Nr opisu: | 0000119458 |
Tytuł oryginału: | Al2O3 thin film for photovoltaic application. |
Autorzy: | Magdalena Szindler, Leszek** Dobrzański, Marek Szindler. |
¬ródło: | W: 2nd International Conference InterNanoPoland 2017. International Conference Center, Katowice, 22-23 June, 2017. Abstracts book. Ed. by Marta Zaborowska, Agnieszka Piekara. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2017, s. 104, bibliogr. 3 poz. |
ISBN: | 978-83-944591-2-3 |
Organizator: | The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support NANONET, City of Katowice, Silesian Nano Cluster |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000116920 |
Tytuł oryginału: | Cienkie warstwy ALD stosowane w fotowoltaice i optoelektronice. |
Autorzy: | Paulina Boryło, Marek Szindler, Krzysztof Lukaszkowicz, Magdalena Szindler. |
¬ródło: | W: Szesnasta Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłowo, 05-09.06.2017. Materiały konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2017, pamięć USB (PenDrive) s. 364-365, bibliogr. 16 poz. |
Organizator: | Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej - Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,3 |
Słowa kluczowe polskie: | fotowoltaika ; optoelektronika ; warstwa antyrefleksyjna ; transparentna warstwa przewodz±ca ; osadzanie warstw atomowych |
Słowa kluczowe angielskie: | photovoltaics ; optoelectronics ; antireflection layer ; transparent conducting film ; atomic layer deposition |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000120234 |
Tytuł oryginału: | Krzemowe ogniwo fotowoltaiczne i sposób jego wytwarzania. |
Twórcy: | Leszek** Dobrzański, Aleksandra Drygała, Marek Szindler, Magdalena Szindler, Janusz Wyrwał, Ewa Jonda. |
¬ródło: | Patent. Polska, nr 225 486. Int. Cl. H01L 31/00, H01L 31/042, H01L 31/18, C30B 28/00, C30B 29/06. Politechnika ¦l±ska, Polska Zgłosz. nr 410 404 z 05.12.2014. Opubl. 28.04.2017, s. 1-4 |
Słowa kluczowe polskie: | ogniwo fotowoltaiczne ; krzem polikrystaliczny |
Słowa kluczowe angielskie: | photovoltaic cell ; polycrystalline silicon |
Typ publikacji: | OP |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l. sygn. N/Pt |
Dostęp on-line: | |
Nr opisu: | 0000119457 |
Tytuł oryginału: | Polymeric thin films for photovoltaic application. |
Autorzy: | Magdalena Szindler, Leszek** Dobrzański, Marek Szindler. |
¬ródło: | W: 2nd International Conference InterNanoPoland 2017. International Conference Center, Katowice, 22-23 June, 2017. Abstracts book. Ed. by Marta Zaborowska, Agnieszka Piekara. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2017, s. 103, bibliogr. 3 poz. |
ISBN: | 978-83-944591-2-3 |
Organizator: | The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support NANONET, City of Katowice, Silesian Nano Cluster |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000120324 |
Tytuł oryginału: | Wielowarstwowe barwnikowe ogniwo fotowoltaiczne i sposób jego wytwarzania. |
Twórcy: | J. Weszka, Tomasz Tański, A. Błaszczyk, Magdalena Szindler, Marek Szindler, Aleksandra Drygała, Paweł Jarka. |
¬ródło: | Patent. Polska, nr 225 540. Int. Cl. H01L 31/00, H01L 31/042, H01L 31/0236, H01L 31/0288, H01L 31/101. Politechnika ¦l±ska, Polska Zgłosz. nr 410 428 z 08.12.2014. Opubl. 28.04.2017, 4 s. |
Słowa kluczowe polskie: | ogniwo fotowoltaiczne ; ogniwo wielowarstwowe barwnikowe ; fotosynteza |
Słowa kluczowe angielskie: | photovoltaic cell ; multi-layer dye cell ; photosynthesis |
Typ publikacji: | OP |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l. N/Pt |
Dostęp on-line: | |
Nr opisu: | 0000115902 |
Tytuł oryginału: | Nanostructural materials investigations by transmission electron microscopy. |
Autorzy: | Mirosława Pawlyta, Krzysztof Labisz, Dariusz Łukowiec, Krzysztof Matus, Marek Szindler. |
¬ródło: | W: 1st International Conference InterNanoPoland 2016. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016, s. 20, bibliogr. 3 poz. |
ISBN: | 978-83-944591-0-9 |
Organizator: | The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support NANONET |
Słowa kluczowe polskie: | nanomateriały ; mikroskopia elektronowa ; spektroskopia |
Słowa kluczowe angielskie: | nanomaterials ; electron microscopy ; spectroscopy |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000099585 |
Tytuł oryginału: | The influence of deposition parameters of ZnO thin films by ALD method on optical properties. |
Autorzy: | Paulina Boryło, Krzysztof Lukaszkowicz, Marek Szindler. |
¬ródło: | W: Materiały i technologie XXI wieku. XVII Międzynarodowa studencka sesja naukowa, Katowice, 14 maja 2015. [Dokument elektroniczny]. Red. Marcin Godzierz, Adam Gryc, Paweł Krzywda. [Katowice] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 85-88, bibliogr. 14 poz. |
Organizator: | Wydział Inżynierii Materiałowej i Metalurgii, Studenckie Koło Naukowe MATER-TECH |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,20 |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000093156 |
Tytuł oryginału: | Atomic layer deposition method for optical thin films application. |
Autorzy: | Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Magdalena Szindler. |
¬ródło: | W: SEMDOK 2014. 19th International seminar of Ph.D. students, Terchova, Slovakia, 29-31 January, 2014. University of Zilina. Faculty of Mechanical Engineering. Department of Materials Engineering. Zilina : EDIS - Editing Centre ZU. University of Zilina, 2014, s. 64-67, bibliogr. 8 poz. |
ISBN: | 978-80-554-0832-2 |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,20 |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |