Wynik wyszukiwania
Zapytanie: METROLOGIA W PROCESIE POZNANIA
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000038159
Tytuł oryginału: Model dynamiczny uwzględniający zjawiska zachodzące w części chemicznej i elektronicznej elektrody jonoselektywnej.
Autorzy: Alicja Wiora.
Źródło: W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii KM 2004, Wrocław, 6-9.09.2004. Materiały kongresowe. T. 2. Pod red. J. Mroczki. Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej, 2004, s. 649-652
Organizator: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


2/6
Nr opisu: 0000038162
Tytuł oryginału: Ocena uproszczonej procedury kalibracji parametrów elektrod jonoselektywnych wykonywanych na potrzeby pomiarów wieloskładnikowych.
Autorzy: Andrzej Kozyra, Alicja Wiora, Józef Wiora.
Źródło: W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii KM 2004, Wrocław, 6-9.09.2004. Materiały kongresowe. T. 1. Pod red. J. Mroczki. Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej, 2004
Organizator: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


3/6
Nr opisu: 0000015319
Tytuł oryginału: Probabilistyczny model wyniku pomiaru jako podstawa wyznaczania niepewności.
Autorzy: Jerzy** Jakubiec.
Źródło: W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii KM 2004, Wrocław, 6-9.09.2004. Materiały kongresowe. T. 1. Pod red. J. Mroczki. Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej, 2004, s. 25-28
Organizator: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


4/6
Nr opisu: 0000038160
Tytuł oryginału: Rola współczynników wagowych w procesie optymalizacji parametrów kalibracyjnych elektrod jonoselektywnych.
Autorzy: Józef Wiora.
Źródło: W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii KM 2004, Wrocław, 6-9.09.2004. Materiały kongresowe. T. 2. Pod red. J. Mroczki. Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej, 2004, s. 653-656
Organizator: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


5/6
Nr opisu: 0000082546
Tytuł oryginału: System wspomagający wnioskowanie przy monitorowaniu atmosfery zagrożonej wybuchem lub pożarem.
Autorzy: Tomasz Grychowski.
Źródło: W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii KM 2004, Wrocław, 6-9.09.2004. Materiały kongresowe. T. 2. Pod red. J. Mroczki. Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej, 2004, s. 629-632
Organizator: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


6/6
Nr opisu: 0000015316
Tytuł oryginału: Wirtualny, quasi-zrównoważony układ do pomiaru pojemności.
Autorzy: Adam Cichy.
Źródło: W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii KM 2004, Wrocław, 6-9.09.2004. Materiały kongresowe. T. 1. Pod red. J. Mroczki. Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej, 2004, s. 147-150
Organizator: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie