Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PROCEEDINGS OF THE 2009 IEEE SYMPOSIUM ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000056439
Tytuł oryginału: An utilisation of Boolean differential calculus in variables partition calculation for decomposition of logic functions.
Autorzy: S. Kołodziński, Edward** Hrynkiewicz.
Źródło: W: Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 34-37, bibliogr. 11 poz.
Słowa kluczowe polskie: Boole'owski rachunek różniczkowy ; kod Reeda-Mullera ; dekompozycja macierzowa ; dekompozycja Ashenhursta ; funkcja logiczna
Słowa kluczowe angielskie: Boolean Differential Calculus ; Reed-Muller Code ; matrix decomposition ; Ashenhurst decomposition ; logical function
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000056440
Tytuł oryginału: Effective BIST for crosstalk faults in interconnects.
Autorzy: Tomasz Rudnicki, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: W: Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 164-169, bibliogr. 29 poz.
Słowa kluczowe polskie: interkonekt ; przesłuch ; błąd dynamiczny ; tester wbudowany ; IBIST ; LFSR
Słowa kluczowe angielskie: interconnect ; crosstalk ; dynamic fault ; Interconnect Built-In Self-Test ; IBIST ; LFSR
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000056441
Tytuł oryginału: Global parametric faults identification with the use of differential evolution.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
Źródło: W: Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 222-225, bibliogr. 10 poz.
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; diagnostyka uszkodzeń ; wzmacniacz operacyjny
Słowa kluczowe angielskie: analog integrated circuit ; fault diagnosis ; operational amplifier
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie