Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SANTUCCI S
Liczba odnalezionych rekordów: 10



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/10
Nr opisu: 0000063356
Tytuł oryginału: Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.
Impact Factor: 1.795
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


2/10
Nr opisu: 0000056850
Tytuł oryginału: Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates
Autorzy: Maciej Krzywiecki, L. Ottaviano, Lucyna Grz±dziel, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 5, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; wła¶ciwo¶ci powierzchniowe ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; mikroskopia sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/10
Nr opisu: 0000056438
Tytuł oryginału: Local surface morphology and chemistry of SnO2 thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application
Autorzy: L. Ottaviano, Monika Kwoka, F. Bisti, P. Parisse, V. Grossi, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 22, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 1.727
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; RGTO ; podłoże krzemowe ; stechiometria ; dyfrakcja rentgenowska ; wytrzymało¶ć na zginanie ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO) ; surface morphology ; stoichiometry ; X-ray diffraction ; scanning electron microscopy ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/10
Nr opisu: 0000048128
Tytuł oryginału: XPS study of air exposed copper phthalocyanine ultra-thin films deposited on Si(111) native substrates
Autorzy: Maciej Krzywiecki, L. Grzadziel, L. Ottaviano, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Mater. Sci. Pol. 2008 vol. 26 no. 2, s. 287-294, bibliogr. 21 poz.
Impact Factor: 0.368
p-ISSN: 2083-1331
e-ISSN: 2083-134X
Słowa kluczowe polskie: ftalocyjanina miedzi ; CuPc ; warstwa cienka ; chemia powierzchni
Słowa kluczowe angielskie: copper phthalocyanine ; CuPc ; thin film ; surface chemistry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4054
Dostęp on-line:


5/10
Nr opisu: 0000047687
Tytuł oryginału: XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO2 thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz.
Impact Factor: 1.576
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; domieszkowanie Ag ; XPS ; chemia powierzchni ; profilowanie głęboko¶ciowe
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; Ag-doping ; XPS ; surface chemistry ; depth profiling
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


6/10
Nr opisu: 0000025450
Tytuł oryginału: Comparative photoemission study of the electronic properties of L-CVD SnO2 thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7734-7738, bibliogr. 23 poz.
Uwagi: Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005
Impact Factor: 1.436
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; nakładanie L-CVD ; wła¶ciwo¶ci elektroniczne warstwy ładunku przestrzennego ; poziom Fermiego ; elektroniczne pasmo wzbronione
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; thin film ; L-CVD deposition ; electronic properties of space charge layer ; Fermi level ; electronic band gap
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


7/10
Nr opisu: 0000023051
Tytuł oryginału: Surface morphology of L-CVD SnO2 thin films for gas sensor application.
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 46
Organizator: Centre of Excellence in Physics and Technology of Semiconductor Interfaces and Sensors (CESIS). Department of Electron Technology. Silesian University of Technology, Gliwice, Poland
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 116437


8/10
Nr opisu: 0000025442
Tytuł oryginału: XPS depth profiling studies of L-CVD SnO2 thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7730-7733, bibliogr. 14 poz.
Uwagi: Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005
Impact Factor: 1.436
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; profilowanie głęboko¶ciowe ; XPS
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; thin film ; depth profiling ; XPS
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


9/10
Nr opisu: 0000023052
Tytuł oryginału: XPS studies of surface chemistry and electronic properties of Ag-doped L-VCD SnO2 thin films.
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 47, bibliogr. 8 poz.
Organizator: Centre of Excellence in Physics and Technology of Semiconductor Interfaces and Sensors (CESIS). Department of Electron Technology. Silesian University of Technology, Gliwice, Poland
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 116437


10/10
Nr opisu: 0000021704
Tytuł oryginału: XPS study of the surface chemistry of L-CVD SnO2 thin films after oxidation
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Grzegorz* Czempik, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2005 vol. 490 iss. 1, s. 36-42, bibliogr. 18 poz.
Impact Factor: 1.569
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; osadzanie ; utlenianie
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; thin film ; deposition ; oxidation
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie