Wynik wyszukiwania
Zapytanie: 2008 IEEE WORKSHOP ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUITS AND SYSTEM
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000048021
Tytuł oryginału: Excitation optimization in fault diagnosis of analog electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 279-282, bibliogr. 9 poz.
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; diagnostyka błędów ; symulacja obwodów elektronicznych ; transformata falkowa
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; fault diagnosis ; circuit system simulation ; wavelet transform
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000048018
Tytuł oryginału: Interconnect faults identification and localization using modified ring LFSRs.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 247-250, bibliogr. 12 poz.
Słowa kluczowe polskie: LFSR ; diagnostyka błędów ; przesłuch ; wykrywanie błędów
Słowa kluczowe angielskie: LFSR ; fault diagnosis ; crosstalk ; fault detection
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000048020
Tytuł oryginału: The influence of global parametric faults on analogue electronic circuits time domain response features.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 299-303, bibliogr. 8 poz.
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; analiza w dziedzinie czasu ; diagnostyka błędów
Słowa kluczowe angielskie: analog integrated circuit ; time domain analysis ; fault diagnosis
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie