Wynik wyszukiwania
Zapytanie: RUTKOWSKI JERZY
Liczba odnalezionych rekordów: 183



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/183
Nr opisu: 0000124078
Tytuł oryginału: Effective computer-assisted assessment: challenges and solutions.
Autorzy: Katarzyna Mo¶cińska, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of 2018 IEEE Global Engineering Education Conference (EDUCON), 17-20 April, 2018, Santa Cruz de Tenerife, Canary Islands, Spain. Piscataway : IEEE, 2018, s. 989-978, bibliogr. 18 poz.
ISBN: 978-1-5386-2958-1978-1-5386-2957-4
Liczba arkuszy wydawniczych: 1,1
Bazy indeksuj±ce publikację: Scopus; IEEE Xplore; INSPEC; Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: ocenianie wspomagane komputerowo ; ocena formatywna ; ocena sumatywna ; nauczanie wspomagane technologi± ; nauka samodzielna
Słowa kluczowe angielskie: computer assisted assessment ; formative assessment ; summative assessment ; technology enhanced learning ; self-directed learning
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


2/183
Nr opisu: 0000106542
Tytuł oryginału: Evaluation of the correlation between formative tests and final exam results Theory of Information Approach
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Int. J. Electron. Telecommun. 2016 vol. 62 no. 1, s. 55-60, bibliogr. 16 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 2081-8491
e-ISSN: 2300-1933
Słowa kluczowe polskie: nauczanie wspomagane technologi± ; ocenianie wspomagane komputerowo
Słowa kluczowe angielskie: technology enhanced learning ; computer assisted assessment
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: CC-BY-NC-ND
Dostęp on-line:


3/183
Nr opisu: 0000099173
Tytuł oryginału: Identification of circuit parameters for the specified or measured performances
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Int. J. Electron. Telecommun. 2015 vol. 61 no. 1, s. 95-100, bibliogr. 13 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0867-6747
DOI:
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; identyfikacja parametrów ; diagnostyka uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; parameter identification ; fault diagnosis
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


4/183
Nr opisu: 0000104901
Tytuł oryginału: Moodle-based computer-assisted assessment in flipped classroom.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Smart education and smart e-learning. 2nd International KES conference, Sorrento, Italy, June 17-19, 2015. Eds.: Vladimir L. Uskov, Robert J. Howlett, Lakhmi C. Jain. Berlin : Springer, 2015, s. 37-46, bibliogr. 16 poz.
ISBN: 978-3-319-19874-3978-3-319-19875-0
Seria: (Smart Innovation, Systems and Technologies ; vol. 41 2190-3018)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,5
Bazy indeksuj±ce publikację: Scopus; Springer; Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: nauczanie wspomagane technologi± ; ocenianie wspomagane komputerowo
Słowa kluczowe angielskie: technology enhanced learning ; computer assisted assessment ; flip teaching
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


5/183
Nr opisu: 0000113908
Tytuł oryginału: Flipped classroom - from experiment to practice.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Smart Digital Futures 2014. KES International Conference on Smart Digital Futures (SDF), Chania, Greece, June 18-20 2014. Ed. R. Neves-Silva, G. A. Tsihrintzis, V. Uskov, R. J. Howlett, L. C. Jain. Amsterdam : IOS Press, 2014, s. 565-574
ISBN: 978-1-61499-404-6978-1-61499-405-3
Seria: (Frontiers in Artificial Intelligence and Applications ; 262 0922-6389)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,5
Bazy indeksuj±ce publikację: Web of Science; Scopus
DOI:
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


6/183
Nr opisu: 0000082465
Tytuł oryginału: Evolutionary algorithms for global parametric fault diagnosis in analogue integrated circuits
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2012 vol. 60 no. 1, s. 133-142, bibliogr. 38 poz.
Impact Factor: 0.980
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0239-7528
e-ISSN: 0239-7528
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; diagnozowanie usterek ; lokalizacja ; identyfikacja ; algorytm ewolucyjny
Słowa kluczowe angielskie: analogue integrated circuit ; fault diagnosis ; localization ; identification ; evolutionary algorithm
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1277
Dostęp on-line:


7/183
Nr opisu: 0000083530
Tytuł oryginału: From traditional lecture to video-podcast based lecture.
Tytuł w wersji polskiej: Od tradycyjnych wykładów do wykładów opartych na bibliotece klipów wideo
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mo¶cińska.
¬ródło: W: Proceedings of the 15th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education. CATE 2012, Napoli, Italy, June 25-27, 2012. Ed. Vladimir Uskov. Anaheim : Acta Press, 2012, s. 133-140
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


8/183
Nr opisu: 0000083527
Tytuł oryginału: Increasing teaching efficiency - are they ready for new technology?.
Tytuł w wersji polskiej: Zwiększenie skuteczno¶ci nauczania - czy jeste¶my gotowi na nowe technologie?
Autorzy: Katarzyna Mo¶cińska, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the 15th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education. CATE 2012, Napoli, Italy, June 25-27, 2012. Ed. Vladimir Uskov. Anaheim : Acta Press, 2012, s. 170-176
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


9/183
Nr opisu: 0000083226
Tytuł oryginału: Rethinking e-assessment in a core engineering course.
Autorzy: Katarzyna Mo¶cińska, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the 2012 IEEE Global Engineering Education Conference (EDUCON), Marrakech, Morocco, 17-20 April 2012 r [online]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2012, (plik PDF) s. 1-4, bibliogr. 11 poz.
Uwagi: Dostępny w Internecie: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6201136 [dostęp 13 maja 2012]
DOI:
Słowa kluczowe polskie: blended learning ; ocena sumatywna ; ocena formatywna
Słowa kluczowe angielskie: blended learning ; summative assessment ; formative assessment
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


10/183
Nr opisu: 0000071090
Tytuł oryginału: Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Metrol. Meas. Syst. 2012 vol. 19 nr 1, s. 73-84, bibliogr. 20 poz.
Impact Factor: 0.982
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 0860-8229
Słowa kluczowe polskie: obliczenia ewolucyjne ; testowanie układu analogowego ; nieszczelno¶ć izolacji
Słowa kluczowe angielskie: evolutionary computations ; analogue circuit testing ; fault isolation
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4407
Dostęp on-line:


11/183
Nr opisu: 0000071521
Tytuł oryginału: A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 110-113, bibliogr. 15 poz.
Impact Factor: 0.244
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analogue electronic circuit ; artificial neural network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


12/183
Nr opisu: 0000069623
Tytuł oryginału: An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features
Tytuł w wersji polskiej: Sterowane specyfikacj± testowanie układów analogowych z wykorzystaniem aproksymacji w dziedzinie cech odpowiedzi
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 65-68, bibliogr. 11 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: elektronika analogowa ; układ analogowy ; triangulacja Delaunaya ; testowanie sterowane specyfikacj±
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronics ; analogue circuit ; Delaunay's triangulation ; specification driven testing
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


13/183
Nr opisu: 0000081583
Tytuł oryginału: An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 485-489
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; testowanie funkcjonalne ; czas odpowiedzi
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronic circuits ; functional testing ; response time
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


14/183
Nr opisu: 0000083507
Tytuł oryginału: Barriers to introduction of e-learning: a case study.
Autorzy: Katarzyna Mo¶cińska, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Learning environments and ecosystems in engineering education. 2011 IEEE Global Engineering Education Conference (EDUCON), Amman, Jordan, 04-06 April 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 460-465, bibliogr. 8 poz.
Słowa kluczowe polskie: e-learning ; system zarz±dzania nauczaniem ; innowacja ; edukacja ; pedagogika
Słowa kluczowe angielskie: e-learning ; Learning Management Systems ; innovation ; education ; pedagogy
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


15/183
Nr opisu: 0000083262
Tytuł oryginału: Blended engineering course - electric circuit theory case study.
Tytuł w wersji polskiej: Kurs inżynierski z mieszanym wykładem - przykład Teorii Obwodów Elektrycznych
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mo¶cińska.
¬ródło: W: 2011 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS, Rio de Janeiro, Brazil, 15-18. May 2011. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 333-336, bibliogr. 7 poz.
DOI:
Słowa kluczowe polskie: animacja ; teoria obwodów ; komputer ; edukacja ; zintegrowane modelowanie obiegu ; materiały ; oprogramowanie
Słowa kluczowe angielskie: animation ; circuit theory ; computer ; education ; integrated circuit modeling ; materials ; software
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


16/183
Nr opisu: 0000068427
Tytuł oryginału: Czwórnikowa metoda testowania 4-tBT analogowych układów elektronicznych
Tytuł w wersji angielskiej: Four terminal method 4-tBT of analog electronic circuit
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 76-79, bibliogr. 7 poz.
Impact Factor: 0.244
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: czwórnikowa metoda testowania ; 4-tBT ; uszkodzenie katastroficzne
Słowa kluczowe angielskie: 4-terminal based test ; 4-tBT ; catastrophic fault
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


17/183
Nr opisu: 0000082608
Tytuł oryginału: Czwórnikowa metoda testowania N-tBT analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 229
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: czwórnikowa metoda testowania ; N-tBT ; uszkodzenie katastroficzne
Słowa kluczowe angielskie: 4-terminal based test ; N-tBT ; catastrophic fault
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


18/183
Nr opisu: 0000083511
Tytuł oryginału: How to encourage digital natives to "analog courses".
Autorzy: Katarzyna Mo¶cińska, Jerzy** Rutkowski, Piotr* Jantos.
¬ródło: W: International Conference on Engineering Education. ICEE'2011. Belfast, 21-26.08.2011 Proceedings. [Dokument elektroniczny]. Belfast : [b.w.], 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-6
Organizator: International Network on Engineering Education and Research
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


19/183
Nr opisu: 0000083522
Tytuł oryginału: Links between technology-based education and engineering education research - Electric Circuit Theory case study.
Tytuł w wersji polskiej: Zwi±zki pomiędzy edukacj± wspomagan± e-technologiami i badaniami edukacji inżynierskiej - przykład Teorii Obwodów Elektrycznych
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mo¶cińska.
¬ródło: W: Proceedings of the 14th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education. CATE 2011, Cambridge, July 11-13, 2011. Ed. V. Uskov. Anaheim : Acta Press, 2011, s. 152-159
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


20/183
Nr opisu: 0000082617
Tytuł oryginału: Maksymalizacja tolerancji w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 236
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; elektronika analogowa ; algorytm genetyczny ; tolerancja elementów ; uszkodzenie katastroficzne ; lokalizacja uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; analogue electronics ; genetic algorithm ; components tolerance ; catastrophic fault ; fault location
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


21/183
Nr opisu: 0000070646
Tytuł oryginału: Testowanie elektronicznych układów analogowych z wykorzystaniem wielowymiarowej przestrzeni poszukiwań i algorytmów zbiorowej inteligencji. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Piotr* Kyzioł.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2011
Opis fizyczny: , 157 k., bibliogr.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: prof. dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; algorytm zbiorowej inteligencji ; układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie: analogue circuit ; collective intelligence algorithm ; electronic system
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-4801 + CD
Dostęp BCP¦:


22/183
Nr opisu: 0000082610
Tytuł oryginału: Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego.
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 231
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analog electronic circuit ; artificial neural network
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


23/183
Nr opisu: 0000068432
Tytuł oryginału: Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits
Tytuł w wersji polskiej: Maksymalizacja tolerancji w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 159-163, bibliogr. 18 poz.
Impact Factor: 0.244
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; elektronika analogowa ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; analogue electronics ; components tolerance ; genetic algorithm
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


24/183
Nr opisu: 0000082611
Tytuł oryginału: Zastosowanie pobudzenia pasmowego do testowania analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 232
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; testowanie układu analogowego ; obliczenia ewolucyjne ; gęsto¶ć widmowa ; szereg Fouriera
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; analogue circuit testing ; evolutionary computations ; spectral density ; Fourier series
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


25/183
Nr opisu: 0000069301
Tytuł oryginału: An analogue electronic circuits diagnosis with the use of evolutionary algorithms.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'10, Gliwice, Poland, September 7-10, 2010. Conference proceedings. Ed. Andrzej Pułka, Tomasz Golonek. Gliwice : [Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2010, s. 289-292, bibliogr. 12 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


26/183
Nr opisu: 0000063371
Tytuł oryginału: An analogue integrated circuits yield optimisation with the use of genetic algorithm.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'10, Gliwice, Poland, September 7-10, 2010. Conference proceedings. Ed. Andrzej Pułka, Tomasz Golonek. Gliwice : [Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2010, s. 293-296, bibliogr. 12 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


27/183
Nr opisu: 0000063360
Tytuł oryginału: Analog IC fault diagnosis by means of supply current monitoring in test points selected evolutionarily.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'10, Gliwice, Poland, September 7-10, 2010. Conference proceedings. Ed. Andrzej Pułka, Tomasz Golonek. Gliwice : [Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2010, s. 397-400, bibliogr. 7 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


28/183
Nr opisu: 0000067364
Tytuł oryginału: Application of Bloom's taxonomy for increasing teaching efficiency - case study.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mo¶cińska, Piotr* Jantos.
¬ródło: W: International Conference on Engineering Education. ICEE'2010, Gliwice, Poland, July 18-22, 2010. Proceedings. [Dokument elektroniczny]. Gliwice : Silesian University of Technology, 2010, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-6, bibliogr. 9 poz.
Słowa kluczowe polskie: teoria obwodów ; taksonomia Blooma ; blended learning
Słowa kluczowe angielskie: circuit theory ; Bloom's taxonomy ; blended learning
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 E-160
Dostęp on-line:


29/183
Nr opisu: 0000069954
Tytuł oryginału: Barriers to innovation in e-pedagogy: a case study.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mo¶cińska.
¬ródło: W: Proceedings of the 13th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education, Maui, USA, August 23-25, 2010. Ed. V. Uskov. Anaheim : Acta Press, 2010, s. 147-151
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


30/183
Nr opisu: 0000059491
Tytuł oryginału: Diagnostyka analogowych układów scalonych metod± monitorowania pr±du zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 17-20, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: genotyp ; populacja ; reprodukcja ; krzyżowanie ; mutacja ; diagnostyka ; analogowy układ scalony
Słowa kluczowe angielskie: genotype ; population ; reproduction ; crossover ; mutation ; diagnosis ; analog integrated circuit
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


31/183
Nr opisu: 0000082627
Tytuł oryginału: Diagnostyka analogowych układów scalonych metod± monitorowania pr±du zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziewi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010, s. 48
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: genotyp ; populacja ; reprodukcja ; krzyżowanie ; mutacja ; diagnostyka ; analogowy układ scalony
Słowa kluczowe angielskie: genotype ; population ; reproduction ; crossover ; mutation ; diagnosis ; analog integrated circuit
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


32/183
Nr opisu: 0000070254
Tytuł oryginału: Diagnostyka globalnych uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach scalonych.
Autorzy: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziewi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010, s. 45
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; algorytm ewolucyjny ; diagnostyka
Słowa kluczowe angielskie: analog integrated circuit ; evolutionary algorithm ; diagnostics
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


33/183
Nr opisu: 0000061264
Tytuł oryginału: Multidimensional search space in testing and diagnosis of analogue electronic circuits
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2010 R. 86 nr 11a, s. 251-255, bibliogr. 11 poz.
Impact Factor: 0.242
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: wielowymiarowa przestrzeń poszukiwań ; układ analogowy ; PSO ; diagnostyka
Słowa kluczowe angielskie: multidimensional search space ; analog circuit ; particle swarm optimization ; diagnosis
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


34/183
Nr opisu: 0000063214
Tytuł oryginału: PCA application to frequency reduction for fault diagnosis in analog and mixed electronic circuit.
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Nano-bio circuit fabrics and systems. IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS, Paris, France, May 30th - June 2nd, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 1919-1922, bibliogr. 6 poz.
DOI:
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


35/183
Nr opisu: 0000063512
Tytuł oryginału: Searching groups and layouts in N-terminal based test method using heuristic PSO algorithm.
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'10, Gliwice, Poland, September 7-10, 2010. Conference proceedings. Ed. Andrzej Pułka, Tomasz Golonek. Gliwice : [Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2010, s. 217-220, bibliogr. 3 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


36/183
Nr opisu: 0000059493
Tytuł oryginału: Synteza impedancji dwójnika pasywnego RLC z wykorzystaniem algorytmu programowania genetycznego
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 24-28, bibliogr. 8 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: dwójnik ; impedancja ; programowanie genetyczne
Słowa kluczowe angielskie: two-terminal network ; impedance ; genetic programming
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


37/183
Nr opisu: 0000063340
Tytuł oryginału: Testing analog electronic circuits using N-terminal network.
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
¬ródło: W: Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 177-180, bibliogr. 7 poz.
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; testowanie układu ; diagnostyka uszkodzeń ; filtracja
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; circuit testing ; fault diagnosis ; filtering
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


38/183
Nr opisu: 0000069290
Tytuł oryginału: The use of field programmable analog array for heart beat detection.
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the Seventh IASTED International Conference on Biomedical Engineering, Innsbruck, Austria, February 17-19, 2010.. Vol. 1. Ed. A. Hierlemann. Anaheim : Acta Press, 2010, s. 109-113
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


39/183
Nr opisu: 0000063337
Tytuł oryginału: The use of FPAA in signal processing laboratory for biomedical engineering students.
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'10, Gliwice, Poland, September 7-10, 2010. Conference proceedings. Ed. Andrzej Pułka, Tomasz Golonek. Gliwice : [Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2010, s. 453-456, bibliogr. 6 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


40/183
Nr opisu: 0000062783
Tytuł oryginału: Wykorzystanie układu FPAA w laboratorium przetwarzania sygnałów dla studentów kierunku inżynieria biomedycznych
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 95-98, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: przetwarzanie sygnałów ; inżynieria biomedyczna ; e-learning ; ćwiczenia laboratoryjne
Słowa kluczowe angielskie: signal processing ; biomedical engineering ; e-learning ; laboratory exercises
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


41/183
Nr opisu: 0000062781
Tytuł oryginału: Zastosowanie algorytmu genetycznego do optymalizacji uzysku analogowych układów scalonych
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 84-86, bibliogr. 12 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: analiza Monte Carlo ; technologia CMOS ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: Monte Carlo analysis ; CMOS technology ; genetic algorithm
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


42/183
Nr opisu: 0000056513
Tytuł oryginału: A global parametric faults diagnosis with the use of artificial neural networks.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 651-654, bibliogr. 11 poz.
Organizator: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Słowa kluczowe polskie: sztuczna sieć neuronowa ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ scalony
Słowa kluczowe angielskie: artificial neural network ; fault diagnosis ; analog integrated circuit
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


43/183
Nr opisu: 0000056507
Tytuł oryginału: Analog circuit state identification by means of differential evolution.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, ŁódĽ, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. ŁódĽ : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009, s. 509-512
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


44/183
Nr opisu: 0000087534
Tytuł oryginału: Blended Education at Large Technical University Located in Highly Urbanized Metropolitan Region
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mo¶cińska, Piotr Kłosowski.
¬ródło: -J. Educ. Informat. Cybern. 2009 vol. 1 no. 3, s. 42-47, bibliogr. 12 poz.
p-ISSN: 1943-7978
Słowa kluczowe polskie: zaawansowana technologia w edukacji ; rozwój kadry ; e-learning
Słowa kluczowe angielskie: advanced technology in education ; development of staff ; e-learning
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


45/183
Nr opisu: 0000056508
Tytuł oryginału: Classification of analog circuit states using PSO in the multidimensional space of solutions.
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, ŁódĽ, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. ŁódĽ : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009, s. 513-518
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


46/183
Nr opisu: 0000055513
Tytuł oryginału: Diagnostyka uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach elektronicznych z wykorzystaniem metod sztucznej inteligencji. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Piotr* Jantos.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2009
Opis fizyczny: , 161 k., bibliogr. 71 poz.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: prof. dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka ; układ analogowy ; słownik uszkodzeń ; sztuczna inteligencja
Słowa kluczowe angielskie: diagnostics ; analog circuit ; dictionary of damages ; artificial intelligence
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. Cz. Ab. R-4581 + CD
Dostęp BCP¦:


47/183
Nr opisu: 0000052095
Tytuł oryginału: Ewolucyjna metoda identyfikacji diagnostycznego stanu liniowego układu analogowego
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2009 R. 85 nr 11, s. 135-138, bibliogr. 7 poz.
Impact Factor: 0.196
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka układów analogowych ; ewolucja różnicowa ; transmitancja operatorowa
Słowa kluczowe angielskie: analog fault diagnosis ; differential evolution ; transfer function
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


48/183
Nr opisu: 0000051444
Tytuł oryginału: Ewolucyjna metoda identyfikacji stanu liniowego układu analogowego.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Ósma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 07-10 czerwca 2009]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2009, s. 58
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Typ publikacji: K
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


49/183
Nr opisu: 0000055677
Tytuł oryginału: Fault diagnosis in analog electronic circuits - the SVM approach
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Metrol. Meas. Syst. 2009 vol. 16 nr 4, s. 582-597, bibliogr. 29 poz.
p-ISSN: 0860-8229
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; obwód elektroniczny ; Maszyna Wektorów No¶nych ; SVM
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; electronic circuit ; Support Vector Machine ; SVM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4407
Dostęp on-line:


50/183
Nr opisu: 0000054333
Tytuł oryginału: Global parametric fault identification in analog electronic circuits
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Metrol. Meas. Syst. 2009 vol. 16 nr 3, s. 391-402, bibliogr. 23 poz.
p-ISSN: 0860-8229
Słowa kluczowe polskie: uszkodzenia parametryczne ; identyfikacja ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: parametric faults ; identification ; artificial neural network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4407
Dostęp on-line:


51/183
Nr opisu: 0000056441
Tytuł oryginału: Global parametric faults identification with the use of differential evolution.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 222-225, bibliogr. 10 poz.
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; diagnostyka uszkodzeń ; wzmacniacz operacyjny
Słowa kluczowe angielskie: analog integrated circuit ; fault diagnosis ; operational amplifier
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


52/183
Nr opisu: 0000058974
Tytuł oryginału: ICT supported engineering course - case study and guidelines.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mo¶cińska.
¬ródło: W: 12th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education. (CATE 2009), St. Thomas, US Virgin Islands, 22-24 November 2009. Ed. V. Uskov. Red Hook : Curran, 2010, s. 129-136
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


53/183
Nr opisu: 0000056512
Tytuł oryginału: Multidimensional search space for catastrophic faults diagnosis in analog electronic circuits.
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 555-558, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Słowa kluczowe polskie: bł±d katastrofalny ; algorytm roju cz±stek ; przestrzeń wielowymiarowa ; tester
Słowa kluczowe angielskie: catastrophic fault ; particle swarm algorithm ; multidimensional space ; tester
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


54/183
Nr opisu: 0000056514
Tytuł oryginału: Specialised aperiodic excitation and wavelet transform improves analogue fault diagnosis.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 655-658, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; detekcja uszkodzeń ; transformata falkowa ; algorytm genetyczny ; elektronika analogowa
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; fault detection ; wavelet transform ; genetic algorithm ; analogue electronics
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


55/183
Nr opisu: 0000059062
Tytuł oryginału: Specialised excitation and wavelet transform in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: II International Interdisciplinary Technical Conference of Young Scientist. InterTech 2009, Poznań, Poland, 20-22 May 2009. Proceedings. Ed. W. Karpiuk, K. Wi¶niewski. Uczelniany Samorz±d Doktorantów Politechniki Poznańskiej. Poznań : Uczelniany Samorz±d Doktorantów Politechniki Poznańskiej, 2009, s. 138-142
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


56/183
Nr opisu: 0000055481
Tytuł oryginału: Testowanie analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem dedykowanych pobudzeń aperiodynycznych. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2009
Opis fizyczny: , 137 k., bibliogr. 93 poz.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: prof. dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; algorytm genetyczny ; transformata falkowa ; detekcja uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; genetic algorithm ; wavelet transform ; fault detection
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-4595 + CD
Dostęp BCP¦:


57/183
Nr opisu: 0000052106
Tytuł oryginału: Wykorzystanie algorytmu PSO w diagnostyce analogowych układów elektronicznych
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
¬ródło: -Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 57-59, bibliogr. 5 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: optymalizacja rojem cz±stek ; PSO ; analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie: particle swarm optimization ; PSO ; analog electronic circuit
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


58/183
Nr opisu: 0000071585
Tytuł oryginału: Blended education at large technical university located in highly urbanized metropolitan region.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mo¶cińska, Piotr Kłosowski.
¬ródło: W: The 2nd International Multi-Conference on Society, Cybernetics and Informatics. IMSCI '08, Orlando, USA, June 29th - July 2nd, 2008 [consisting of 6th International Conference on Education and Information Systems, Technologies and Applications (EISTA), 4th International Conference on Social and Organizational Informatics and Cybernetics (SOIC), 6th International Conference on Politics and Information Systems, Technologies and Applications (PISTA)]. Proceedings. Orlando : International Institute of Informatics and Systemics, 2008, s. 160-165
Organizator: International Institute of Informatics and Systemics
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


59/183
Nr opisu: 0000050793
Tytuł oryginału: Diagnosis of specification parametric faults in the FPAA - the RBF neural network approach.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: New aspects on computing research. Proceedings of the 2nd European Computing Conference (ECC'08), Malta, September 11-13, 2008. Eds: Costin Cepisca, Guennadi A. Kouzaev, Nikos E. Mastorakis. [B.m.] : WSEAS Press, 2008, s. 275-280, bibliogr. 8 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


60/183
Nr opisu: 0000043106
Tytuł oryginału: Dopasowanie impedancyjne w systemach radiowej identyfikacji RFID na przykładzie układu TRF7960
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 155-158, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: dopasowanie impedancyjne ; RFID ; identyfikacja radiowa ; antena ; TRF7960
Słowa kluczowe angielskie: impedance matching ; RFID ; radio frequency identification ; antenna ; TRF7960
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


61/183
Nr opisu: 0000050168
Tytuł oryginału: Estimation of the FPAA specification with use of the Artificial Neural Network.
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of [6th] IEEE East-West Design and Test Symposium. EWDTS'08, Lviv, Ukraine, October 9-12, 2008. Kharkov : SPD FL Stepanov V.V., 2008, s. 219-222
Organizator: Kharkov National University of Radioelectronics
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


62/183
Nr opisu: 0000038042
Tytuł oryginału: Evolutionary methods to analogue electronic circuits yield optimisation
Autorzy: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2008 vol. 56 no. 1, s. 9-16, bibliogr. 8 poz.
p-ISSN: 0239-7528
e-ISSN: 0239-7528
Słowa kluczowe polskie: algorytm ewolucyjny ; wydajno¶ć parametryczna ; koszt produkcji ; optymalizacja ; koszt obliczeniowy
Słowa kluczowe angielskie: evolutionary algorithm ; parametric yield ; production cost ; optimization ; computation cost
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1277
Dostęp on-line:


63/183
Nr opisu: 0000048021
Tytuł oryginału: Excitation optimization in fault diagnosis of analog electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 279-282, bibliogr. 9 poz.
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; diagnostyka błędów ; symulacja obwodów elektronicznych ; transformata falkowa
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; fault diagnosis ; circuit system simulation ; wavelet transform
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


64/183
Nr opisu: 0000050448
Tytuł oryginału: Five years of Faculty Distant Education Platform - how it changed education process.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mo¶cińska, Piotr Kłosowski.
¬ródło: W: Globalization of education through advanced technology. Proceedings of the 11th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education. [CATE 2008], Crete, Greece, September 29 - October 01, 2008,. Ed. V. Uskov. Anaheim : Acta Press, 2008, s. 94-99
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


65/183
Nr opisu: 0000050791
Tytuł oryginału: Global parametric faults in analogue integrated circuits: two approaches to classification with the use of differential evolution.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: New aspects on computing research. Proceedings of the 2nd European Computing Conference (ECC'08), Malta, September 11-13, 2008. Eds: Costin Cepisca, Guennadi A. Kouzaev, Nikos E. Mastorakis. [B.m.] : WSEAS Press, 2008, s. 281-286, bibliogr. 9 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


66/183
Nr opisu: 0000043102
Tytuł oryginału: Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 122-125, bibliogr. 11 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; testowanie ; globalne uszkodzenie parametryczne ; diagnostyka uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: analog integrated circuit ; testing ; global parametric fault ; fault diagnosis
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


67/183
Nr opisu: 0000038044
Tytuł oryginału: Heuristic methods to test frequencies optimization for analogue circuits diagnosis
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2008 vol. 56 no. 1, s. 29-38, bibliogr. 20 poz.
p-ISSN: 0239-7528
e-ISSN: 0239-7528
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; analogowy układ scalony ; logika rozmyta ; ekspresja genów ; algorytm genetyczny ; wyżarzanie
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; analog integrated circuit ; fuzzy logic ; gene expression ; genetic algorithm ; annealing
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1277
Dostęp on-line:


68/183
Nr opisu: 0000041232
Tytuł oryginału: Impedance matching concepts in RF systems based on TRF7960 example.
Autorzy: P. Kozioł, Damian Grzechca, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: The Seventh International PhD Students' Workshop Control and Information Technology. IWCIT'08, Gliwice, 18-19 September 2008. Silesian University of Technology. Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science. Institute of Electronics. [Gliwice] : [Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2008, s. 72-77, bibliogr. 6 poz.
Uwagi: Toż na CD-ROM
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 122810 + CD


69/183
Nr opisu: 0000049055
Tytuł oryginału: Optimization of PWL analog testing excitation by means of genetic algorithm.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'08, Kraków, Poland, September 14-17, 2008. Proceedings. [Kraków] : [Department of Electronics. AGH University of Science and Technology], 2008, s. 541-544, bibliogr. 15 poz.
Organizator: Department of Electronics. AGH University of Science and Technology [et al.]
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; testowanie układu ; PWL ; algorytm genetyczny ; fenotyp ; genotyp
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; circuit testing ; PWL ; genetic algorithm ; phenotype ; genotype
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


70/183
Nr opisu: 0000051411
Tytuł oryginału: Optymalizacja pobudzenia PWL testuj±cego analogowe układy elektroniczne.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]. Materiały konferencji. T. 2. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008, s. 311-316, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


71/183
Nr opisu: 0000051413
Tytuł oryginału: Poprawa skuteczno¶ci diagnostyki uszkodzeń parametrycznych.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]. Materiały konferencji. T. 2. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008, s. 325-330, bibliogr. 8 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


72/183
Nr opisu: 0000043108
Tytuł oryginału: Poprawa skuteczno¶ci diagnostyki uszkodzeń parametrycznych
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 163-166, bibliogr. 8 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: filtr dolnoprzepustowy ; algorytm genetyczny ; diagnostyka uszkodzeń ; uszkodzenie parametryczne ; transformata falkowa
Słowa kluczowe angielskie: low-pass filter ; genetic algorithm ; fault diagnosis ; parametric fault ; wavelet transform
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


73/183
Nr opisu: 0000038638
Tytuł oryginału: Scenariusze rozwoju technologicznego panelu "Technologie informacyjne i telekomunikacyjne".
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Grzegorz Dziwoki, Zdzisław Filus, B. Gabry¶, Marcin Gorawski, Piotr Kłosowski, Henryk** Małysiak, A. Sambura, L. Tomaszewski, Ryszard* Winiarczyk.
¬ródło: W: Priorytetowe technologie dla zrównoważonego rozwoju województwa ¶l±skiego. Praca zbiorowa. Cz. 3: Branżowe scenariusze rozwoju technologicznego województwa ¶l±skiego. Pod red. Krystyny Czaplickiej-Kolarz, Andrzeja Karbownika. Katowice : Główny Instytut Górnictwa, 2008, s. 154-189
Typ publikacji: U
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


74/183
Nr opisu: 0000049105
Tytuł oryginału: Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analog electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2008, Malta, 31st August - 3rd September 2008. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 242-246, bibliogr. 9 poz.
ISBN: 978-1-4244-2181-7978-1-4244-2182-4
DOI:
Słowa kluczowe polskie: testowanie układu ; obwód elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; ekstrakcja cech ; pomiar czasu ; ocena efektywno¶ci
Słowa kluczowe angielskie: circuit testing ; electronic circuit ; fault diagnosis ; fault location ; feature extraction ; time measurement ; performance evaluation
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


75/183
Nr opisu: 0000084725
Tytuł oryginału: Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
Tytuł w wersji polskiej: Specjalizowane pobudzenie i falkowa ekstrakcja cech w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. ŁódĽ : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2008, s. 511-516, bibliogr. 10 poz.
ISBN: 83-922632-7-8
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie: lokalizacja uszkodzeń ; diagnostyka uszkodzeń ; słownik uszkodzeń ; transformata falkowa ; algorytm genetyczny ; elektronika analogowa
Słowa kluczowe angielskie: fault location ; fault diagnosis ; fault dictionary ; wavelet transform ; genetic algorithm ; analogue electronics
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


76/183
Nr opisu: 0000050691
Tytuł oryginału: Students' attitude to formative web-based assessment.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mo¶cińska, Damian Grzechca.
¬ródło: W: Proceedings of the Seventh IASTED International Conference on Web-Based Education, Innsbruck, Austria, March 17-19, 2008. Ed. V. Uskov. Anaheim : Acta Press, 2008, s. 139-144
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


77/183
Nr opisu: 0000048020
Tytuł oryginału: The influence of global parametric faults on analogue electronic circuits time domain response features.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 299-303, bibliogr. 8 poz.
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; analiza w dziedzinie czasu ; diagnostyka błędów
Słowa kluczowe angielskie: analog integrated circuit ; time domain analysis ; fault diagnosis
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


78/183
Nr opisu: 0000049104
Tytuł oryginału: The use of variable load for RF circuit testing.
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'08, Kraków, Poland, September 14-17, 2008. Proceedings. [Kraków] : [Department of Electronics. AGH University of Science and Technology], 2008, s. 557-560, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Department of Electronics. AGH University of Science and Technology [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


79/183
Nr opisu: 0000050684
Tytuł oryginału: Use of artificial intelligence techniques to fault diagnosis in analog systems.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
¬ródło: W: New aspects on computing research. Proceedings of the 2nd European Computing Conference (ECC'08), Malta, September 11-13, 2008. Eds: Costin Cepisca, Guennadi A. Kouzaev, Nikos E. Mastorakis. [B.m.] : WSEAS Press, 2008, s. 267-274, bibliogr. 58 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


80/183
Nr opisu: 0000084727
Tytuł oryginału: Wavelet transform improves fault location in analog electronic circuits.
Tytuł w wersji polskiej: Zastosowanie transformaty falkowej w celu poprawy lokalizacji uszkodzeń analogowych układów elektronicznych
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 1st International Interdisciplinary Technical Conference of Young Scientists. INTERTECH 2008, Poznań, Poland, April 17-18, 2008. Proceedings. Ed. by P. Rydlichowski, A. Kliks, P. Sroka. Uczelniany Samorz±d Doktorantów Politechniki Poznańskiej. Poznań : Uczelniany Samorz±d Doktorantów Politechniki Poznańskiej, 2008, s. 92-96, bibliogr. 9 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


81/183
Nr opisu: 0000041678
Tytuł oryginału: A common-sense based approach to the automated test-point selection in fault diagnosis.
Autorzy: Andrzej Pułka, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2007, Sevilla, Spain, 26-30 August 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 838-841, bibliogr. 18 poz.
Organizator: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


82/183
Nr opisu: 0000031904
Tytuł oryginału: Analogue electronic circuits yield optimization with the use of evolutionary algorithms.
Autorzy: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Workshop Control and Information Technology. IWCIT 2007, Ostrava, September 6th-7th, 2007. Ed. by V. Srovnal, Z. Slanina. VSB - Technical University of Ostrava. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. Department of Measurement and Control. Czech Republic, Institute of Electronics. Silesian Technical University. Gliwice. Poland. Ostrava : Vysoka Skola Banska - Technicka Univerzita, 2007, s. 245-250, bibliogr. 8 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


83/183
Nr opisu: 0000031903
Tytuł oryginału: Enhancing fault diagnosis efficiency of analog electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Workshop Control and Information Technology. IWCIT 2007, Ostrava, September 6th-7th, 2007. Ed. by V. Srovnal, Z. Slanina. VSB - Technical University of Ostrava. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. Department of Measurement and Control. Czech Republic, Institute of Electronics. Silesian Technical University. Gliwice. Poland. Ostrava : Vysoka Skola Banska - Technicka Univerzita, 2007, s. 241-244, bibliogr. 8 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


84/183
Nr opisu: 0000031632
Tytuł oryginału: Evolutionary system for analog test frequencies selection with fuzzy initialization.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Kraków, Poland, April 11-13, 2007. Eds: P. Girard [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 353-356, bibliogr. 10 poz.
Słowa kluczowe polskie: testowanie analogowe ; niejednoznaczno¶ć zbioru ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; system wbudowany
Słowa kluczowe angielskie: analog testing ; ambiguity set ; evolutionary computations ; fuzzy set ; embedded system
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 118456
Dostęp on-line:


85/183
Nr opisu: 0000032119
Tytuł oryginału: Ewolucyjny dobór częstotliwo¶ci sygnałów testuj±cych z rozmyt± inicjalizacj± systemu.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 72-75, bibliogr. 12 poz.
Seria: (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; optymalna częstotliwo¶ć
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; optimal frequency
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


86/183
Nr opisu: 0000031051
Tytuł oryginału: Ewolucyjny dobór częstotliwo¶ci sygnałów testuj±cych z rozmyt± inicjalizacj± systemu.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 101-106, bibliogr. 12 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka układów analogowych ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; testowanie układu analogowego ; optymalizacja ewolucyjna
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit diagnosis ; evolutionary computation ; fuzzy set ; analogue circuit testing ; evolutionary optimization ; evolutionary computations
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 119357


87/183
Nr opisu: 0000031902
Tytuł oryginału: Finding an optimal frequency set for purpose of analog circuits' fault diagnosis.
Autorzy: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Workshop Control and Information Technology. IWCIT 2007, Ostrava, September 6th-7th, 2007. Ed. by V. Srovnal, Z. Slanina. VSB - Technical University of Ostrava. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. Department of Measurement and Control. Czech Republic, Institute of Electronics. Silesian Technical University. Gliwice. Poland. Ostrava : Vysoka Skola Banska - Technicka Univerzita, 2007, s. 209-214, bibliogr. 6 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


88/183
Nr opisu: 0000031567
Tytuł oryginału: Finding of optimal excitation signal for testing of analog electric circuits
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2007 vol. 55 no. 3, s. 273-280, bibliogr. 5 poz.
p-ISSN: 0239-7528
e-ISSN: 0239-7528
Słowa kluczowe polskie: wykrywanie uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ elektroniczny ; transformata falkowa ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: fault detection ; fault location ; fault diagnosis ; analog electronic circuit ; wavelet transform ; genetic algorithm
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1277
Dostęp on-line:


89/183
Nr opisu: 0000031891
Tytuł oryginału: Gene expression programming-based method of optimal frequency set determination for purpose of analogue circuits' diagnosis.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Computer recognition systems 2. Eds: M. Kurzynski [et al.]. Berlin : Springer-Verlag, 2007, s. 794-801, bibliogr. 5 poz.
Seria: (Advances in Soft Computing ; vol. 45 1615-3871)
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


90/183
Nr opisu: 0000039010
Tytuł oryginału: Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection
Autorzy: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -IEEE Trans. Circuits Syst., II 2007 vol. 54 iss. 2, s. 117-121, bibliogr. 21 poz.
Impact Factor: 1.104
p-ISSN: 1549-7747
e-ISSN: 1558-3791
Słowa kluczowe polskie: układ antenowy ; analogowy system testowania ; testowalno¶ć ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; analog system testing ; design for testability ; genetic algorithm
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


91/183
Nr opisu: 0000031908
Tytuł oryginału: Optimal excitation in fault diagnosis of analog electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [ŁódĽ] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 523-528, bibliogr. 4 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; słownik uszkodzeń ; transformata falkowa
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; fault diagnosis ; fault dictionary ; wavelet transform
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


92/183
Nr opisu: 0000031052
Tytuł oryginału: Optymalizacja uzysku analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 125-130, bibliogr. 8 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: optymalizacja uzysku ; analogowy układ elektroniczny ; koszt produkcji ; algorytm genetyczny ; strategia ewolucyjna
Słowa kluczowe angielskie: yield optimization ; analog electronic circuit ; production cost ; genetic algorithm ; evolutionary strategy
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 119357


93/183
Nr opisu: 0000039873
Tytuł oryginału: Simulated annealing with fuzzy fitness function for test frequencies selection.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2007 IEEE International Fuzzy Systems Conference. FUZZ-IEEE 2007, London, UK, July 23-26, 2007. [Dokument elektroniczny]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-6, bibliogr. 8 poz.
Słowa kluczowe polskie: testowanie układu ; diagnostyka uszkodzeń ; teoria zbiorów rozmytych ; symulowane wyżarzanie
Słowa kluczowe angielskie: circuit testing ; fault diagnosis ; fuzzy set theory ; simulated annealing
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


94/183
Nr opisu: 0000039872
Tytuł oryginału: The use of simulated annealing with fuzzy objective function to optimal frequency selection for analog circuit diagnosis.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2007, Marrakech, Morocco, December 11-14, 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 899-902, bibliogr. 9 poz.
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; niezawodno¶ć obwodu ; diagnostyka uszkodzeń ; teoria zbiorów rozmytych
Słowa kluczowe angielskie: analogue circuit ; circuit reliability ; fault diagnosis ; fuzzy set theory
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


95/183
Nr opisu: 0000032124
Tytuł oryginału: Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testuj±cego analogowe układy elektroniczne.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 121-124, bibliogr. 5 poz.
Seria: (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie: wyżarzanie symulowane ; analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie: simulated annealing ; analog electronic circuit
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


96/183
Nr opisu: 0000032117
Tytuł oryginału: Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 37-39, bibliogr. 13 poz.
Seria: (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; klasyfikator neuronowy ; sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; neural classifier ; neural network
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


97/183
Nr opisu: 0000031023
Tytuł oryginału: Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 71-76, bibliogr. 13 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; klasyfikator neuronowy ; RBF ; sieć neuronowa ; słownik uszkodzeń ; metoda BKS ; modularna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronic circuit ; analog circuit diagnosis ; neural classifier ; RBF ; neural network ; dictionary of damages ; BKS method ; analog electronic circuit ; modular neural network ; dictionary of faults
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 119357


98/183
Nr opisu: 0000031165
Tytuł oryginału: Analog fault AC dictionary creation - the fuzzy set approach.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 5744-5747, bibliogr. 4 poz.
ISBN: 0-7803-9389-9
DOI:
Słowa kluczowe polskie: testowanie układu ; słownik ; sprzęt elektroniczny ; częstotliwo¶ć ; teoria zbiorów rozmytych ; wytwarzanie ; macierz rzadka
Słowa kluczowe angielskie: circuit testing ; dictionary ; electronic equipment ; frequency ; fuzzy set theory ; manufacturing
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


99/183
Nr opisu: 0000031164
Tytuł oryginału: Application of genetic programming to edge detector design.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 4683-4686, bibliogr. 7 poz.
ISBN: 0-7803-9389-9
DOI:
Słowa kluczowe polskie: pomiar pr±du ; detektor ; programowanie genetyczne ; przetwarzanie obrazu ; piksel ; układ logiki programowalnej ; proces stochastyczny ; transmitancja operatorowa
Słowa kluczowe angielskie: current measurement ; detector ; genetic programming ; image processing ; pixel ; programmable logic device ; stochastic process ; transfer function
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


100/183
Nr opisu: 0000023359
Tytuł oryginału: Circuit theory.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 2006
Opis fizyczny: , 327 s., bibliogr. 15 poz.
Słowa kluczowe polskie: obwód elektryczny ; elektrotechnika
Słowa kluczowe angielskie: electric circuit ; electrotechnics
Typ publikacji: P
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


101/183
Nr opisu: 0000024711
Tytuł oryginału: Design centering and tolerancing with utilization of evolutionary techniques.
Autorzy: Ł. Zieliński, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Applied soft computing technologies. The challenge of complexity. Berlin : Springer, 2006, s. 91-98, bibliogr. 15 poz.
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


102/183
Nr opisu: 0000031532
Tytuł oryginału: Development and evaluation of computer assisted exam.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mo¶cińska, Łukasz Chruszczyk.
¬ródło: W: Proceedings of the Ninth IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education, Lima, Peru, October 4-6, 2006. Ed. V. Uskov. Anaheim : Acta Press, 2006, s. 333-338
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


103/183
Nr opisu: 0000031738
Tytuł oryginału: Diagnostyka analogowych filtrów aktywnych z wykorzystaniem sieci neuronowych o radialnych funkcjach bazowych.
Autorzy: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Pi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006, s. 51-56, bibliogr. 10 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


104/183
Nr opisu: 0000031754
Tytuł oryginału: Dobór optymalnego pobudzenia testuj±cego do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
¬ródło: W: Pi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006, s. 123-128, bibliogr. 4 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


105/183
Nr opisu: 0000031163
Tytuł oryginału: Evolutionary method for test frequencies selection based on entropy index an ambiguity sets.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'06, ŁódĽ, Poland, September 17-20, 2006. Conference proceedings. Institute of Circuit Theory, Metrology and Materials Science of the Technical Unifersity of ŁódĽ, Poland [et al.]. [ŁódĽ] : [Instytut Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa Politechniki Łódzkiej], [2006], s. 511-514
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


106/183
Nr opisu: 0000031753
Tytuł oryginału: Ewolucyjny detektor krawędzi.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Pi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006, s. 105-110, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


107/183
Nr opisu: 0000021399
Tytuł oryginału: Fault diagnosis of analog electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: The Fifth International Workshop Control and Information Technology. IWCIT'06, Gliwice, 21-22 September 2006. Silesian University of Technology. Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science. Institute of Electronics. [B.m.] : [b.w.], [2006], s. 58-64, bibliogr. 4 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. MgCzO 116483


108/183
Nr opisu: 0000032826
Tytuł oryginału: Finding of optimal excitation signal for testing of analog electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'06, ŁódĽ, Poland, September 17-20, 2006. Conference proceedings. Institute of Circuit Theory, Metrology and Materials Science of the Technical Unifersity of ŁódĽ, Poland [et al.]. [ŁódĽ] : [Instytut Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa Politechniki Łódzkiej], [2006], s. 613-616
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


109/183
Nr opisu: 0000023913
Tytuł oryginału: Kodowanie z korekcj± błędów w systemach transmisyjnych z modulacj± wielotonow±. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Marcin Kucharczyk.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2006
Opis fizyczny: , 115 s., bibliogr. 120 poz.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: prof. dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
Słowa kluczowe polskie: modulacja wielotonowa ; modulacja OFDM ; kod korekcji błędów ; LDPC ; detekcja ; kodowanie
Słowa kluczowe angielskie: multitone modulation ; OFDM modulation ; error correction code ; LDPC ; detection ; coding
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-4215
Dostęp BCP¦:


110/183
Nr opisu: 0000018175
Tytuł oryginału: Kody LDPC - konkurencja dla turbokodów
Autorzy: Jacek Izydorczyk, Marcin Kucharczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Prz. Telekom. 2006 R. 79 nr 2/3, s. 65-72, bibliogr. 26 poz.
p-ISSN: 0033-2399
Słowa kluczowe polskie: kod LDPC ; kod blokowy ; dekodowanie
Słowa kluczowe angielskie: LDPC code ; block code ; decoding
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.704
Dostęp on-line:


111/183
Nr opisu: 0000031746
Tytuł oryginału: Konstrukcja rozmytego słownika uszkodzeń z wykorzystaniem rzadko¶ci macierzy wrażliwo¶ci do testowania w dziedzinie częstotliwo¶ci.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Pi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006, s. 87-92, bibliogr. 4 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


112/183
Nr opisu: 0000020977
Tytuł oryginału: Theory of information and coding.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 2006
Opis fizyczny: , 105 s., bibliogr. 17 poz.
Typ publikacji: P
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


113/183
Nr opisu: 0000032349
Tytuł oryginału: Use of genetic algorithm to optimum test frequency selection.
Autorzy: B. Puchalski, Ł. Zieliński, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Applications of soft computing. Recent trends. Eds: A. Tiwari [et al.]. Berlin : Springer-Verlag, 2006, s. 283-290
Seria: (Advances in Soft Computing ; vol. 36 1615-3871)
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


114/183
Nr opisu: 0000031524
Tytuł oryginału: Use of granular method to design centering.
Autorzy: B. Puchalski, Ł. Zieliński, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 3986-3989, bibliogr. 9 poz.
ISBN: 0-7803-9389-9
DOI:
Słowa kluczowe polskie: metodologia projektowania ; system immunologiczny ; metoda Monte Carlo ; metoda optymalizacyjna ; produkcja ; analiza statystyczna
Słowa kluczowe angielskie: design methodology ; immune system ; Monte Carlo method ; optimization method ; production ; statistical analysis
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


115/183
Nr opisu: 0000021402
Tytuł oryginału: Use of modular neural networks to fault diagnosis in analog active filters.
Autorzy: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: The Fifth International Workshop Control and Information Technology. IWCIT'06, Gliwice, 21-22 September 2006. Silesian University of Technology. Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science. Institute of Electronics. [B.m.] : [b.w.], [2006], s. 80-85, bibliogr. 10 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. MgCzO 116483


116/183
Nr opisu: 0000017970
Tytuł oryginału: Use of the Multi Layer Perceptron to analog fault functional test creation.
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Proceedings of IFAC Workshop on Programmable Devices and Embedded Systems. PDeS 2006, Brno, February 14th - 16th, 2006. [Brno] : [Brno University of Technology], [2006], s. 352-355, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Department of Control and Instrumentation. Faculty of Electrical Engineering and Commmunication. Brno University of Technology. Czech Republic [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


117/183
Nr opisu: 0000030230
Tytuł oryginału: Wykorzystanie dekompozycji grafów w projektowaniu układów sekwencyjnych.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Dariusz Kania.
¬ródło: W: Reprogramowalne układy cyfrowe. RUC'2006. IX Konferencja naukowa, Szczecin, 18-19 maja 2006. Warszawa : Agenda Wydaw. PAK, 2006, s. 118-120
Organizator: Wydział Informatyki Politechniki Szczecińskiej
Seria: (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 7 bis wyd. spec. dod. 0032-4140)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


118/183
Nr opisu: 0000031596
Tytuł oryginału: Yield enhancement by means of evolutionary computation techniques.
Autorzy: Ł. Zieliński, B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 4631-4634, bibliogr. 16 poz.
ISBN: 0-7803-9389-9
DOI:
Słowa kluczowe polskie: obwód ; obliczenia ewolucyjne ; wytyczne ; przybliżenie liniowe ; wytwarzanie ; metoda Monte Carlo
Słowa kluczowe angielskie: circuit ; evolutionary computation ; guidelines ; linear approximation ; manufacturing ; Monte Carlo method
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


119/183
Nr opisu: 0000019969
Tytuł oryginału: Applying artificial intelligence techniques to analog fault detection and classification
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Zesz. Nauk. Wydz. ETI PGdań., Technol. Inf. 2005 t. 6, s. 15-24, bibliogr. 48 poz.
p-ISSN: 1732-1166
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


120/183
Nr opisu: 0000016941
Tytuł oryginału: Creation of functional test - the neural network utilization.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Methods of artificial intelligence. AI-METH 2005. [Proceedings of the Symposium on Methods of Artificial Intelligence AI-METH 2005 and the Workshop on Knowledge Acquisition in Mechanical Engineering, Gliwice, Poland, 16-18 November 2005]. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. [Gliwice] : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005, s. 57-58, bibliogr. 5 poz.
ISBN: 83-921605-3-3
Słowa kluczowe polskie: sieć neuronowa ; perceptron wielowarstwowy ; analogowe wykrywanie usterek ; diagnostyka układów analogowych ; wykrywanie błędów
Słowa kluczowe angielskie: neural network ; multilayer perceptron ; analog faults detection ; analog fault diagnosis ; fault detection
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


121/183
Nr opisu: 0000017094
Tytuł oryginału: Creation of functional test - the neural network utilization.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Recent developments in artificial intelligence methods. AI-METH 2005. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. Gliwice : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005, s. 95-98, bibliogr. 8 poz.
ISBN: 83-921605-8-483-921605-4-1
Uwagi: pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: sieć neuronowa ; perceptron wielowarstwowy ; analogowe wykrywanie usterek ; diagnostyka układów analogowych
Słowa kluczowe angielskie: neural network ; multilayer perceptron ; analog faults detection ; analog fault diagnosis
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


122/183
Nr opisu: 0000014671
Tytuł oryginału: Distance learning platform based on moodle open source software.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Piotr Kłosowski, Katarzyna Mo¶cińska.
¬ródło: W: Proceedings of the International Conference on Engineering Education. ICEE'2005. Global education interlink, Gliwice, Poland, July 25-29, 2005. Vol. 1. Eds: Jerzy Mo¶ciński, Marcin Maci±żek. Gliwice : Silesian University of Technology, 2005, s. 767-772, bibliogr. 3 poz.
Uwagi: Toż na CD
Słowa kluczowe polskie: kształcenie na odległo¶ć ; e-learning ; internet ; open source
Słowa kluczowe angielskie: distance learning ; e-learning ; internet ; open source
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 112983, Cz.01 E-35


123/183
Nr opisu: 0000020308
Tytuł oryginału: Fault detection of analog active filters using RBF neural network.
Autorzy: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Workshop Control and Information Technology. IWCIT 2005, Ostrava, Czech Republik, September 15th-16th, 2005. Ostrava : Vysoka Skola Banska - Technicka Univerzita, 2005, s. 309-312
Organizator: VSB - Technical University of Ostrava. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. Department of Measurement and Control. Czech Republic, Institute of Electronics. Silesian Technical University. Gliwice. Poland
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


124/183
Nr opisu: 0000032353
Tytuł oryginału: Optimum test selection for analog circuits with the use of genetic algorithm.
Autorzy: Ł. Zieliński, B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Soft computing. Methodologies and applications. Eds: F. Hoffmann [et al.]. Berlin : Springer-Verlag, 2005, s. 129-136
Seria: (Advances in Soft Computing ; vol. 32 1615-3871)
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


125/183
Nr opisu: 0000015812
Tytuł oryginału: Optymalny dobór częstotliwo¶ci testowych z wykorzystaniem koncepcji kanału informacyjnego.
Autorzy: B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 151-156, bibliogr. 9 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


126/183
Nr opisu: 0000021602
Tytuł oryginału: Redevelopment of a large engineering course from a traditional to blended model - circuit theory example.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mo¶cińska, Piotr Kłosowski.
¬ródło: W: The Fifth IASTED International Conference on Modelling, Simulation and Optimization. [MSO 2005], Oranjestad, Aruba, August 29-31, 2005. Ed. G. Tonella. Anaheim : Acta Press, 2005, s. 300-305
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


127/183
Nr opisu: 0000015807
Tytuł oryginału: Wykorzystanie algorytmu genetycznego do optymalizacji zbioru częstotliwo¶ci testowych.
Autorzy: B. Puchalski, Ł. Zieliński, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 133-138, bibliogr. 9 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


128/183
Nr opisu: 0000015811
Tytuł oryginału: Wykorzystanie klasyfikatora neuronowego w diagnostyce analogowych filtrów aktywnych.
Autorzy: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 139-144, bibliogr. 8 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


129/183
Nr opisu: 0000013764
Tytuł oryginału: Application of genetic algorithms to optimum testing point selection with the use of multiple input stimuli.
Autorzy: Ł. Zieliński, B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'04, Poznań, Poland, 13-15 September 2004. Ed. Maciej Bartkowiak [i in.]. Poznań : Polish Society for Theoretical and Applied Electrical Engineering, 2004, s. 389-392
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


130/183
Nr opisu: 0000013759
Tytuł oryginału: Computer assisted and web-based learning techniques in electronics and telecommunication education process.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mo¶cińska, Piotr Kłosowski.
¬ródło: W: Proceedings of the 7th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education, Kauai-Hawaii 2004. [B.m.] : [b.w.], [2004], s. 60-65
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


131/183
Nr opisu: 0000013765
Tytuł oryginału: Design tolerancing with utilization of gene expression programming and genetic algorithm.
Autorzy: Ł. Zieliński, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'04, Poznań, Poland, 13-15 September 2004. Ed. Maciej Bartkowiak [i in.]. Poznań : Polish Society for Theoretical and Applied Electrical Engineering, 2004, s. 381-384
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


132/183
Nr opisu: 0000011154
Tytuł oryginału: Dictionary approach to fault diagnosis in analog circuits.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Methods of artificial intelligence. AI-METH 2004. [Proceedings of the Symposium on Methods of Artificial Intelligence and the Workshop on Knowledge Acquisition in Mechanical Engineering, Gliwice, Poland, 17-19 November 2004]. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Gliwice : Silesian University of Technology. Department for Strength of Materials and Computational Mechanics. Department of Fundamentals of Machinery Design, 2004, s. 119-120
Organizator: Silesian University of Technology. Department for Strength of Materials and Computational Mechanics. Department of Fundamentals of Machinery Design, Polish Association for Computational Mechanics
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 78347+CD


133/183
Nr opisu: 0000010736
Tytuł oryginału: Dictionary approach to fault diagnosis in analog circuits.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Recent developments in artificial intelligence methods. AI-METH 2004, Gliwice, Poland, November 17-19, 2004. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Silesian University of Technology. Department for Strength of Materials and Computational Mechanics. Department of Fundamentals of Machinery Design, Polish Association for Computational Mechanics. Gliwice : Silesian University of Technology. Department for Strength of Materials and Computational Mechanics. Department of Fundamentals of Machinery Design, 2004, s. 223-228, bibliogr. 47 poz.
ISBN: 83-914632-9-X
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; słownik uszkodzeń ; sztuczna inteligencja
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; fault dictionary ; artificial intelligence
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. MgCzO 78348, Mg 140474


134/183
Nr opisu: 0000011198
Tytuł oryginału: Entropy-based optimum test points selection for analog fault dictionary techniques
Autorzy: J. Starzyk, D. Liu, Z. Liu, D. Nelson, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -IEEE Trans. Instrum. Meas. 2004 vol. 53 iss. 3, s. 754-761, bibliogr. 19 poz.
Impact Factor: 0.446
p-ISSN: 0018-9456
e-ISSN: 1557-9662
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka układów analogowych ; słownik uszkodzeń ; teoria zbiorów przybliżonych ; punkt pomiarowy
Słowa kluczowe angielskie: analog fault diagnosis ; fault dictionary ; rough set theory ; test point
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.3583
Dostęp on-line:


135/183
Nr opisu: 0000013754
Tytuł oryginału: Fault detection in analog circuits with the use of multifrequency fault dictionary.
Autorzy: B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'04, Poznań, Poland, 13-15 September 2004. Ed. Maciej Bartkowiak [i in.]. Poznań : Polish Society for Theoretical and Applied Electrical Engineering, 2004, s. 393-396
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


136/183
Nr opisu: 0000013971
Tytuł oryginału: Optymalny dobór punktów testowych dla analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 157-162, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; testowanie analogowe ; optymalizacja ; kanał informacyjny
Słowa kluczowe angielskie: analogue circuit ; analog testing ; optimisation ; information channel
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


137/183
Nr opisu: 0000013972
Tytuł oryginału: Optymalny dobór punktów testowych z wykorzystaniem algorytmu genetycznego i różnych pobudzeń.
Autorzy: Ł. Zieliński, B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 163-167, bibliogr. 9 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; testowanie ; optymalizacja ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: analogue circuit ; testing ; optimisation ; genetic algorithm
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


138/183
Nr opisu: 0000013962
Tytuł oryginału: Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 13-22, bibliogr.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: testowanie ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie: testing ; fault diagnosis ; analog electronic circuit
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


139/183
Nr opisu: 0000010695
Tytuł oryginału: Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2004 R. 45 nr 12, s. 33-37, bibliogr. 36 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


140/183
Nr opisu: 0000013969
Tytuł oryginału: Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do centrowania układów elektronicznych.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Ł. Zieliński.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 145-150, bibliogr. 11 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: centrowanie ; strategia ewolucyjna ; analogowy układ elektroniczny ; optymalizacja
Słowa kluczowe angielskie: centering ; evolutionary strategy ; analog electronic circuit ; optimisation
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


141/183
Nr opisu: 0000013970
Tytuł oryginału: Zastosowanie ewolucji różnicowej do projektowania odcinkowo-liniowego pobudzenia testuj±cego analogowe układy elektroniczne.
Autorzy: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 151-156, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka układów analogowych ; pobudzenie testuj±ce ; ewolucja różnicowa ; populacja ; genotyp
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit diagnosis ; testing stimuli ; differential evolution ; population ; genotype
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


142/183
Nr opisu: 0000013973
Tytuł oryginału: Zastosowanie teorii zbiorów rozmytych oraz rzadko¶ci macierzy wrażliwo¶ci do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w układach analogowych.
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 169-174, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: teoria zbiorów rozmytych ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; układ analogowy ; wrażliwo¶ć
Słowa kluczowe angielskie: fuzzy set theory ; fault detection ; fault localization ; analogue circuit ; sensitivity
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


143/183
Nr opisu: 0000007705
Tytuł oryginału: Analysis and processing of information contained in DNA microarrays.
Autorzy: R. Szczepaniak, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: The Third International Workshop Control and Information Technology. IWCIT'03, Gliwice, September 22-23, 2003. [Gliwice] : [Instytut Elektroniki. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki ¦l±skiej], [2003], s. 54-60, bibliogr. 6 poz.
ISBN: 83-908409-7-9
Organizator: Silesian University of Technology. Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science. Institute of Electronics
Uwagi: Toż na dysku optycznym (CD-ROM)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 110131 + CD


144/183
Nr opisu: 0000009232
Tytuł oryginału: Application of genetic programming to analog fault decoder design.
Autorzy: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the 16th European Conference on Circuits Theory and Design. ECCTD'03, Cracow, Poland, September 1st-4th, 2003. Vol. 2. Eds: Z. Galias [i in.]. Kraków : Wydaw. Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica, s. II-113-116, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. AGH University of Science and Technology
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


145/183
Nr opisu: 0000009236
Tytuł oryginału: Creation of Analog Fault AC Dictionary based on fuzzy - neural network and output coding.
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the 16th European Conference on Circuits Theory and Design. ECCTD'03, Cracow, Poland, September 1st-4th, 2003. Vol. 2. Eds: Z. Galias [i in.]. Kraków : Wydaw. Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica, s. II-237-240, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. AGH University of Science and Technology
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


146/183
Nr opisu: 0000009181
Tytuł oryginału: Koncepcja konstrukcji rozmyto-neuronowego słownika do lokalizacji uszkodzeń - testowanie w dziedzinie czasu.
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 253-258, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 115183 + CD


147/183
Nr opisu: 0000009233
Tytuł oryginału: Optimum stimuli selection in testing of analog circuits.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, B. Puchalski.
¬ródło: W: Proceedings of the 16th European Conference on Circuits Theory and Design. ECCTD'03, Cracow, Poland, September 1st-4th, 2003. Vol. 2. Eds: Z. Galias [i in.]. Kraków : Wydaw. Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica, s. II-201-204, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. AGH University of Science and Technology
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


148/183
Nr opisu: 0000009180
Tytuł oryginału: Optymalny dobór pobudzeń w testowaniu analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, B. Puchalski.
¬ródło: W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 247-252, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 115183 + CD


149/183
Nr opisu: 0000009179
Tytuł oryginału: Optymalny dobór testów dla układów analogowych z wykorzystaniem algorytmów genetycznych.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, B. Puchalski, Ł. Zieliński.
¬ródło: W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 241-246, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 115183 + CD


150/183
Nr opisu: 0000018460
Tytuł oryginału: Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
Adres wydawniczy: Warszawa : Wydaw. Komunikacji i Ł±czno¶ci, 2003
Opis fizyczny: , 176 s., bibliogr.
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit
Typ publikacji: M
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


151/183
Nr opisu: 0000009178
Tytuł oryginału: Strategia ewolucyjna doboru optymalnego skokowego pobudzenia testuj±cego.
Autorzy: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 235-240, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 115183 + CD


152/183
Nr opisu: 0000032611
Tytuł oryginału: The state of the art of genetic algorithms.
Autorzy: Ł. Zieliński, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: The Third International Workshop Control and Information Technology. IWCIT'03, Gliwice, September 22-23, 2003. [Gliwice] : [Instytut Elektroniki. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki ¦l±skiej], [2003], s. 103-108, bibliogr. 5 poz.
ISBN: 83-908409-7-9
Organizator: Silesian University of Technology. Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science. Institute of Electronics
Uwagi: Toż na dysku optycznym (CD-ROM)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 110131 + CD


153/183
Nr opisu: 0000009238
Tytuł oryginału: Using evolutionary techniques for chosen optimalization problems related to analog circuits design.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Ł. Zieliński.
¬ródło: W: Proceedings of the 16th European Conference on Circuits Theory and Design. ECCTD'03, Cracow, Poland, September 1st-4th, 2003. Vol. 3. Eds: Z. Galias [i in.]. Kraków : Wydaw. Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica, s. III-313-316, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. AGH University of Science and Technology
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,2
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


154/183
Nr opisu: 0000009192
Tytuł oryginału: Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do dekompozycji krawędziowej grafu obwodu.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, Ł. Zieliński.
¬ródło: W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 2. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 659-664, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 115184 + CD


155/183
Nr opisu: 0000013074
Tytuł oryginału: Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do projektowania i diagnozowania analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Tomasz Golonek.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2003
Opis fizyczny: , 98 s., bibliogr. 53 poz.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
Słowa kluczowe polskie: elektronika analogowa ; układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; ewolucyjne techniki obliczeniowe ; programowanie genetyczne
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronics ; electronic system ; analog circuit diagnosis ; evolutionary computational techniques ; genetic programming
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-3706
Dostęp BCP¦:


156/183
Nr opisu: 0000013070
Tytuł oryginału: Wykorzystanie sieci neuronowych i technik rozmytych do testowania analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Damian Grzechca.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2003
Opis fizyczny: , 99 s., bibliogr. 44 poz.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; sieć neuronowa ; teoria zbiorów rozmytych ; testowanie analogowych układów elektronicznych
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; fault diagnosis ; neural network ; fuzzy set theory ; analog circuit fault diagnosis
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-3705
Dostęp BCP¦:


157/183
Nr opisu: 0000002538
Tytuł oryginału: Diagnostyka układów analogowych w oparciu o sieci neuronowe ze zwiększon± informacj± wej¶ciow±.
Autorzy: D. Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - DĽwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 193-198, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, Polskie Towarzystwo Elektroniki Teoretycznej i Stosowanej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


158/183
Nr opisu: 0000002513
Tytuł oryginału: Optymalizacja doboru węzłów testowych z wykorzystaniem algorytmu genetycznego.
Autorzy: T. Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - DĽwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 289-294, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, Polskie Towarzystwo Elektroniki Teoretycznej i Stosowanej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


159/183
Nr opisu: 0000002512
Tytuł oryginału: Wykorzystanie koncepcji kanału informacyjnego do optymalizacji testowania układów analogowych.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski, B. Puchalski.
¬ródło: W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - DĽwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 295-300, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, Polskie Towarzystwo Elektroniki Teoretycznej i Stosowanej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


160/183
Nr opisu: 0000002655
Tytuł oryginału: Use of sensitivity matrix and fuzzy set theory to analog fault detection.
Autorzy: D. Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'2001, ŁódĽ, Poland [18-21 September 2001]. Ed. by P. Strumiłło. ŁódĽ : [CMYK Studio Poligrafii i Reklamy], 2001, s. 349-355, bibliogr. 6 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 107431


161/183
Nr opisu: 0000000726
Tytuł oryginału: Zbiór zadań z teorii informacji i kodowania.
Autorzy: Jan** Chojcan, Jerzy** Rutkowski.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 2001
Opis fizyczny: , 164 s., bibliogr. 32 poz.
Uwagi: Skrypt nr 2265
Typ publikacji: P
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp BCP¦:


162/183
Nr opisu: 0000003093
Tytuł oryginału: Fuzzy rule expert system approach to analog fault diagnosis.
Autorzy: D. Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES '2000, Ustroń, Poland, 17-20 October 2000. [Gliwice] : [Institute of Electronics Silesian University of Technology], [2000], s. 509-514, bibliogr. 4 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 106346


163/183
Nr opisu: 0000003097
Tytuł oryginału: Use of genetic algorithms to analog fault dictionary construction.
Autorzy: T. Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES '2000, Ustroń, Poland, 17-20 October 2000. [Gliwice] : [Institute of Electronics Silesian University of Technology], [2000], s. 503-508, bibliogr. 4 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 106346


164/183
Nr opisu: 0000014335
Tytuł oryginału: Wykorzystanie analizy wrażliwo¶ciowej do diagnostyki analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Jan Machniewski.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 1999
Opis fizyczny: , 100 s., bibliogr. 50 poz.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-3269
Dostęp BCP¦:


165/183
Nr opisu: 0000027016
Tytuł oryginału: Zbiór zadań z teorii informacji i kodowania. Wyd. 5 popr.
Autorzy: Jan** Chojcan, Jerzy** Rutkowski.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 1997
Opis fizyczny: , 168 s., bibliogr. 32 poz.
Seria: (Skrypt ; Politechnika ¦l±ska nr 2018 0434-0825)
Typ publikacji: P
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


166/183
Nr opisu: 0000035183
Tytuł oryginału: Diagnozowalno¶ć praktycznych analogowych układów elektronicznych
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Zesz. Nauk. P¦l., Elektron. 1996 z. 5, s. 147-157, bibliogr. 8 poz.
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4475
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp BCP¦:


167/183
Nr opisu: 0000035189
Tytuł oryginału: Sieci neuronowe - uogólnienie algorytmu uczenia sieci back-propagation, zastosowanie do rozpoznawania linii papilarnych, cyfr i lokalizacji uszkodzeń w nieliniowych obwodach DC
Autorzy: Jan** Chojcan, Katarzyna Mo¶cińska, Jerzy** Rutkowski, Grzegorz* Tyma.
¬ródło: -Zesz. Nauk. P¦l., Elektron. 1996 z. 5, s. 21-35, bibliogr. 15 poz.
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4474
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp BCP¦:


168/183
Nr opisu: 0000088085
Tytuł oryginału: Neural network DC fault dictionary with Hamming coding of outputs.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Circuit theory and electronic networks. XVII National conference, Wrocław, Polanica Zdrój, September 19-21, 1994. Vol. 2. Ed. by Włodzimierz Wolski. Wrocław : Oficyna Wydaw. Politechniki Wrocławskiej, 1994, s. 501-506, bibliogr. 7 poz.
Seria: (Prace Naukowe Instytutu Telekomunikacji i Akustyki Politechniki Wrocławskiej ; nr 79 Seria: Konferencje ; nr 25 0324-9344)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.3967


169/183
Nr opisu: 0000044631
Tytuł oryginału: Two stage neural network DC fault dictionary.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the 1994 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, London. Pt 6. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1994, s. 299-302, bibliogr. 5 poz.
Seria: (Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems ; vol. 6)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


170/183
Nr opisu: 0000046851
Tytuł oryginału: A dc approach for analog fault dictionary determination.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Circuit theory and design 93. Proceedings of the 11th European Conference on Circuit Theory and Design - ECCTD'93, Davos, Switzerland, August 30 - September 3, 1993. Pt 2. Ed. by H. Dedieu. Amsterdam : Elsevier, 1993, s. 877-880, bibliogr. 4 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


171/183
Nr opisu: 0000088364
Tytuł oryginału: A neural network analog fault dictionary.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Circuit theory and electronic circuits. Proceedings of the XVI-th national conference, Kołobrzeg, October 26-28, 1993. Vol. 2. Institute of Electronics. Technical University of Koszalin. Koszalin : Institute of Electronics. Technical University of Koszalin, 1993, s. 600-604, bibliogr. 5 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


172/183
Nr opisu: 0000046852
Tytuł oryginału: Decomposition approach to analog fault location.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Circuit theory and design 93. Proceedings of the 11th European Conference on Circuit Theory and Design - ECCTD'93, Davos, Switzerland, August 30 - September 3, 1993. Pt 2. Ed. by H. Dedieu. Amsterdam : Elsevier, 1993, s. 881-884, bibliogr. 6 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


173/183
Nr opisu: 0000057661
Tytuł oryginału: A DC fault dictionary approach to analog fault diagnosis.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Circuit theory and electronic circuits. Proceedings of the XV-th national conference, Szczyrk, October 20-23, 1992. Vol. 1. Institute of Electronics Fundamentals Warsaw University of Technology. Warszawa : Warsaw University of Technology Publications, 1992, s. 151-156, bibliogr. 4 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Mg 99181


174/183
Nr opisu: 0000057658
Tytuł oryginału: Diagnosability of practical analog networks.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Circuit theory and electronic circuits. Proceedings of the XV-th national conference, Szczyrk, October 20-23, 1992. Vol. 1. Institute of Electronics Fundamentals Warsaw University of Technology. Warszawa : Warsaw University of Technology Publications, 1992, 157-162, bibliogr. 7 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Mg 99181


175/183
Nr opisu: 0000053262
Tytuł oryginału: Identyfikacja uszkodzeń w analogowych układach elektronicznych.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Problemy współczesnej elektroniki, Gliwice 1992. Materiały jubileuszowej sesji naukowej zorganizowanej z okazji nadania tytułu doktora h.c. Politechniki ¦l±skiej i 80-lecia urodzin prof. dr inż. Tadeusza Zagajewskiego. Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Instytut Elektroniki. [B.m.] : [b.w.], 1992, s. 31-44, bibliogr. 11 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. MgCzO 144466


176/183
Nr opisu: 0000053899
Tytuł oryginału: Diagnostyka dużych analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem metod topologicznych.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 1991
Opis fizyczny: , 127 s., bibliogr. 134 poz.
Seria: (Zeszyty Naukowe ; Politechnika ¦l±ska nr 1121 Automatyka ; z. 105)
Typ publikacji: P
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.3341
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp BCP¦:


177/183
Nr opisu: 0000088374
Tytuł oryginału: Neural network approach to fault location in nonlinear DC circuits.
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Circuit theory and electronic circuits. XIV national conference, Waplewo, 23-25.10.1991. Vol. 2. Institute of Electronics Fundamentals. Warsaw University of Technology. [B.m.] : [b.w.], 1991, s. 568-573, bibliogr. 4 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


178/183
Nr opisu: 0000053486
Tytuł oryginału: Podstawy techniki systemów telewizji kablowej
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronizacja 1991 nr 6, s. 15-16
p-ISSN: 0138-0826
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4265


179/183
Nr opisu: 0000053481
Tytuł oryginału: Zamierzenia rozwoju telewizji kablowej w Polsce
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronizacja 1991 nr 7, s.12-13, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 0138-0826
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4265


180/183
Nr opisu: 0000060337
Tytuł oryginału: Zbiór zadań z teorii informacji i kodowania. Wyd. 3 uzup.
Autorzy: Jan** Chojcan, Jerzy** Rutkowski.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 1990
Opis fizyczny: , 171 s., bibliogr. 15 poz.
Seria: (Skrypty Uczelniane ; Politechnika ¦l±ska im. W. Pstrowskiego nr 1501 0434-0825)
Typ publikacji: P
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


181/183
Nr opisu: 0000060616
Tytuł oryginału: Kompatybilno¶ć elektromagnetyczna [Sprawozdanie z sympozjum zorganizowanego w dniach 7-9 marca 1989 r. w Zurychu]
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Wiad. Telekom. 1989 R. 29 nr 11/12, s. 56, 3-4 s. okl.
p-ISSN: 0043-5198
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P. 704


182/183
Nr opisu: 0000060617
Tytuł oryginału: Wprowadzanie sieci cyfrowych z integracj± usług (ISDN) do publicznych sieci telekomunikacyjnych
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Wiad. Telekom. 1989 R. 29 nr 4, s. 4-6
p-ISSN: 0043-5198
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.704


183/183
Nr opisu: 0000060618
Tytuł oryginału: Współpraca międzynarodowa w dziedzinie telekomunikacji w ramach UIT
Autorzy: Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Wiad. Telekom. 1989 R. 29 nr 10, s. 15-18
p-ISSN: 0043-5198
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.704


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie