek, Ł. Hawełek, W. Głuchowski, Wojciech Simka, Dorota Babilas.
¬ródło: -J. Non-Cryst. Solids 2017 vol. 471, s. 467-475, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 2.488
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0022-3093
e-ISSN: 1873-4812
DOI:
Słowa kluczowe polskie: szkło metaliczne na osnowie Ca ; korozja ; dyfrakcja rentgenowska ; modelowanie RMC ; fotoelektronowa spektroskopia rentgenowska
Słowa kluczowe angielskie: Ca-based metallic glass ; corrosion ; X-ray diffraction ; RMC modelling ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


8/32
Nr opisu: 0000107284
Tytuł oryginału: Corrosion behavior of bioresorbable Ca-Mg-Zn bulk metallic glasses
Autorzy: Ryszard** Nowosielski, A. Bajorek, Rafał Babilas.
¬ródło: -J. Non-Cryst. Solids 2016 vol. 447, s. 126-133, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 2.124
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0022-3093
e-ISSN: 1873-4812
DOI:
Słowa kluczowe polskie: szkło metaliczne na osnowie Ca ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; odporno¶ć na korozję
Słowa kluczowe angielskie: Ca-based metallic glass ; X-ray photoelectron spectroscopy ; corrosion resistance ; hydrogen evaluation
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


9/32
Nr opisu: 0000106634
Tytuł oryginału: Study on corrosion behavior of Mg-based bulk metallic glasses in NaCl solution
Autorzy: Rafał Babilas, A. Bajorek, Wojciech Simka, Dorota Babilas.
¬ródło: -Electrochim. Acta 2016 vol. 209, s. 632-642, bibliogr. 35 poz.
Impact Factor: 4.798
Punktacja MNiSW: 40.000
p-ISSN: 0013-4686
e-ISSN: 1873-3859
DOI:
Słowa kluczowe polskie: masywne szkło metaliczne ; dyfrakcja rentgenowska ; mikroskopia elektronowa ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; odporno¶ć na korozję
Słowa kluczowe angielskie: bulk metallic glass ; X-ray diffraction ; electron microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy ; corrosion resistance
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


10/32
Nr opisu: 0000102782
Tytuł oryginału: Processes of removing zinc from water using zero-valent iron
Autorzy: Tomasz Suponik, A. Winiarski.
¬ródło: -Water Air Soil Pollut. 2015 vol. 226, art. no. 360 s. 1-11, bibliogr. 21 poz.
Impact Factor: 1.551
Punktacja MNiSW: 25.000
p-ISSN: 0049-6979
e-ISSN: 1573-2932
DOI:
Słowa kluczowe polskie: żelazo metaliczne ; cynk ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; dyfrakcja ; ładunek powierzchniowy
Słowa kluczowe angielskie: zero-valent iron ; zinc ; X-ray photoelectron spectroscopy ; diffraction ; surface charge
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: CC-BY
Dostęp on-line:


11/32
Nr opisu: 0000103707
Tytuł oryginału: Self-assembled monolayers of partially fluorinated alcohols on Si(001): XPS and UV-photoemission study
Autorzy: A. Szwajca, Maciej Krzywiecki, H. Koroniak.
¬ródło: -J. Fluorine Chem. 2015 vol. 180, s. 248-256, bibliogr. 35 poz.
Impact Factor: 2.213
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0022-1139
e-ISSN: 1873-3328
DOI:
Słowa kluczowe polskie: rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; nadfioletowa spektroskopia fotoelektronowa ; obliczenia kwantowo-chemiczne ; analiza powierzchni Si ; alkohole polifluorowane
Słowa kluczowe angielskie: X-ray photoelectron spectroscopy ; UV photoelectron spectroscopy ; quantum chemical calculation ; Si surface analysis ; polyfluorinated alcohols
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


12/32
Nr opisu: 0000100485
Tytuł oryginału: Species formed on iron surface during removal of copper ions from aqueous solutions
Autorzy: Tomasz Suponik, A. Winiarski, J. Szade.
¬ródło: -Physicochem. Probl. Miner. Process. 2015 vol. 51 iss. 2, s. 731-743, bibliogr. 19 poz.
Impact Factor: 0.977
Punktacja MNiSW: 25.000
p-ISSN: 1643-1049
e-ISSN: 2084-4735
DOI:
Słowa kluczowe polskie: woda ; żelazo metaliczne ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; dyfrakcja ; miedĽ
Słowa kluczowe angielskie: water ; zero-valent iron ; X-ray photoelectron spectroscopy ; diffraction ; copper
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


13/32
Nr opisu: 0000093253
Tytuł oryginału: Influence of electropolishing and anodic oxidation on morphology, chemical composition and corrosion resistance of niobium
Autorzy: Maciej Sowa, K. Greń, A. I. Kukharenko, D. M. Korotin, Joanna Kamila Michalska, L. Szyk-Warszyńska, M. Mosiałek, Jerzy** Żak, E. Pamuła, E. Z. Kurmaev, S. O. Cholakh, Wojciech Simka.
¬ródło: -Mater. Sci. Eng., C Mater. Biol. Appl. 2014 vol. 42, s. 529-537, bibliogr. 55 poz.
Impact Factor: 3.088
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0928-4931
e-ISSN: 1873-0191
DOI:
Słowa kluczowe polskie: niob ; utlenianie anodowe ; polerowanie elektrolityczne ; odporno¶ć na korozję ; kwas fosforowy ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: niobium ; anodic oxidation ; electropolishing ; corrosion resistance ; phosphoric acid ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


14/32
Nr opisu: 0000086701
Tytuł oryginału: Physicochemical and electrochemical properties of AISI 316L stainless steel used for implants in human urinary system
Tytuł w wersji angielskiej: Ocena własno¶ci fizykochemicznych i elektrochemicznych stali AISI 316L stosowanej na implanty w urologii
Autorzy: Witold Walke, Joanna** Przondziono.
¬ródło: -Arch. Metall. Mater. 2013 vol. 58 iss. 2, s. 625-630, bibliogr. 15 poz.
Impact Factor: 0.763
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 1733-3490
e-ISSN: 2300-1909
DOI:
Słowa kluczowe polskie: stal AISI 316L ; stal nierdzewna ; spektroskopia elektrochemicznej impedancji ; EIS ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; skaningowa mikroskopia elektronowa ; SEM
Słowa kluczowe angielskie: AlSI 316L steel ; stainless steel ; electrochemical impedance spectroscopy ; EIS ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; scanning electron microscopy ; SEM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1111
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


15/32
Nr opisu: 0000075128
Tytuł oryginału: Physical and chemical studies of bacterial bioaerosols at wastewater treatment plant using scanning electron mikroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.
Autorzy: J. Płoszaj, E. Talik, Z. Piotrowska-Seget, Józef Pastuszka.
¬ródło: W: Electron microscopy XIV. Selected peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM 2011), Wisla, Poland, June 26-30, 2011. Ed. by D. Stróż and K. Prusik. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2012, s. 32-36, bibliogr. 11 poz.
Seria: (Solid State Phenomena ; vol. 186)
Punktacja MNiSW: 10.000
DOI:
Słowa kluczowe polskie: bioaerozol ; bakterie ; oczyszczalnia ¶cieków ; skaningowa mikroskopia elektronowa ; SEM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; cryo-SEM
Słowa kluczowe angielskie: bioaerosol ; bacteria ; wastewater treatment plant ; scanning electron microscopy ; SEM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; cryo-SEM
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


16/32
Nr opisu: 0000077215
Tytuł oryginału: Comparative study of surface morphology of copper phthalocyanine ultra thin films deposited on Si (111) native and RCA-cleaned substrates
Autorzy: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grz±dziel, Jerzy Bodzenta, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2012 vol. 520 iss. 11, s. 3965-3970, bibliogr. 35 poz.
Impact Factor: 1.890
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; obróbka RCA
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy ; RCA treatment ; silicon native substrate
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


17/32
Nr opisu: 0000063754
Tytuł oryginału: Influence of ambient air exposure on surface chemistry and electronic properties of thin copper phthalocyanine sensing layers
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Maciej Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2011 vol. 519 iss. 7, s. 2187-2192, bibliogr. 41 poz.
Impact Factor: 1.890
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; wła¶ciwo¶ci elektroniczne ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; spektroskopia fotoelektronów w nadfiolecie
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; electronic properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; ultraviolet photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


18/32
Nr opisu: 0000071525
Tytuł oryginału: X-ray photoelectron spectroscopy and thermal desorption spectroscopy comparative studies of L-CVD SnO2 ultra thin films
Autorzy: Monika Kwoka, Natalia Waczyńska, Piotr* Ko¶cielniak, Michał* Sitarz, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 913-917, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 1.890
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; L-CVD ; powłoka cienka ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; profilowanie głęboko¶ciowe ; spektroskopia termodesorpcyjna ; chemia powierzchni
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD ; ultrathin film ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; depth profiling ; thermal desorption spectroscopy ; surface chemistry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


19/32
Nr opisu: 0000063356
Tytuł oryginału: Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.
Impact Factor: 1.795
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


20/32
Nr opisu: 0000063606
Tytuł oryginału: Struktura i własno¶ci gradientowych powłok PVD na spiekanych materiałach narzędziowych. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Ludwina* Żukowska.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2010
Opis fizyczny: , 78 k., bibliogr. 167 poz. + zał.: 101 k. tabl.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Mechaniczny Technologiczny.
Promotor: prof. zw. dr hab. inż. Leszek** Dobrzański
Słowa kluczowe polskie: materiały narzędziowe ; powłoka PVD ; powłoka gradientowa ; spektroskopia elektronów Augera ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: tool materials ; PVD coating ; gradient coating ; Auger electron spectroscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-4680 + 2CD
Dostęp BCP¦:


21/32
Nr opisu: 0000056850
Tytuł oryginału: Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates
Autorzy: Maciej Krzywiecki, L. Ottaviano, Lucyna Grz±dziel, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 5, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; wła¶ciwo¶ci powierzchniowe ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; mikroskopia sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


22/32
Nr opisu: 0000056438
Tytuł oryginału: Local surface morphology and chemistry of SnO2 thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application
Autorzy: L. Ottaviano, Monika Kwoka, F. Bisti, P. Parisse, V. Grossi, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 22, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 1.727
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; RGTO ; podłoże krzemowe ; stechiometria ; dyfrakcja rentgenowska ; wytrzymało¶ć na zginanie ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO) ; surface morphology ; stoichiometry ; X-ray diffraction ; scanning electron microscopy ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


23/32
Nr opisu: 0000048134
Tytuł oryginału: X-ray photoelectron spectroscopy and full potential studies of the electronic density of state of ternary oxyborate Na3La9O3(BO3)8
Autorzy: A. H. Reshak, S. Auluck, Iwan* Kityk.
¬ródło: -J. Alloys Compd. 2009 vol. 472 iss. 1/2, s. 30-34
p-ISSN: 0925-8388
e-ISSN: 1873-4669
DOI:
Słowa kluczowe polskie: rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; struktura elektronowa ; obliczenia DFT ; metoda LDA ; metoda FP LAPW
Słowa kluczowe angielskie: X-ray photoelectron spectroscopy ; electronic structure ; DFT calculations ; LDA method ; FP LAPW method
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


24/32
Nr opisu: 0000056910
Tytuł oryginału: XPS analysis of sonochemically prepared SbSl ethanogel
Autorzy: Marian** Nowak, E. Talik, Piotr Szperlich, D. Stróż.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2009 vol. 255 iss. 17, s. 7689-7694, bibliogr. 48 poz.
Impact Factor: 1.616
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; nanoprzewody ; półprzewodnik ; sonochemia
Słowa kluczowe angielskie: X-ray photoelectron spectroscopy ; nanowires ; semiconductor ; sonochemistry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


25/32
Nr opisu: 0000047661
Tytuł oryginału: A novel III-V semiconductor material for NO2 detection and monitoring
Autorzy: K. Wierzbowska, L. Bideux, Bogusława Adamowicz, A. Pauly.
¬ródło: -Sens. Actuators, A Phys. 2008 vol. 142 iss. 1, s. 237-241, bibliogr. 9 poz.
p-ISSN: 0924-4247
e-ISSN: 1873-3069
DOI:
Słowa kluczowe polskie: NO2 ; dwutlenek azotu ; InP ; fosforek indu ; XPS ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; spektroskopia elektronów Augera
Słowa kluczowe angielskie: NO2 ; nitrogen dioxide ; InP ; indium phosphide ; XPS ; X-ray photoelectron spectroscopy ; Auger electron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


26/32
Nr opisu: 0000047690
Tytuł oryginału: Analysis of mechanism of carbon removal from GaAs(1 0 0) surface by atomic hydrogen
Autorzy: Paweł* Tomkiewicz, A. Winkler, Maciej Krzywiecki, T. Chasse, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8035-8040, bibliogr. 42 poz.
Impact Factor: 1.576
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: GaAs ; oczyszczanie ; wytrawianie ; wodór atomowy ; spektroskopia elektronów Augera ; spektrometria mas ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: GaAs ; cleaning ; etching ; atomic hydrogen ; Auger electron spectroscopy ; mass spectrometry ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


27/32
Nr opisu: 0000039951
Tytuł oryginału: Influence of vehicular traffic on concentration and particle surface composition of PM10 and PM2.5 in Zabrze, Poland
Autorzy: Wioletta* Rogula-Kozłowska, Józef Pastuszka, E. Talik.
¬ródło: -Pol. J. Environ. Stud. 2008 vol. 17 no. 4, s. 539-548, bibliogr. 50 poz.
Impact Factor: 0.963
p-ISSN: 1230-1485
Słowa kluczowe polskie: aerozol atmosferyczny ; PM10 ; PM2.5 ; skład chemiczny ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; ruch drogowy
Słowa kluczowe angielskie: atmospheric aerosol ; PM10 ; PM2.5 ; chemical composition ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; road traffic
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4458
Dostęp on-line:


28/32
Nr opisu: 0000050262
Tytuł oryginału: XPS and AES analysis of PVD coatings
Autorzy: Leszek** Dobrzański, Ludwina* Żukowska, J. Kubacki, Klaudiusz Gołombek, Jarosław Mikuła.
¬ródło: -Arch. Mater. Sci. Eng. 2008 vol. 32 iss. 2, s. 99-102, bibliogr. 15 poz.
p-ISSN: 1897-2764
Słowa kluczowe polskie: rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; spektroskopia elektronów Augera ; powłoka PVD
Słowa kluczowe angielskie: X-ray photoelectron spectroscopy ; Auger electron spectroscopy ; PVD coating
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4182
Dostęp on-line:


29/32
Nr opisu: 0000029516
Tytuł oryginału: Chemical composition of passive layers formed on metallic biomaterials
Autorzy: Marcin Kaczmarek, Witold Walke, Wojciech Kajzer.
¬ródło: -Arch. Mater. Sci. Eng. 2007 vol. 28 nr 5, s. 273-276, bibliogr. 16 poz.
p-ISSN: 1897-2764
Słowa kluczowe polskie: stop metaliczny ; biomateriały ; XPS ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; warstwa pasywna
Słowa kluczowe angielskie: metallic alloy ; biomaterials ; XPS ; X-ray photoelectron spectroscopy ; passive layer
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4182
Dostęp on-line:


30/32
Nr opisu: 0000031734
Tytuł oryginału: Chemical composition of surface layer of PM1, PM1-2.5, PM2.5-10
Tytuł w wersji polskiej: Skład chemiczny powierzchniowej warstwy pyłu PM1, PM1-2.5, PM2.5-10
Autorzy: K. Klejnowski, E. Talik, Józef Pastuszka, Wioletta* Rogula, A. Krasa.
¬ródło: -Arch. Ochr. ¦rod. 2007 vol. 33 nr 3, s. 89-95, bibliogr. 11 poz.
p-ISSN: 0324-8461
Słowa kluczowe polskie: aerozol atmosferyczny ; skład chemiczny ; warstwa powierzchniowa ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; PM1 ; PM2.5 ; PM10
Słowa kluczowe angielskie: atmospheric aerosol ; chemical composition ; surface layer ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; PM1 ; PM2.5 ; PM10
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.3868


31/32
Nr opisu: 0000031735
Tytuł oryginału: Concentration level and surface chemical composition of urban airborne particles near crossroads in Zabrze, Poland
Tytuł w wersji polskiej: Stężenie, struktura i skład chemiczny powierzchniowej warstwy pyłu atmosferycznego w okolicy skrzyżowania w Zabrzu
Autorzy: Wioletta* Rogula, Józef Pastuszka, E. Talik.
¬ródło: -Arch. Ochr. ¦rod. 2007 vol. 33 nr 2, s. 23-34, bibliogr. 28 poz.
p-ISSN: 0324-8461
Słowa kluczowe polskie: zanieczyszczenie powietrza ; aerozol atmosferyczny ; PM10 ; PM2.5 ; pojazd samochodowy ; emisja spalin ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS
Słowa kluczowe angielskie: air pollution ; atmospheric aerosol ; PM10 ; PM2.5 ; motor vehicle ; exhaust gas emission ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.3868


32/32
Nr opisu: 0000031207
Tytuł oryginału: Optical and chemical characteristics of the atmospheric aerosol in four towns in southern Poland
Autorzy: Józef Pastuszka, A. Wawro¶, E. Talik, K. Paw U.
¬ródło: -Sci. Total Environ. 2003 vol. 309 iss. 1/3, s. 237-251, bibliogr. 31 poz.
Impact Factor: 1.455
p-ISSN: 0048-9697
e-ISSN: 1879-1026
DOI:
Słowa kluczowe polskie: aerozol atmosferyczny ; filtr ; odbicie ; absorpcja ; XPS ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: atmospheric aerosol ; filter ; reflection ; absorption ; XPS ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie