Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SURFACE AND THIN FILM STRUCTURES 1997
Liczba odnalezionych rekordów: 13



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/13
Nr opisu: 0000025030
Tytuł oryginału: An UHV experimental system for in situ determination of the electronic properties of metal phthalocyanine thin films by photoemission yield spectroscopy.
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Jacek Szuber.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 502-504, bibliogr. 15 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


2/13
Nr opisu: 0000025761
Tytuł oryginału: Application of the unipole mass filter (UMF) for determination of partial pressuress of gases with near atomic masses.
Autorzy: Aleksander Król, Jacek Szuber, S. Kaszczyszyn.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 505-507, bibliogr. 5 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


3/13
Nr opisu: 0000025768
Tytuł oryginału: Atomic hydrogen gun for cleaning of GaAs surface.
Autorzy: Adam* Girycki, Jacek Szuber.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 495-498, bibliogr. 15 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


4/13
Nr opisu: 0000025890
Tytuł oryginału: Determining of diffusion length of carries in thin films of α-Si:H using SSPG technique.
Autorzy: Marian** Nowak, Anna Starczewska.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 420-424, bibliogr. 12 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


5/13
Nr opisu: 0000026003
Tytuł oryginału: Examination of physical and chemical properties of thin layers of arsenic-silicon glasses by means of an X-ray microprobe.
Autorzy: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski, Michał** Żelechower.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 468-471, bibliogr. 4 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


6/13
Nr opisu: 0000026041
Tytuł oryginału: Influence of insulator-semiconductor interface parameters and bulk parameters on frequency dependence of GaAs MIS conductance.
Autorzy: Stanisław** Kochowski.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 346-350, bibliogr. 9 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


7/13
Nr opisu: 0000026158
Tytuł oryginału: Investigations of α-Si thin film using new technique of variable angle reflectometry (VAR).
Autorzy: Janusz* Jaglarz, Marian** Nowak.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 405-408, bibliogr. 8 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


8/13
Nr opisu: 0000027875
Tytuł oryginału: Investigations of layered semiconductors using photoreflectance.
Autorzy: Mirosława Kępińska, Marian** Nowak, Ewa** Wilk.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 342-345, bibliogr. 11 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


9/13
Nr opisu: 0000026188
Tytuł oryginału: Optical and photoelectrical investigations of Ge20Se69Bi11 thin films.
Autorzy: Mirosława Kępińska, Marian** Nowak, S. Okuniewicz, Barbara Solecka.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 417-419, bibliogr. 9 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


10/13
Nr opisu: 0000026187
Tytuł oryginału: Optical properties of magnetron sputtered α-Si:H treated with a CO2 laser.
Autorzy: Andrzej Grabowski, Marian** Nowak.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 401-404, bibliogr. 10 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


11/13
Nr opisu: 0000026019
Tytuł oryginału: Some optical properties of amorphous In-Se thin films.
Autorzy: A. Michalewicz, B. Jarz±bek, Jan* Cisowski, J. Jurasik, A. Burian, J. Weszka.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 411-416, bibliogr. 15 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


12/13
Nr opisu: 0000026061
Tytuł oryginału: Sulfide passivation of GaAs surface.
Autorzy: Jacek Szuber, G. Hollinger, E. Bergignat.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 328-337, bibliogr. 58 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


13/13
Nr opisu: 0000026115
Tytuł oryginału: The influence of heating of silicon glasses and anodic oxides on their electrophysical properties.
Autorzy: Stanisław* Ło¶, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 450-454, bibliogr. 9 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie