Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PROCEEDINGS OF THE 13TH IEEE SYMPOSIUM ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000063344
Tytuł oryginału: How to reduce size of a signature-based diagnostic dictionary used for testing of connections.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: W: Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 201-204, bibliogr. 13 poz.
Słowa kluczowe polskie: BIST ; IBIST ; słownik diagnostyczny ; testowanie połączeń ; rejestr pierścieniowy LFSR ; podpis
Słowa kluczowe angielskie: BIST ; IBIST ; diagnostic dictionary ; interconnection testing ; ring LFSR ; signature
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000063339
Tytuł oryginału: Non-disjoint decomposition of logic functions in Reed-Muller spectral domain.
Autorzy: Edward** Hrynkiewicz, S. Kołodziński.
Źródło: W: Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 293-296, bibliogr. 9 poz.
Słowa kluczowe polskie: widmo Reeda-Mullera ; dekompozycja nierozłączna ; Boole'owski rachunek różniczkowy
Słowa kluczowe angielskie: Reed-Muller spectrum ; non-disjoint decomposition ; Boolean Differential Calculus ; FPGA
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000063340
Tytuł oryginału: Testing analog electronic circuits using N-terminal network.
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
Źródło: W: Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 177-180, bibliogr. 7 poz.
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; testowanie układu ; diagnostyka uszkodzeń ; filtracja
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; circuit testing ; fault diagnosis ; filtering
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie