Wynik wyszukiwania
Zapytanie: MISR
Liczba odnalezionych rekordów: 7



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/7
Nr opisu: 0000124788
Tytuł oryginału: A method to support diagnostics of dynamic faults in networks of interconnections
Autorzy: Tomasz Garbolino.
Źródło: -Int. J. Electron. Telecommun. 2018 vol. 64 nr 3, s. 407-420, bibliogr. 20 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 2081-8491
e-ISSN: 2300-1933
DOI:
Słowa kluczowe polskie: sieć połączeń ; system-on-chip ; diagnostyka ; MISR ; kompakcja ; sygnatura ; chińskie twierdzenie o resztach
Słowa kluczowe angielskie: network of interconnections ; system-on-chip ; diagnostics ; MISR ; compaction ; signature ; Chinese Remainder Theorem
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: OTHER open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


2/7
Nr opisu: 0000057268
Tytuł oryginału: An algorithm of the test pairs minimization by means of the incompatibility graph
Tytuł w wersji polskiej: Algorytm minimalizacji par testowych z użyciem grafu niezgodności
Autorzy: Robert Czerwiński, Tomasz Rudnicki.
Źródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2010 vol. 56 nr 6, s. 573-575, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: MISR ; uszkodzenie opóźnieniowe ; testowanie ; pary testowe
Słowa kluczowe angielskie: MISR ; delay fault ; two-pattern testing
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


3/7
Nr opisu: 0000059081
Tytuł oryginału: Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych.
Autorzy: Tomasz Rudnicki.
Źródło: W: Informatyka - sztuka czy rzemiosło. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009, s. 48-50, bibliogr. 10 poz.
Organizator: Uniwersytet Zielonogórski. Instytut Informatyki i Elektroniki, Polskie Towarzystwo Informatyczne. Oddział Wielkopolski
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; uszkodzenie opóźnieniowe ; MISR ; pary testowe
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; delay fault ; MISR ; test pairs
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


4/7
Nr opisu: 0000049584
Tytuł oryginału: Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych
Autorzy: Tomasz Rudnicki.
Źródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 7, s. 435-437, bibliogr. 10 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: uszkodzenie opóźnieniowe ; rejestr MISR ; pary testowe ; generator obrazu kontrolnego
Słowa kluczowe angielskie: delay fault ; MISR ; test pairs ; test pattern generator ; TPG
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


5/7
Nr opisu: 0000029358
Tytuł oryginału: Generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych
Autorzy: Tomasz Rudnicki.
Źródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2007 nr 7, s. 95-97, bibliogr. 3 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: MISR ; pary testowe ; pokrycie uszkodzeń ; CUT ; ROM
Słowa kluczowe angielskie: MISR ; test pairs ; cover of delay faults ; CUT ; ROM
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


6/7
Nr opisu: 0000028977
Tytuł oryginału: Test pattern generator for delay faults
Autorzy: Tomasz Rudnicki, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: -Theor. Appl. Informat. 2007 vol. 19 no. 1, s. 19-36, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 1896-5334
Słowa kluczowe polskie: uszkodzenie opóźnieniowe ; pary testowe ; MISR ; pamięć tylko do odczytu ; generator obrazu kontrolnego ; generator par testowych
Słowa kluczowe angielskie: delay fault ; test pairs ; MISR ; Read-Only Memory ; test pattern generator ; ROM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.4405
Dostęp on-line:


7/7
Nr opisu: 0000014398
Tytuł oryginału: On detection of interconnect faults by a MISR compactor - unknown problems and new solutions
Tytuł w wersji polskiej: Wykrywanie uszkodzeń w połączeniach przez rejestr MISR - nieznane problemy i nowe rozwiązania
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
Źródło: -Arch. Informat. Teor. Stosow. 2005 t. 17 z. 2, s. 109-126, bibliogr. 19 poz.
p-ISSN: 0867-2121
Słowa kluczowe polskie: BIST ; generator obrazu kontrolnego ; MISR
Słowa kluczowe angielskie: BIST ; test pattern generator ; MISR
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.4405


stosując format:
Nowe wyszukiwanie