Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ZOU L
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000031531
Tytuł oryginału: LNA design for on-chip RF test.
Autorzy: R. Ramzan, L. Zou, Jerzy** Dąbrowski.
Źródło: W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 4236-4239, bibliogr. 8 poz.
ISBN: 0-7803-9389-9
DOI:
Słowa kluczowe polskie: bitowa stopa błędów ; testowanie układu ; przesłuch ; wykrywanie uszkodzeń ; transceiver
Słowa kluczowe angielskie: bit error rate ; circuit testing ; crosstalk ; fault detection ; transceiver
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie