Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SKOCZEK E
Liczba odnalezionych rekordów: 7



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/7
Nr opisu: 0000073603
Tytuł oryginału: Badania topografii i grubo¶ci warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V.
Autorzy: Janusz Szewczenko, J. Jaglarz, Marcin Basiaga, E. Skoczek.
¬ródło: W: Zastosowania elektromagnetyzmu w nowoczesnych technikach i informatyce. XXII Sympozjum ¶rodowiskowe PTZE, Sandomierz, 9-12 wrze¶nia 2012. PTZE Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu [ i in.]. Warszawa : Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu, 2012, s. 203-205
Słowa kluczowe polskie: stop Ti6Al4V ; warstwa pasywna ; biomateriał metalowy ; topografia
Słowa kluczowe angielskie: Ti6Al4V alloy ; passive layer ; metallic biomaterial ; topography
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


2/7
Nr opisu: 0000073913
Tytuł oryginału: Parametry optyczne cienkich warstw krzemionkowych na podłożach krzemowych
Autorzy: E. Skoczek, J. Cisowski, Paweł Karasiński, J. Jaglarz, B. Jarz±bek.
¬ródło: -Mater. Ceram. 2012 R. 64 nr 2, s. 282-285, bibliogr. 11 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 1644-3470
Słowa kluczowe polskie: cienka warstwa krzemowa ; podłoże krzemowe ; porowata krzemionka ; zol-żel ; elipsometria spektroskopowa
Słowa kluczowe angielskie: thin silica film ; silicon substrate ; porous silica ; sol-gel ; spectroscopic ellipsometry
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1906
Dostęp on-line:


3/7
Nr opisu: 0000076148
Tytuł oryginału: Topografia i grubo¶ć warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V
Tytuł w wersji angielskiej: Topography of thickness of passive layers on anodically oxidized Ti6Al4V alloys
Autorzy: Janusz Szewczenko, J. Jaglarz, Marcin Basiaga, J. Kurzyk, E. Skoczek, Zbigniew Paszenda.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2012 R. 88 nr 12b, s. 228-231, bibliogr. 20 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: stop Ti-6Al-4V ; biomateriały ; warstwa pasywna ; ¶wiatło ; rozpraszanie ; warstwa cienka ; optyka cienkich warstw
Słowa kluczowe angielskie: Ti6Al4V alloy ; biomaterials ; passive layer ; light ; scattering ; thin film ; thin films optics
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


4/7
Nr opisu: 0000068198
Tytuł oryginału: Ellipsometric and spectrophotometric investigations of porous silica thin films produced by sol-gel method
Autorzy: E. Skoczek, J. Jaglarz, Paweł Karasiński.
¬ródło: -Acta Phys. Pol. A 2011 vol. 120 no. 4, s. 732-735, bibliogr. 12 poz.
Impact Factor: 0.444
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0587-4246
e-ISSN: 1898-794X
Słowa kluczowe polskie: metoda zol-żel ; warstwa krzemionkowa ; SiO2
Słowa kluczowe angielskie: sol-gel method ; silica thin film ; SiO2
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2936
Dostęp on-line:


5/7
Nr opisu: 0000087947
Tytuł oryginału: Ellipsometric and spectrophotometric investigations of the optical properties of porous silica thin films produced by sol-gel method.
Autorzy: E. Skoczek, Paweł Karasiński, J. Jaglarz, J. Mazur.
¬ródło: W: Integrated optics - sensors, sensing structures and methods. IOS 2011, Szczyrk - Beskidy Mountains, Poland, 28th February to 4th March 2011. Program. [B.m.] : [b.w.], 2011, s. [24]
Organizator: Department of Optoelectronics. Silesian University of Technology [et al.]
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K


6/7
Nr opisu: 0000067731
Tytuł oryginału: Optical properties of silica antireflective films formed in sol-gel processes
Autorzy: J. Jaglarz, Paweł Karasiński, E. Skoczek.
¬ródło: -Phys. Status Solidi, C Curr. Top. Solid State Phys. 2011 vol. 8 iss. 9, s. 2645-2648, bibliogr. 9 poz.
p-ISSN: 1610-1634
e-ISSN: 1610-1642
DOI:
Słowa kluczowe polskie: antyrefleksyjna powłoka ; krzemionka porowata ; elipsometria ; zol-żel
Słowa kluczowe angielskie: antireflective coating ; porous silica ; ellipsometry ; sol-gel
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


7/7
Nr opisu: 0000067997
Tytuł oryginału: Porous silica xerogel films as antireflective coatings Fabrication and characterization
Autorzy: Paweł Karasiński, J. Jaglarz, M. Reben, E. Skoczek, Jacek* Mazur.
¬ródło: -Opt. Mater. 2011 vol. 33 iss. 12, s. 1989-1994, bibliogr. 19 poz.
Impact Factor: 2.023
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0925-3467
e-ISSN: 1873-1252
Słowa kluczowe polskie: krzemionka porowata ; zol-żel ; powłoka antyrefleksyjna
Słowa kluczowe angielskie: porous silica ; sol-gel ; antireflective coating
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie