Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SCPI
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000059075
Tytuł oryginału: Uniwersalny system testujący urządzenia elektroniczne.
Autorzy: Jan* Mocha, Zbigniew* Łaskarzewski.
Źródło: W: Informatyka - sztuka czy rzemiosło. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009, s. 57-59, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Uniwersytet Zielonogórski. Instytut Informatyki i Elektroniki, Polskie Towarzystwo Informatyczne. Oddział Wielkopolski
Słowa kluczowe polskie: uniwersalny system testowania ; testowanie ; ATE ; matryca wieloigłowa ; testowanie funkcjonalne ; SCPI ; wtyczka
Słowa kluczowe angielskie: universal testing system ; testing ; ATE ; bed of nails ; functional testing ; SCPI ; plug-in
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000049582
Tytuł oryginału: Uniwersalny system testujący urządzenia elektroniczne
Autorzy: Jan* Mocha, Zbigniew* Łaskarzewski.
Źródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 7, s. 426-428, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: testowanie ; urządzenie elektroniczne ; ATE ; testowanie funkcjonalne ; SCPI ; standardowe polecenia programowanych urządzeń ; wtyczka ; matryca wieloigłowa
Słowa kluczowe angielskie: testing ; electronic device ; ATE ; functional testing ; SCPI ; Standard Commands for Programmable Instruments ; plug-in ; bed of nails
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000043113
Tytuł oryginału: Mechanizmy komunikacji z uniwersalnym urządzeniem testującycm
Autorzy: Zbigniew* Łaskarzewski, Jan* Mocha.
Źródło: -Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 210-212, bibliogr. 5 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: testowanie ; system testowania ; interfejs komunikacyjny ; SCPI ; standardowe polecenia programowanych urządzeń
Słowa kluczowe angielskie: testing ; testing system ; communication interface ; SCPI ; Standard Commands for Programmable Instruments
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie