Wynik wyszukiwania
Zapytanie: IN2O3
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000103131
Tytuł oryginału: XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation after air exposure
Autorzy: Piotr* Kościelniak, A. Grzeszczak, Jacek Szuber.
Źródło: -Cryst. Res. Technol. 2015 vol. 50 iss. 11, s. 884-890, bibliogr. 30 poz.
Impact Factor: 0.908
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 0232-1300
e-ISSN: 1521-4079
DOI:
Słowa kluczowe polskie: tlenek indu ; In2O3 ; powłoka cienka ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: indium oxide ; In2O3 ; ultrathin film ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/4
Nr opisu: 0000082099
Tytuł oryginału: Optymalizacja technologii RGTO osadzania bardzo cienkich warstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
Autorzy: Jacek Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak.
Źródło: W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 131
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: tlenek przewodzący ; SnO2 ; In2O3 ; warstwa cienka ; nanowarstwa ; stechiometria ; morfologia powierzchni ; AFM ; XPS ; SEM
Słowa kluczowe angielskie: conductive oxide ; SnO2 ; In2O3 ; thin film ; nanolayer ; stoichiometry ; surface morphology ; AFM ; XPS ; SEM
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


3/4
Nr opisu: 0000071524
Tytuł oryginału: XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation
Autorzy: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, Ł. Pawela, Jacek Szuber.
Źródło: -Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.
Impact Factor: 1.890
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: In2O3 ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: In2O3 ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


4/4
Nr opisu: 0000071753
Tytuł oryginału: XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation
Autorzy: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, L. Pawela, Jacek Szuber.
Źródło: -Thin Solid Films 2010 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.
Impact Factor: 1.935
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: In2O3 ; RGVO ; XPS ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: In2O3 ; RGVO ; XPS ; surface chemistry ; surface morphology ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie